【技术实现步骤摘要】
一种变温式X射线衍射仪样品台
本技术涉及一种样品台,特别涉及一种变温式X射线衍射仪样品台,属于薄膜测试
技术介绍
温度控制是研究薄膜材料物性的一种重要手段,通过改变外界温度,可以用来研究材料的相变、退火、界面和稳定性等行为,结合实时的X射线衍射,用以观察薄膜材料在不同温度下结构的变化,从来指导薄膜材料的生长特性和物性研究。因此不同领域(半导体、光电、金属、功能氧化物、高分子)的科研人员,对具有变温环境的X射线原位衍射实验有着大量的需求。现有的变温式X射线衍射仪样品台冷却效率低,继而影响样品台温度控制的准确性,同时现有的变温式X射线衍射仪样品台冷却方式单一,冷却效果差。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种变温式X射线衍射仪样品台,以解决上述
技术介绍
中提出的现有的变温式X射线衍射仪样品台冷却效率低以及冷却效果差的问题。为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种变温式X射线衍射仪样品台,包括样品台本体和外罩,所述外罩通过若干个第一螺栓固定安装在样品台本体的顶端,所述外罩的中部固定 ...
【技术保护点】
1.一种变温式X射线衍射仪样品台,包括样品台本体(1)和外罩(2),其特征在于,所述外罩(2)通过若干个第一螺栓(3)固定安装在样品台本体(1)的顶端,所述外罩(2)的中部固定设有观察窗(4),所述样品台本体(1)的一侧嵌设有陶瓷安装座(5),所述陶瓷安装座(5)的中部开设有安装槽(6),所述安装槽(6)的内部设有陶瓷加热片(7),所述陶瓷加热片(7)的底端开设有若干个开槽(8),所述安装槽(6)的内部固定穿插连接有若干个陶瓷导热棒(9),若干个所述陶瓷导热棒(9)分别贯穿若干个开槽(8)内壁的顶端,所述陶瓷加热片(7)顶端的两侧分别设有两个压片(10),所述陶瓷安装座(5 ...
【技术特征摘要】
1.一种变温式X射线衍射仪样品台,包括样品台本体(1)和外罩(2),其特征在于,所述外罩(2)通过若干个第一螺栓(3)固定安装在样品台本体(1)的顶端,所述外罩(2)的中部固定设有观察窗(4),所述样品台本体(1)的一侧嵌设有陶瓷安装座(5),所述陶瓷安装座(5)的中部开设有安装槽(6),所述安装槽(6)的内部设有陶瓷加热片(7),所述陶瓷加热片(7)的底端开设有若干个开槽(8),所述安装槽(6)的内部固定穿插连接有若干个陶瓷导热棒(9),若干个所述陶瓷导热棒(9)分别贯穿若干个开槽(8)内壁的顶端,所述陶瓷加热片(7)顶端的两侧分别设有两个压片(10),所述陶瓷安装座(5)顶端的两边侧分别固定设有两对固定柱(11),两个所述压片(10)的两端均通过第二螺栓(12)分别与两对固定柱(11)固定连接,所述陶瓷安装座(5)槽壁的内部开设有内腔(13),所述内腔(13)的内部固定设有螺旋状的陶瓷导流板(14),所述陶瓷安装座(5)顶端的一角和底端的一角分别固定穿插连接有与内腔(13)连通的进水管(15)和出水管(1...
【专利技术属性】
技术研发人员:卢慧粉,孙秋香,宋庆军,闫凯,孔强强,王美霞,辛玲,
申请(专利权)人:济宁半导体及显示产品质量监督检验中心,
类型:新型
国别省市:山东;37
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