高光谱检测样品测试盒制造技术

本实用新型专利技术公开一种高光谱检测样品测试盒，包括基座和挡板，基座上开设有多个同规格的检测孔，每个检测孔均沿基座的厚度方向贯穿基座，挡板可拆卸设置在基座的一侧，挡板封堵所有的检测孔靠近挡板的一端。通过设置带检测孔的基座，而基座一侧设置的挡板可以遮挡检测孔，使检测孔和挡板配合形成容纳样品的凹槽，由于检测孔的规格相同，因此样品粉末在置于此凹槽内时，可以实现厚度均匀，保证检测的精度；通过将挡板可拆卸设置在基座的一侧，当样品粉末检测结束后，只需要拆除挡板就能很方便对样品粉末进行清理，通常如果在一个板上直接开设凹槽，样品粉末容易残留在凹槽内，而本方案是检测孔配合挡板的结构，样品粉末更易清理。

【技术实现步骤摘要】
高光谱检测样品测试盒
本技术涉及高光谱检测设备
，尤其涉及一种高光谱检测样品测试盒。
技术介绍
高光谱仪器是一种检测设备，其用激发光源照射在样品粉末上反射光进行采集图形后，对图形数据和相应波段光谱数据进行采集，并对不同比例和成分的样品进行大量采集，建立数学模型后，进行机器学习，后应用于人工智能无损检测。目前在对中药材进行高光谱检测时，常规做法是将样品粉末置一张白纸上面进行检测，这样的操作会使得样品粉末厚度不一致，影响检测结果，且每次检测结束后，白纸都无法再次利用，造成了资源浪费。
技术实现思路
本技术实施例的目的在于：提供一种高光谱检测样品测试盒，其结构简单，可以保证进行高光谱检测时的样品粉末厚度均匀，检测精度高，且可重复利用。为达此目的，本技术实施例采用以下技术方案：提供一种高光谱检测样品测试盒，包括基座和挡板，所述基座上开设有多个同规格的检测孔，每个所述检测孔均沿所述基座的厚度方向贯穿所述基座，所述挡板可拆卸设置在所述基座的一侧，所述挡板封堵所有的所述检测孔靠近所述挡板的一端。作为高光谱检测样品测试盒的一种优选方案，所述挡板通过螺钉固定在所述基座的一侧；或，所述挡板通过卡扣组件固定在所述基座的一侧；或，所述挡板通过粘胶剂粘贴在所述基座的一侧。作为高光谱检测样品测试盒的一种优选方案，所述基座为金属座，所述挡板为金属板，所述基座靠近所述挡板的一侧凹设有多个容纳槽，所述容纳槽内设置有磁铁，所述磁铁不凸出于所述容纳槽的槽口，所述挡板磁吸固定在所述基座的一侧。作为高光谱检测样品测试盒的一种优选方案，所述基座为金属座，所述挡板为塑料板，所述挡板内设置有多个磁铁。作为高光谱检测样品测试盒的一种优选方案，所述基座靠近所述挡板的一侧凹设有多个容纳槽，所述挡板包括板本体和凸出设置在所述板本体靠近所述基座的一侧的多个凸部，所述凸部与所述板本体一体注塑成型，所述磁铁位于所述凸部内，所述凸部可插接于所述容纳槽内，且所述凸部凸出于所述板本体的高度不大于所述容纳槽的深度。作为高光谱检测样品测试盒的一种优选方案，所述凸部的外周壁环形均布有至少两个通气凹槽，所述通气凹槽的长度沿所述板本体的厚度方向延伸，且所述通气凹槽长度方向的一端位于所述凸部的端面，另一端延伸至所述板本体处并贯穿所述板本体。作为高光谱检测样品测试盒的一种优选方案，所述基座和所述挡板对应的位置均设置有把手。作为高光谱检测样品测试盒的一种优选方案，所述检测孔为锥形孔，所述检测孔的小端邻近于所述挡板。作为高光谱检测样品测试盒的一种优选方案，所述检测孔内设置有光滑层；和/或，所述挡板靠近所述基座的一侧面设置有所述光滑层。作为高光谱检测样品测试盒的一种优选方案，所述基座呈矩形，所述基座长度方向的两端分别为第一端和第二端，所述第一端设置有卡扣，所述第二端设置有卡槽，当两个高光谱检测样品测试盒拼接时，其中一个所述高光谱检测样品测试盒的所述卡扣可与另一个所述高光谱检测样品测试盒的所述卡槽卡接。本技术实施例的有益效果为：通过设置带检测孔的基座，而基座一侧设置的挡板可以遮挡检测孔，使检测孔和挡板配合形成容纳样品的凹槽，由于检测孔的规格相同，因此样品粉末在置于此凹槽内时，可以实现厚度均匀，保证检测的精度；通过将挡板可拆卸设置在基座的一侧，当样品粉末检测结束后，只需要拆除挡板就能很方便对样品粉末进行清理，通常如果在一个板上直接开设凹槽，样品粉末容易残留在凹槽内，而本方案是检测孔配合挡板的结构，样品粉末更易清理，完全不会残留在检测孔和挡板上。附图说明下面根据附图和实施例对本技术作进一步详细说明。图1为本技术实施例的高光谱检测样品测试盒的立体示意图。图2为本技术一实施例的高光谱检测样品测试盒的剖视示意图。图3为本技术另一实施例的高光谱检测样品测试盒的剖视示意图。图4为本技术另一实施例的基座的剖视示意图。图5为本技术另一实施例的挡板和磁铁组装后的剖视示意图。图中：1、基座；11、检测孔；12、容纳槽；2、挡板；21、板本体；22、凸部；3、磁铁；4、把手。具体实施方式为使本技术解决的技术问题、采用的技术方案和达到的技术效果更加清楚，下面将结合附图对本技术实施例的技术方案作进一步的详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。在本技术的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。在本技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。如图1所示，本技术实施例提供一种高光谱检测样品测试盒，其包括基座1和挡板2，所述基座1上开设有多个同规格的检测孔11，每个所述检测孔11均沿所述基座1的厚度方向贯穿所述基座1，所述挡板2可拆卸设置在所述基座1的一侧，所述挡板2封堵所有的所述检测孔11靠近所述挡板2的一端。通过设置带检测孔11的基座1，而基座1一侧设置的挡板2可以遮挡检测孔11，使检测孔11和挡板2配合形成容纳样品的凹槽，由于检测孔11的规格相同，因此样品粉末在置于此凹槽内时，可以实现厚度均匀，保证检测的精度；通过将挡板2可拆卸设置在基座1的一侧，当样品粉末检测结束后，只需要拆除挡板2就能很方便对样品粉末进行清理，通常如果在一个板上直接开设凹槽，样品粉末容易残留在凹槽内，而本方案是检测孔11配合挡板2的结构，样品粉末更易清理，完全不会残留在检测孔11和挡板2上。挡板2与基座1的连接方式有多种，比如，所述挡板2通过螺钉固定在所述基座1的一侧，或者，所述挡板2通过卡扣组件固定在所述基座1的一侧，又或者，所述挡板2通过粘胶剂粘贴在所述基座1的一侧。在其他实施例中，还可以通过磁吸固定的方式将挡板2固定在基座1的一侧，这样可以降低挡板2的拆装难度。在本技术的一个具体的实施例中(此示例的图未画出)，所述基座1为金属座，所述挡板2为金属板，所述基座1靠近所述挡板2的一侧凹设有本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高光谱检测样品测试盒，其特征在于，包括基座和挡板，所述基座上开设有多个同规格的检测孔，每个所述检测孔均沿所述基座的厚度方向贯穿所述基座，所述挡板可拆卸设置在所述基座的一侧，所述挡板封堵所有的所述检测孔靠近所述挡板的一端。/n

