一种电解电容寿命快速检测设备制造技术

技术编号:26103854 阅读:28 留言:0更新日期:2020-10-28 18:05
一种电解电容寿命快速检测设备,包括测试电容TEST_C1、测试电容电路及与所述测试电容电路连接的显示控制电路;所述测试电容TEST_C1通过所述测试电容电路的较大的纹波电流,表现出不同的发热程度,最终导致防爆阀打开容量失效,测试的这段时间即为测试电容TEST_C1的快速测试寿命时间,且通过所述显示控制电路显示;本实用新型专利技术可实现快速检测电解电容使用寿命及检测电解电容动态参数的目的。

【技术实现步骤摘要】
一种电解电容寿命快速检测设备
本技术涉及电解电容
,尤其是一种电解电容寿命快速检测设备。
技术介绍
充电器一直在各个领都域被广泛应用,特别是在生活领域;电解电容是充电器质量的关键因素,电解电容防爆阀打开而导致的容量失效又是电解电容最主要的故障之一。对于充电器的生产厂商来说,快速的对其所引进的电解电容进行寿命快速抽检,为其引进更优质的电解电容提供可靠依据,为提高充电器的产品质量打下坚实的基础。但现有的设备只能对其静态参数进行检测,无法对其使用寿命进行快速检测和判断;为适应一种电解电容寿命快速检测设备的改造,满足既要快速检测电解电容使用寿命又要达到检测电解电容动态参数的目的,需要技术一种达到此目的的设备。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术的不足,提供一种电解电容寿命快速检测设备。本技术解决其技术问题是采取以下技术方案实现的:一种电解电容寿命快速检测设备,包括测试电容TEST_C1、测试电容电路及与所述测试电容电路连接的显示控制电路;所述测试电容TEST_C1通过所述测试电容电路的较大的纹波电流,表现出本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电解电容寿命快速检测设备,其特征在于:包括测试电容TEST_C1、测试电容电路及与所述测试电容电路连接的显示控制电路;所述测试电容TEST_C1通过所述测试电容电路的纹波电流,表现出不同的发热程度,最终导致防爆阀打开容量失效,测试的这段时间即为测试电容TEST_C1的快速测试寿命时间,且通过所述显示控制电路显示。/n

【技术特征摘要】
1.一种电解电容寿命快速检测设备,其特征在于:包括测试电容TEST_C1、测试电容电路及与所述测试电容电路连接的显示控制电路;所述测试电容TEST_C1通过所述测试电容电路的纹波电流,表现出不同的发热程度,最终导致防爆阀打开容量失效,测试的这段时间即为测试电容TEST_C1的快速测试寿命时间,且通过所述显示控制电路显示。


2.根据权利要求1所述一种电解电容寿命快速检测设备,其特征在于:所述测试电容电路包括结构相同的测试电容充电电路及测试电容放电电路;所述测试电容充电电路的输出端通过所述测试电容TEST_C1连接所述测试电容放电电路的输入端。


3.根据权利要求2所述一种电解电容寿命快速检测设备,其特征在于:所述测试电容充电电路包括限流电阻R3、R4及分别所述限流电阻R3、R4连接的充电控制管SQ1、充电负载切换开关K2;所述充电负载切换开关K2与快速恢复二极管D7连接。


4.根据权利要求2所述一种电解电容寿命快速检测设备,其特征在于:所述测试电容电路还包括分别与测试电容充电电路及测试电容放电电路对应连接且结构相同的测试电容充电驱动电路及测试电容放电驱动电路;所述测试电容放电驱动电路包括驱动芯片IR2101及与所述驱动芯片IR2101连接的电解电容CD5。


5.根据权利要求1所述一种电解电容寿命快速检测设备,...

【专利技术属性】
技术研发人员:温坤张建治
申请(专利权)人:杭州明坤电器有限公司
类型:新型
国别省市:浙江;33

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