当前位置: 首页 > 专利查询>西门子公司专利>正文

浸渍方法和监视基体材料浸渍的装置制造方法及图纸

技术编号:2600564 阅读:146 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种浸渍方法,其中用一种浸渍剂(2)浸渍一种基体材料(1),基体材料(1)的浸渍通过基体材料(1)的介电常数(ε↓[r])来确定,优选通过确定电容(C)来确定。本发明专利技术还涉及一种监视基体材料(1)浸渍值的装置。(*该技术在2018年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种浸渍方法,其中用一种浸渍剂浸渍一种基体材料。本专利技术还涉及一种监视用一种浸渍剂浸渍基体材料的装置。在蔡忠发表在“合成材料”1992年26卷9期上的论文“RTM过程中模填料分析”(“Analysis of Mold Filling in RTM Process”von Zhong Cai inJournal of Composite Materials,Vol.26,9/1992)中提出了一种浸渍方法。文章描述了一种树脂转换模注(RTM,Resin Transfer Molding)方法,其中,为了形成一种树脂复合材料而将纤维浸渍。文章还提出了一个数字模型,它基于Darcy定律描绘浸渍过程。本专利技术的目的在于提供一种浸渍方法。本专利技术的另一目的是提供监视基体材料浸渍的装置。所述有关浸渍方法的专利技术目的是通过如下一种浸渍方法实现的,在该方法中,一种基体材料用一种浸渍剂浸渍,这样基体材料的介电常数就被改变,其中,测量一种与介电常数有关的被测参数,并由此确定基体材料的浸渍值。本专利技术是基于通过浸渍剂浸入基体材料就可改变基体材料的介电常数这一认识。通过确定介电本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种浸渍方法,其中用一种浸渍剂(2)浸渍一种基体材料(1),这样基体材料(1)的介电常数(ε↓[r])就被改变,其中,测量一种与介电常数(ε↓[r])有关的被测参数(C),并由此确定基体材料(1)的浸渍值(D)。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:多拉谢陶尔卡伊维尔坦艾瓦斯泽米蒂斯弗朗兹约瑟夫弗鲁恩特
申请(专利权)人:西门子公司
类型:发明
国别省市:DE[德国]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1