具有多尺度成像的X-CT装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及的具有多尺度成像范围的Ｘ－ＣＴ装置，包括：放于隔离室之内底座上的至少一辐射源；和样品台两侧的至少一组辐射成像组件；该成像组件由放于样品台一侧的前准直器，及放于样品台另一侧的后准直器和阵列探测器组成；辐射源位于前准直器左侧；辐射源、前准直器、后准直器和阵列探测器的中心连线穿过样品台中心；放于隔离室之外的数据采集仪和计算机；辐射源、前准直器、后准直器和阵列探测器的输出端分别连接于数据采集仪输入端，数据采集器仪输出端与计算机相连，以处理由数据采集仪输入的各项数据。由于采用多对探测器，可方便地实现对物体中不同范围的结构实施成像，有助于对物体空间结构从微观到宏观尺度上的全面把握。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于计算机层析成像领域，特别涉及一种采用多组辐射源及成像 精度不同的探测器阵列组合，对特定对象进行辐照，并就其透射强度加以探测和 数字化，从而实现对物体部多个尺度结构予以动态成像的具有多尺度成像功能 的x-CT(ComputerTomograph)装置。
技术介绍
近年来，随着微/纳米技术的飞速发展，提出了对各类器件的高精度测量问题。 众所周知， 一般的显微镜主要用于观测表面形貌，但对内部结构的探测却无能为 力。人们为此专利技术了一系列装置，如基于电阻抗、磁场、声、光、x射线、y射线 等的体视镜。自从伦琴发现x-射线并获得人手的透视影像起，这种对物体穿透能 力极强的射线就被引入到摄影及成像领域，形成了许多技术产品。由于x射线、y射线等穿透物体的能力很强，因而可用于对物体内部进行透视。 其中，x射线一般是由高速电子在与物质相互作用而减速的过程中产生的韧致辐 射，而y射线则主要由放射性同位素在核衰变过程中释放(安继刚等著，钴-60数字 辐射成像装箱检测装置，北京清华大学出版社，2003)。在辐射测量中，当x、 y 射线的辐射光子与物体发生相互作用时，会发生光电吸收、康普顿散射及电本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种具有多尺度成像的Ｘ－ＣＴ装置，包括：　　　　一底座（８）；　　　　放置在隔离室之内的底座（８）之上至少一辐射源（６６）；　　　　放置在隔离室之内的底座（８）之上的样品台（３）两侧的至少一组辐射成像组件；所述辐射成像组件由放置在所述样品台（３）一侧的带有前准直器狭缝（２１）的前准直器（２），及放置在所述样品台（３）另一侧的由左至右的带后准直器狭缝（６）的后准直器（５）和阵列探测器（７）组成；所述辐射源（６６）位于所述前准直器（２）的左侧；　　　　所述辐射源（６６）和前准直器２）、后准直器（５）和阵列探测器（７）的中心连线穿过所述样品台（３）的中心；以及　　　　放置在隔离室之外的一数据采集器仪...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李政，刘静，
申请(专利权)人：中国科学院理化技术研究所，
类型：实用新型
国别省市：11[中国|北京]