光谱分析仪制造技术

本实用新型专利技术是关于光谱分析仪，该装置由太赫兹发射体（１）及依次安装于后的进光狭缝（２）、反光镜Ａ（３）、透射镜Ｂ（４）、石英棱镜（５）、反光镜Ｃ（６）、透射镜Ｄ（７）、出光狭缝（８）、比色槽（９）、太赫兹探测器（１０）、放大器（１１）、计算机处理及结果显示器（１２）。太赫兹发射体（１）的后面依次安装有进光狭缝（２）、反光镜Ａ（３）、透射镜Ｂ（４）、石英棱镜（５）、反光镜Ｃ（６）、透射镜Ｄ（７）、出光狭缝（８）、比色槽（９）、太赫兹探测器（１０）、放大器（１１）、计算机处理及结果显示器（１２）组成，太赫兹光几乎能对所有化合物起激发作用产生太赫兹吸收光谱，并且可以在一个试样中同时测定多种组份而不必事先进行分离。（*该技术在2015年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术是关于光谱分析仪。
技术介绍
在现有光谱分析技术中，组分的定性鉴别和定量分析，局限于传统光波只能对物质分子中处于不稳定能级的价电子和较稳定的不饱和健的π电子、孤对电子的化合物起激发作用产生光谱，因此，测定物质的范围受到限制。
技术实现思路
本技术的任务是提供一种几乎能对所有化合物起激发作用产生吸收光谱，工作波段在200～1100nm范围内，可测定物质在紫外区、可见光区、红外区、太赫兹光区的吸收光谱，并且可以在一个试样中同时测定多种组份而不必事先进行分离的测定物质范围更广的光谱仪。本技术提供的这种光谱分析仪的原理是物质组份在太赫兹光的激发作用下发生能级跃迁，并且产生组份特征明显的太赫兹吸收光谱，吸收光谱的吸收峰和吸光度变化特征完全符合朗伯—比尔定律。通过测定物质组分试样的吸收曲线和吸收峰，进行光谱分析，从而对被测物质进行定性和定量。当太赫兹光波沿设定的光路经过被测物质时，被测物质产生组份特征明显的太赫兹吸收光谱，其吸收光谱信号通过太赫兹探测器探测、转换、经放大后输入计算机与存储的太赫兹标准吸收光谱进行数据处理，并由显示器显示输出结果。本技术提供的这种光谱分析仪由太赫兹发射体及依次安装于太赫兹发射体后面的进光狭缝、反光镜A、透射镜B、石英棱镜、反光镜C、透射镜D、出光狭缝、比色槽、太赫兹探测器、放大器、计算机处理及结果显示器组成。太赫兹发射体的作用是产生太赫兹辐射波。太赫兹波是指频率在0.1-10THz即0.1-10×1012Hz范围内的电磁波，太赫兹波的作用是使物质组份受到激发发生能级跃迁，并且产生组份特征明显的太赫兹吸收光谱。进光狭缝、出光狭缝的作用是控制太赫兹光束的几何形状和调节光通量。反光镜A、反光镜C的作用是调整太赫兹光束不偏离设定的光路。透射镜B、透射镜D的作用是聚焦太赫兹光束成为平行光束。石英棱镜的作用是分光调节波长。比色槽的作用是存放盛有被测物质比色皿。太赫兹探测器的作用是探测太赫兹吸收光谱并将其转成电子信号。放大器的作用是将太赫兹探测器探测并转换得到的电子信号进行放大。计算机处理及结果显示器的作用是对放大器放大后的信号与计算机存储的太赫兹标准吸收光谱进行处理并显示输出测试结果。本技术提供的这种光谱分析仪的优点是太赫兹光几乎能对所有化合物起激发作用产生吸收光谱，并且可以在一个试样中同时测定多种组份而不必事先进行分离。附图说明附图是本技术提供的这种光谱分析仪的结构示意图，其中太赫兹发射体(1)、进光狭缝(2)、反光镜A(3)、透射镜B(4)、石英棱镜(5)、反光镜C(6)、透射镜D(7)、出光狭缝(8)、比色槽(9)、太赫兹探测器(10)、放大器(11)、计算机处理及结果显示器(12)。