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本发明涉及一种浸渍方法，其中用一种浸渍剂（２）浸渍一种基体材料（１），基体材料（１）的浸渍通过基体材料（１）的介电常数（ε↓［ｒ］）来确定，优选通过确定电容（Ｃ）来确定。本发明还涉及一种监视基体材料（１）浸渍值的装置。...
该专利属于西门子公司所有，仅供学习研究参考，未经过西门子公司授权不得商用。

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