输入装置、输入装置的控制方法以及程序制造方法及图纸

输入装置具有：检测部，生成对应于所述物体的接近的程度而变化的检测信号；判定部，基于在所述检测部中生成的一系列的所述检测信号，来判定是否产生了与所述物体的接近相伴的所述检测信号的变化；以及基准值更新部，在所述判定部中判定为未产生与所述物体的接近相伴的所述检测信号的变化的情况下，基于在所述检测部中生成的所述检测信号，对表示所述物体未接近的状态的所述检测信号的值的基准值进行更新。所述判定部变更判定基准，以使得所述检测信号与所述基准值之差所表示的所述物体的接近的程度越高，就越容易判定为产生了与所述物体的接近相伴的所述检测信号的变化。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】输入装置、输入装置的控制方法以及程序
本公开的一个侧面涉及输入装置，输入装置的控制方法以及程序。
技术介绍
探测物体的接近的传感器在各种电子设备中使用于对用户的操作信息等进行输入的装置。在探测物体的接近的传感器中，存在电阻膜方式、光学方式、静电电容方式等各种类型，例如在智能手机等中广泛采用静电电容传感器。作为一般的静电电容传感器，已知检测物体与检测电极之间的静电电容的自电容型传感器、检测驱动电极与检测电极之间的静电电容的互电容型传感器等。这些传感器都根据静电电容的变化来探测物体的接近。但是，静电电容的变化电会由于物体的接近以外的要因、例如温度、湿度、放置于周围的物体的状态等环境的要因而产生。即，在传感器的静电电容的检测值中，除了因物体的接近而变化的成分以外，还包含因环境的要因而变化的成分。因此，在使用将静电电容的检测值与固定的阈值进行比较的简单的方法的情况下，即使在某温度下能够正常地探测到物体的接近，也会发生在其他温度下无法正常地探测到物体的接近这样的不良状况。因此，在根据静电电容传感器的检测值来判定物体的接近状态的情况下，一般，使用基于对象物(手指等)未接近时的检测值而设定的基准值(也称为基线值、校准值等)。基准值被视为不会对应于物体的接近而变化的成分，检测值相对于基准值的相对的变化量(差分值)被推定为表示物体的接近状态。通过将差分值与适当的阈值进行比较，来判定有无物体的接近。在使用基准值的方法中，即使产生了温度等环境的变化，也能通过适当地更新基准值来避免接近状态的误判定。但是，若在对象物正接近的状态下进行基准值的更新，则由于该状态成为判定的基准，因此即使之后对象物接近，也会误判定为处于未接近的状态。因此，在使用基准值的方法中，需要在对象物未接近的适当的状态下进行基准值的更新。在下述的专利文献1记载的装置中，在全部传感器中的静电电容的各检测值处于固定范围内的状态持续了固定时间以上的情况下，判断为手指并未放置在操作面上，并进行基准值的更新。在先技术文献专利文献专利文献1：JP特开2017-111507号公报
技术实现思路
专利技术想要解决的课题但是，在上述的专利文献1的方法中，由于将多个传感器的检测值处于固定范围内的状态设为基准值的更新定时，因此在多个传感器的检测值因环境的要因而存在偏差的情况(例如，传感器组的温度的分布因日光的照射等而存在偏差的情况、在一部分传感器的附近放置文具等情况)下，并不进行基准值的更新，容易发生误判定。此外，在传感器是单独的情况下，无法应用该方法。作为不对多个传感器的检测值进行比较就决定基准值的更新定时的方法，例如，考虑将检测值的变化在固定时间以上持续地小的状态设为更新定时的方法。在该方法中，若在更新定时的决定条件下使检测值的状态的持续时间过度地长，则基准值的更新就会延迟相应的量，容易发生误判定。此外，即使使更新定时的决定条件下的检测值的变化幅度过度地小，也会由于基准值难以被更新而容易发生误判定。但是，预想到在传感器的附近持续放置手的一部分等情况下，检测值的变化也会保持在比较小的状态，因此这样的情况需要使得基准值不被更新。因此，本公开的一个侧面的目的在于，提供能够抑制在检测对象的物体正接近的状态下进行基准值的更新的输入装置、输入装置的控制方法以及程序。用于解决课题的手段在本公开的一个侧面中，提供输入与物体的接近状态相应的信息的输入装置。该输入装置具有：检测部，生成对应于物体的接近的程度而变化的检测信号；判定部，基于在检测部中生成的一系列的检测信号，来判定是否产生了与物体的接近相伴的检测信号的变化；以及基准值更新部，在判定部中判定为未产生与物体的接近相伴的检测信号的变化的情况下，基于在检测部中生成的检测信号，对表示物体未接近的状态的检测信号的值的基准值进行更新。判定部变更判定基准，以使得检测信号与基准值之差所表示的物体的接近的程度越高，就越容易判定为产生了与物体的接近相伴的检测信号的变化。专利技术效果根据本公开的一个侧面，能够提供能够抑制在检测对象的物体正接近的状态下进行基准值的更新的输入装置、输入装置的控制方法以及程序。附图说明图1是表示本实施方式涉及的输入装置的结构的一例的图。图2是表示检测部的结构的一例的图。图3是将检测信号的大小与第2时间的关系图解后得到的图。图4是用于说明在本实施方式涉及的输入装置中从取得检测信号到算出差分值为止的处理的一例的流程图。图5是用于说明第1实施方式涉及的输入装置中的判定部的判定处理的一例的流程图。图6是表示第1时间下的检测信号的最大值与最小值之差的一例的图。图7是用于说明第1实施方式涉及的输入装置中的判定部的判定处理的一变形例的流程图。图8A是表示对第1时间下的检测信号的变化进行近似的回归直线的一例的图。图8B是表示对第1时间下的检测信号的变化进行近似的回归直线的一例的图。图9是用于说明第2实施方式涉及的输入装置中的判定部的判定处理的一例的流程图。图10是用于说明第2实施方式涉及的输入装置中的判定部的判定处理的一变形例的流程图。图11是用于说明第3实施方式涉及的输入装置中的判定部的判定处理的一例的流程图。图12是用于说明第3实施方式涉及的输入装置中的判定部的判定处理的一变形例的流程图。图13是用于说明第4实施方式涉及的输入装置中的判定部的判定处理的一例的流程图。图14是用于说明第5实施方式涉及的输入装置中的判定部的判定处理的一例的流程图。图15是将检测信号的大小与第1时间的关系图解后得到图。图16是用于说明第6实施方式涉及的输入装置中的判定部的判定处理的一例的流程图。图17是用于说明第7实施方式涉及的输入装置中的判定部的判定处理的一例的流程图。具体实施方式<第1实施方式>以下，参照附图说明第1实施方式涉及的输入装置。图1是表示第1实施方式涉及的输入装置的结构的一例的图。图1所示的输入装置具有n个检测部10-1～10-n(以下，有时不加以区别而记为“检测部10”。)、处理部30、存储部40、接口部50。图2是表示检测部10的结构的一例的图。本实施方式涉及的输入装置是输入与手指、笔等物体的接近程度相应的信息的装置，例如如触摸传感器、触摸垫等这样，输入与操作面中的物体有无接触、接触位置、接近的程度等相关的信息。另外，本说明书中的“接近”的意思是处于附近，并不限定有无接触。(检测部10)检测部10-i(i表示1至n的整数。)生成与物体1(手指等)的接近程度相应的检测信号Si(以下，有时不加以区别而记为“检测信号S”。)。检测部10按照处理部30的后述的控制部301的控制而反复生成检测信号S。检测部10例如如图2所示那样包含检测电极101和静电电容检测电路102。检测电极101形成静电电容对应于物体1的接近程度而发生变化的电容器Cx。电本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种输入装置，输入与物体的接近状态相应的信息，该输入装置具有：/n检测部，生成对应于所述物体的接近的程度而变化的检测信号；/n判定部，基于在所述检测部中生成的一系列的所述检测信号，来判定是否产生了与所述物体的接近相伴的所述检测信号的变化；以及/n基准值更新部，在所述判定部中判定为未产生与所述物体的接近相伴的所述检测信号的变化的情况下，基于在所述检测部中生成的所述检测信号，对表示所述物体未接近的状态的所述检测信号的值的基准值进行更新，/n所述判定部变更判定基准，以使得所述检测信号与所述基准值之差所表示的所述物体的接近的程度越高，就越容易判定为产生了与所述物体的接近相伴的所述检测信号的变化。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180312 JP 2018-0445041.一种输入装置，输入与物体的接近状态相应的信息，该输入装置具有：
检测部，生成对应于所述物体的接近的程度而变化的检测信号；
判定部，基于在所述检测部中生成的一系列的所述检测信号，来判定是否产生了与所述物体的接近相伴的所述检测信号的变化；以及
基准值更新部，在所述判定部中判定为未产生与所述物体的接近相伴的所述检测信号的变化的情况下，基于在所述检测部中生成的所述检测信号，对表示所述物体未接近的状态的所述检测信号的值的基准值进行更新，
所述判定部变更判定基准，以使得所述检测信号与所述基准值之差所表示的所述物体的接近的程度越高，就越容易判定为产生了与所述物体的接近相伴的所述检测信号的变化。