太赫兹发射体(1)的后面依次安装有进光狭缝(2)、反光镜A(3)、透射镜B(4)、石英棱镜(5)、反光镜C(6)、透射镜D(7)、出光狭缝(8)、比色槽(9)、太赫兹探测器(10)、放大器(11)、计算机处理及结果显示器(12)。具体实施方式以下结合附图介绍本技术提供的这种光谱分析仪的一个工作过程。首先，预热仪器，调整至待用状态，然后将盛有经过预处理的被测物质的此色皿置于比色槽(9)内，启动太赫兹发射体(1)至产生稳定的太赫兹光波，太赫兹光波经进光狭缝(2)调节光通量后沿光路至反光镜A(3)，反射光经透射镜B(4)后成为平行光、经石英棱镜(5)分光调节波长后再经反光镜C(6)反射至透射镜D(7)上、成为平行光经出光狭缝(8)照射到比色槽(9)内的盛有被测物质的比色皿上，其太赫兹光对被测物质进行激发，被测物质的特定组分受到太赫兹波的激发产生能级跃迁，比色皿中的被测物质对太赫兹光进行吸收产生自身的吸收光谱，光谱信号经过太赫兹探测器(10)探测、转换，最后经放大器(11)放大后输入计算机处理及结果显示器(12)与太赫兹标准吸收光谱进行数据处理，并由显示器显示输出结果。权利要求一种光谱分析仪，由进光狭缝(2)及依次安装于后的反光镜A(3)、透射镜B(4)、石英棱镜(5)、反光镜C(6)、透射镜D(7)、出光狭缝(8)、比色槽(9)、放大器(11)组成，其特征在于在进光狭缝(2)的前面装有太赫兹发射体(1)，在比色槽(9)的后面、放大器(11)的前面装有太赫兹探测器(10)。专利摘要本技术是关于光谱分析仪，该装置由太赫兹发射体(1)及依次安装于后的进光狭缝(2)、反光镜A(3)、透射镜B(4)、石英棱镜(5)、反光镜C(6)、透射镜D(7)、出光狭缝(8)、比色槽(9)、太赫兹探测器(10)、放大器(11)、计算机处理及结果显示器(12)。太赫兹发射体(1)的后面依次安装有进光狭缝(2)、反光镜A(3)、透射镜B(4)、石英棱镜(5)、反光镜C(6)、透射镜D(7)、出光狭缝(8)、比色槽(9)、太赫兹探测器(10)、放大器(11)、计算机处理及结果显示器(12)组成，太赫兹光几乎能对所有化合物起激发作用产生太赫兹吸收光谱，并且可以在一个试样中同时测定多种组份而不必事先进行分离。文档编号G01N21/31GK2833576SQ20052003604公开日2006年11月1日 申请日期2005年11月8日 优先权日2005年11月8日专利技术者刘盛纲, 刘朝宇, 钟为京, 丁时华, 于丽霞 申请人:四川欧华化妆品有限公司, 刘盛纲, 刘朝宇本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光谱分析仪，由进光狭缝（２）及依次安装于后的反光镜Ａ（３）、透射镜Ｂ（４）、石英棱镜（５）、反光镜Ｃ（６）、透射镜Ｄ（７）、出光狭缝（８）、比色槽（９）、放大器（１１）组成，其特征在于：在进光狭缝（２）的前面装有太赫兹发射体（１），在比色槽（９）的后面、放大器（１１）的前面装有太赫兹探测器（１０）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘盛纲，刘朝宇，钟为京，丁时华，于丽霞，
申请(专利权)人：四川欧华化妆品有限公司，刘盛纲，刘朝宇，
类型：实用新型
国别省市：90[中国|成都]