一种基于少层二维材料的可宽谱段工作的共线型超短脉冲测量装置和测量方法制造方法及图纸

一种基于少层二维材料的可宽谱段工作的共线型超短脉冲测量装置和测量方法。装置包括：待测脉冲光经过第一分束镜分成两路，经过反射镜和可控延时反射后到达第二分束镜处反射，通过第一聚焦透镜7垂直聚焦到非线性二维材料8上，反射后经相同的第一聚焦透镜后，产生的自相关光学二倍频信号光与其余的光信号具有分离的空间分布特性，利用短波通滤光片可分离出自相关光学二倍频信号光。记录不同时延下的自相关光学二倍频信号光光谱信息，经过FROG算法进行一定的迭代计算后，可还原出待测脉冲完整的信息。通过本发明专利技术能避免现有技术对不同的入射波长需要调节不同的入射角度的问题，可对宽波段的超快脉冲进行测量，同时也避免了现有技术中非线性材料厚度导致的脉冲展宽，实现了更精准的超短脉冲测量。

【技术实现步骤摘要】
一种基于少层二维材料的可宽谱段工作的共线型超短脉冲测量装置和测量方法
本专利技术涉及激光脉冲测量
，特别是涉及一种基于少层二维材料的可宽谱段工作的共线型超短脉冲测量装置和测量方法。
技术介绍
由于超短脉冲极高的光强和极短的脉宽，因此被广泛的用于科研领域以及精密加工领域。而超短脉冲技术的进步与脉冲测量技术的发展是分不开的，由于超短脉冲激光的时空分布对超短脉冲激光的应用也有重大的影响，在一些应用中我们必须精确知道脉冲激光在产生、传输和变换过程中的时空特性，才能揭示其物理机制，建立起合理的理论模型。越来越多的研究表明，分析研究脉冲激光如皮秒或飞秒脉冲的精细结构是许多研究工作的关键。因此研究测量的超短激光脉冲新技术，了解脉冲宽度、相位及形状信息，是超快技术研究中十分重要的内容。由于超短脉冲的脉冲宽度极短，普通的电子类器件反应速度相对较慢，通常无法直接测量超短脉冲的特性参数。而目前超短激光脉冲的测量主要采用频率分辨光学开关法(FROG)。频率分辨光学开关法是一种用于测量超短激光脉冲的通用方法，其主要思想是通过测量脉冲的“自谱图”(即本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于二维材料的超宽带超短脉冲测量装置和测量方法，其特征在于，包括：第一准直光阑(1)、第二准直光阑(2)、第一分束镜(3)、反射镜(4)、可控延时反射镜(5)、第二分束镜(6)、第一聚焦透镜(7)、非线性二维材料(8)、第二聚焦透镜(9)、短波通滤光片(10)、光谱仪(11)、计算机(12)；待测光脉冲经过第一准直光阑(1)和第一准直光阑(2)后，经第一分束镜(3)分成两路：一路光经反射镜(4)后、再次经过第一分束镜(3)的反射和第二分束镜(6)的反射，通过第一聚焦透镜(7)聚焦到非线性二维材料(8)上；类似地，另一路光经过可控延时反射镜(5)后，通过第一分束镜(3)，在第二分束镜(6...

【技术特征摘要】
1.一种基于二维材料的超宽带超短脉冲测量装置和测量方法，其特征在于，包括：第一准直光阑(1)、第二准直光阑(2)、第一分束镜(3)、反射镜(4)、可控延时反射镜(5)、第二分束镜(6)、第一聚焦透镜(7)、非线性二维材料(8)、第二聚焦透镜(9)、短波通滤光片(10)、光谱仪(11)、计算机(12)；待测光脉冲经过第一准直光阑(1)和第一准直光阑(2)后，经第一分束镜(3)分成两路：一路光经反射镜(4)后、再次经过第一分束镜(3)的反射和第二分束镜(6)的反射，通过第一聚焦透镜(7)聚焦到非线性二维材料(8)上；类似地，另一路光经过可控延时反射镜(5)后，通过第一分束镜(3)，在第二分束镜(6)处反射，通过第一聚焦透镜(7)以共线方式聚焦到非线性二维材料(8)的相同位置上；两路光聚焦到非线性二维材料(8)后，当两路光脉冲重叠时，在竖直方向产生自相关倍频信号，经过第一聚焦透镜(7)、分束镜(6)、短波通滤光片(10)和第二聚焦透镜(9)，光谱仪(11)收集自相关倍频信号的光谱信息。


2.根据权利要求1所述的基于二维材料的超宽带超短脉冲测量装置，其特征在于：测量装置使用反射镜，待测脉冲激光经过测量装置后，两路光以共线方式聚焦到非线性二维材料(8)，自相关倍频光信号在竖直方向上产生。


3.根据权利要求1所述的基于二维材料的超宽带超短脉冲测量装置，其特征在于：短波通滤光片(10)起滤波器的作用，只通过竖直方向上的自相关倍频光信号。


4.根据权利要求1所述的基于二维材料的超宽带超短脉冲测量装置，其特征在于：...

【专利技术属性】
技术研发人员：虞华康，王春华，
申请(专利权)人：华南理工大学，
类型：发明
国别省市：广东;44