光谱分析仪制造技术

技术编号:2615101 阅读:265 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术是关于光谱分析仪,该装置由太赫兹发射体(1)及依次安装于后的进光狭缝(2)、反光镜A(3)、透射镜B(4)、石英棱镜(5)、反光镜C(6)、透射镜D(7)、出光狭缝(8)、比色槽(9)、太赫兹探测器(10)、放大器(11)、计算机处理及结果显示器(12)。太赫兹发射体(1)的后面依次安装有进光狭缝(2)、反光镜A(3)、透射镜B(4)、石英棱镜(5)、反光镜C(6)、透射镜D(7)、出光狭缝(8)、比色槽(9)、太赫兹探测器(10)、放大器(11)、计算机处理及结果显示器(12)组成,太赫兹光几乎能对所有化合物起激发作用产生太赫兹吸收光谱,并且可以在一个试样中同时测定多种组份而不必事先进行分离。(*该技术在2015年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术是关于光谱分析仪
技术介绍
在现有光谱分析技术中,组分的定性鉴别和定量分析,局限于传统光波只能对物质分子中处于不稳定能级的价电子和较稳定的不饱和健的π电子、孤对电子的化合物起激发作用产生光谱,因此,测定物质的范围受到限制。
技术实现思路
本技术的任务是提供一种几乎能对所有化合物起激发作用产生吸收光谱,工作波段在200~1100nm范围内,可测定物质在紫外区、可见光区、红外区、太赫兹光区的吸收光谱,并且可以在一个试样中同时测定多种组份而不必事先进行分离的测定物质范围更广的光谱仪。本技术提供的这种光谱分析仪的原理是物质组份在太赫兹光的激发作用下发生能级跃迁,并且产生组份特征明显的太赫兹吸收光谱,吸收光谱的吸收峰和吸光度变化特征完全符合朗伯—比尔定律。通过测定物质组分试样的吸收曲线和吸收峰,进行光谱分析,从而对被测物质进行定性和定量。当太赫兹光波沿设定的光路经过被测物质时,被测物质产生组份特征明显的太赫兹吸收光谱,其吸收光谱信号通过太赫兹探测器探测、转换、经放大后输入计算机与存储的太赫兹标准吸收光谱进行数据处理,并由显示器显示输出结果。本技术提供的这种光谱分析仪由太赫兹发射体及依次安本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光谱分析仪,由进光狭缝(2)及依次安装于后的反光镜A(3)、透射镜B(4)、石英棱镜(5)、反光镜C(6)、透射镜D(7)、出光狭缝(8)、比色槽(9)、放大器(11)组成,其特征在于:在进光狭缝(2)的前面装有太赫兹发射体(1),在比色槽(9)的后面、放大器(11)的前面装有太赫兹探测器(10)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:刘盛纲刘朝宇钟为京丁时华于丽霞
申请(专利权)人:四川欧华化妆品有限公司刘盛纲刘朝宇
类型:实用新型
国别省市:90[中国|成都]

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