【技术特征摘要】
1.一种高光谱检测样品测试盒，其特征在于，包括基座和挡板，所述基座上开设有多个同规格的检测孔，每个所述检测孔均沿所述基座的厚度方向贯穿所述基座，所述挡板可拆卸设置在所述基座的一侧，所述挡板封堵所有的所述检测孔靠近所述挡板的一端。


2.根据权利要求1所述高光谱检测样品测试盒，其特征在于，所述挡板通过螺钉固定在所述基座的一侧；或，
所述挡板通过卡扣组件固定在所述基座的一侧；或，
所述挡板通过粘胶剂粘贴在所述基座的一侧。


3.根据权利要求1所述高光谱检测样品测试盒，其特征在于,所述基座为金属座，所述挡板为金属板，所述基座靠近所述挡板的一侧凹设有多个容纳槽，所述容纳槽内设置有磁铁，所述磁铁不凸出于所述容纳槽的槽口，所述挡板磁吸固定在所述基座的一侧。


4.根据权利要求1所述高光谱检测样品测试盒，其特征在于,所述基座为金属座，所述挡板为塑料板，所述挡板内设置有多个磁铁。


5.根据权利要求4所述高光谱检测样品测试盒，其特征在于,所述基座靠近所述挡板的一侧凹设有多个容纳槽，所述挡板包括板本体和凸出设置在所述板本体靠近所述基座的一侧的多个凸部，所述凸部与所述板本体一体注塑成型，所述磁铁位于所述凸部内，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：沈小钟，罗旭东，崔穗旭，张洋，崔志雄，刘栋卓，刘卫海，汪小根，张雷红，邱蔚芬，沈小莉，焦豪妍，杨燕军，黄珊珊，莫小路，
申请(专利权)人：广东食品药品职业学院，广州星博科仪有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44