直接投射式光电挠度位移测量装置制造方法及图纸

直接投射式光电挠度位移测量装置，包括光发射源、光接收器两部分，光接收器为组合结构，由光电接收靶与硬件处理电路组成并设置在同一壳体内由信号线连接成一体；光电接收靶由接收屏、近场透镜、光电阵列探测器组成；硬件处理电路采用数字芯片的模块化结构电路板。它具有结构简单、成本低、不受距离和灰尘的影响等优点。（*该技术在2011年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及桥梁等建筑结构和大型机械结构在自重或载荷作用下发生挠曲等变形的测量装置，具体涉及一种直接投射式光电挠度位移测量装置。桥梁等建筑结构在自重、荷载作用下的垂向与横向变形(即挠度与位移)，能直接反映结构的施工质量、承载能力、健康情况，因而在桥梁的设计、施工质量控制、竣工验收、剩余寿命评估等各环节中，对其挠度等变形、位移参数等有严格的规定。故在桥梁等建筑结构施工过程、竣工验收、服役期，都要对其挠度(位移)等变形参数进行监测。目前比较常用的挠度监测方法有机械测量法与光电测量法，且基本上是人工现场操作仪器进行测量。而由于光电测量法是非接触测量，故得到较快的发展，它主要有基于成像原理与基于光射线原理的两大类。图2所示是基于成像原理的一种最为典型的光电测量法。它将一发光靶标10固定在桥面某被测点11上，在桥墩或桥外地面某处固定光电摄像系统12，并通过摄像机的成像透镜13将发光靶标成像在其光电阵列探测器14上的x2点。当桥面由于承载变化产生挠度变化d时，发光靶标将随桥面的挠度变化d移动到位置15，相应地其在光电阵列探测器14上的成像位置亦移动到x1，用摄像机摄下靶标变化前后的两幅图像，本文档来自技高网...

【技术保护点】
直接投射式光电挠度位移测量装置，包括光发射源（１）、光接收器两部分；光接收器为组合结构，由光电接收靶（２）与硬件处理电路（３）组成，并设置在同一壳体内由信号线连接成一体，其特征在于：光电接收靶（２）由接收屏（５）、近场透镜（６）、光电阵列探测器组合（７）组成；接收屏（５）、近场透镜（６）、光电阵列探测器（７）及硬件处理电路（３）依顺序平行排列，安装在壳体内同一基座上；硬件处理电路（３）采用数字芯片的模块化结构电路板。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：朱永，陈伟民，黄尚廉，符欲梅，
申请(专利权)人：重庆大学，
类型：实用新型
国别省市：85[中国|重庆]