2.根据权利要求1所述的输入装置，其中，
所述判定部，
反复判定表示第1时间下的所述检测信号的变化的大小的第1评价值是否包含在第1范围中，
在所述第1评价值包含在所述第1范围中的状态持续了第2时间以上的情况下，判定为未产生与所述物体的接近相伴的所述检测信号的变化，
对应于所述检测信号与所述基准值之差所表示的所述物体的接近的程度，来变更所述第1时间、所述第1范围以及所述第2时间中的至少1者。


3.根据权利要求1所述的输入装置，其中，
所述判定部，
反复判定表示第1时间下的所述检测信号的变化的大小的第1评价值是否包含在第1范围中，
在所述第1评价值包含在所述第1范围中的情况下，判定为未产生与所述物体的接近相伴的所述检测信号的变化，
对应于所述检测信号与所述基准值之差所表示的所述物体的接近的程度，来变更所述第1时间以及所述第1范围中的至少1者。


4.根据权利要求2或3所述的输入装置，其中，
所述判定部算出表示所述第1时间下的所述检测信号相对于所述第1时间下的所述检测信号的平均值的偏差的大小的所述第1评价值。


5.根据权利要求4所述的输入装置，其中，
所述判定部算出与所述第1时间下的所述检测信号的方差或标准偏差相应的所述第1评价值。


6.根据权利要求2或3所述的输入装置，其中，
所述判定部算出与所述第1时间下的所述检测信号的最大值与最小值之差相应的所述第1评价值。


7.根据权利要求2～6中任一项所述的输入装置，其中，
所述判定部进行将所述检测信号平滑化的低通滤波器处理，算出表示通过所述低通滤波器处理进行了平滑化而得到的所述检测信号在所述第1时间下的变化的大小的所述第1评价值。


8.根据权利要求2～7中任一项所述的输入装置，其中，
所述判定部算出对所述第1时间下的所述检测信号的变化进行近似的回归直线的倾斜度，变更所述第1时间以及所述第1范围中的至少一者，以使得所述回归直线的倾斜度越大，就越容易...

【专利技术属性】
技术研发人员：山田朋辉，
申请(专利权)人：阿尔卑斯阿尔派株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP