一种轨迹曲面的在机测量方法及精加工方法技术

本发明专利技术涉及一种轨迹曲面的在机测量方法及精加工方法，采用连续轨迹坐标磨床对零件的轨迹曲面进行测量，包括以下步骤：A1、在行星运动主轴上固定安装一个测量表，所述测量表包括百分表、千分表或万分表，校正所述测量表位置，将其表针球面用于与轨迹曲面接触的测量点位于轨迹运动主轴回转中心与砂轮回转中心的连线上，并位于砂轮的磨削点位置处；将零件在连续轨迹坐标磨床上定位校正好，使测量表的测量点与零件的轨迹曲面接触；A2、利用连续轨迹坐标磨床的法线跟踪功能运行程序，控制轨迹运动主轴运动，带动测量表绕轨迹曲面轮廓一周，根据测量表读数确定轨迹曲面实际轮廓与理论轮廓的误差值。

A method of on machine measurement and finish machining of track surface

【技术实现步骤摘要】
一种轨迹曲面的在机测量方法及精加工方法
本专利技术涉及测量
，具体涉及一种轨迹曲面的在机测量方法及精加工方法。
技术介绍
运用于超高速重载领域的槽轮、凸轮等运动控制零件，其运动控制面是根据运动控制要求设计的复杂曲面，称为轨迹曲面。对于含有多种内凹特征的轨迹曲面，其不同内凹处曲率半径不同，经热处理后，多内凹不规则轮廓因厚度不均，热处理变形大且变形量不均匀。轨迹面磨削加工时，砂轮和工件的接触区域随着内凹曲面的曲率半径变化而变化，磨削力方向变化频繁，内凹特征的磨削状态变化较大，磨削精度不能完全依靠机床和程序精度保证，必须通过轮廓测量来保证。目前精密在机测量方法以杠杆表、红宝石探头、光栅等为主，其测量功能由光-机-电系统实现，依靠控制系统程序的支持，实施成本很高，而且主要以孔、面为主，难以测量曲面轮廓。其他非接触测量方法则无法达到微米级测量精度，也存在系统复杂，实施成本高的问题。轨迹曲面轮廓传统热后精加工方法是：磨削采用连续轨迹坐标磨床，轨迹面轮廓测量采用三坐标测量机，轨迹曲面无法在机床上直接测量。磨削轨迹面时通过找正定位孔圆心和本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种轨迹曲面的在机测量方法，采用连续轨迹坐标磨床对零件的轨迹曲面(6)进行测量，所述连续轨迹坐标磨床包括轨迹运动主轴(1)、连接在轨迹运动主轴(1)下的行星运动主轴(2)、以及连接在行星运动主轴(2)下的砂轮(3)，其特征在于：所述在机测量方法包括以下步骤：/nA1、在行星运动主轴(2)上固定安装一个测量表(4)，所述测量表(4)包括百分表、千分表或万分表，校正所述测量表(4)位置，将其表针球面(41)用于与轨迹曲面(6)接触的测量点(42)位于轨迹运动主轴回转中心(11)与砂轮回转中心(31)的连线上，并位于砂轮(3)的磨削点(32)位置处；将零件在连续轨迹坐标磨床上定位校正好，使测量表...

【技术特征摘要】
1.一种轨迹曲面的在机测量方法，采用连续轨迹坐标磨床对零件的轨迹曲面(6)进行测量，所述连续轨迹坐标磨床包括轨迹运动主轴(1)、连接在轨迹运动主轴(1)下的行星运动主轴(2)、以及连接在行星运动主轴(2)下的砂轮(3)，其特征在于：所述在机测量方法包括以下步骤：
A1、在行星运动主轴(2)上固定安装一个测量表(4)，所述测量表(4)包括百分表、千分表或万分表，校正所述测量表(4)位置，将其表针球面(41)用于与轨迹曲面(6)接触的测量点(42)位于轨迹运动主轴回转中心(11)与砂轮回转中心(31)的连线上，并位于砂轮(3)的磨削点(32)位置处；将零件在连续轨迹坐标磨床上定位校正好，使测量表(4)的测量点(42)与零件的轨迹曲面(6)接触；
A2、利用连续轨迹坐标磨床的法线跟踪功能运行程序，控制轨迹运动主轴(1)运动，带动测量表(4)绕轨迹曲面(6)轮廓一周，根据测量表(4)读数确定轨迹曲面(6)实际轮廓与理论轮廓的误差值。


2.根据权利要求1所述的在机测量方法，其特征在于：所述测量表(4)为杠杆式的。


3.根据权利要求1所述的在机测量方法，其特征在于：所述测量表(4)通过表架(5)连接在行星运动主轴(2)上。


4.根据权利要求1所述的在机测量方法，其特征在于：所述步骤A1中，所述测量点(42)位于砂轮(3)的磨削点(32)正...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹磊，陆琦华，毛荣魁，朱怡珺，吴炜，姜伟，李晓，李姚，孙元坤，
申请(专利权)人：上海烟草机械有限责任公司，
类型：发明
国别省市：上海;31