偏光应力仪检定标准装置及光强极小值定位方法制造方法及图纸

本发明专利技术所基于的测试原理是，在优化１／４波片法及半影法的基础上，又提出了光电模拟多个半影法；根据上述原理制成的偏光应力仪检定标准装置，通过所建立的光学件转动时光强和转动角度的数字模型，以及采用最小二乘法对测试的光强数据进行拟合的处理方法，就可按照本发明专利技术提出的调试与测试步骤，找出与之对应的光学件在光强极小值时的位置角度，并通过计算机控制使该光学件定位于此，最终求出被测光学样品的应力双折射光程差Δ。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光学计量与测量领域中的标准检定装置，尤其涉及一种对偏光应力仪的标准样品进行应力双折射光程差检定的标准装置。光学材料中的应力双折射光程差是评价光学材料质量的一个非常重要的参数，它反映了光学材料的偏光特性和双折射特性，也可反映其均匀性。其定量表述由下式计算Δ=d(ne-no)式中Δ-双折射光程差；d-光学材料厚度； ne,no-垂直于主光轴的两个主折射率。目前国内外通用的应力双折射光程差测试方法主要有以下两种①单1/4波片法。其具体测试原理为首先使起篇器的偏振轴与检偏器的偏振轴相互垂直，并使1/4波片的快轴、慢轴分别与起偏器的偏振轴、检偏器的偏振轴平行；然后放入样品并转动，使透过检偏器的光强最小，再使样品转动45°；最后转动检偏器，使透过检偏器的光强又复最小，检偏器转过的角度为θ，则由简单的推导可知，双折射所致的相位差为2θ，双折射光程差为Δ=λθ/π这种测试法是采用光强极小值来定位，即用光电探测器或人眼观察光强最小值定位，而光强最小值附近光强变化很小，因此定位精度较低，从而导致光程差的测试不确定度较大。例如美国专利5955195就是利用该方法测量液晶厚度及旋光角的。②半影法。这种测试方法大体与单1/4波片法相近，只是检偏器由两块半圆形偏振器组成，它们偏振轴的夹角平分线为两个半圆的分界线，这种检偏采用零对比度定位，而不采用光强值定位，其精度比单1/4波片要高近一个数量级；但这此种方法是采用人眼观察光强的对比度，因此测试双折射光程差的不确定度也不可能太小。根据不同测试原理制作出可对光学材料中的应力双折射光程差进行测量的装置称为偏光应力仪，为了保证其有较高的测试精度，偏光应力仪必须用经过高精度偏光应力仪标准装置检定过的标准样品来校正。本专利技术的目的是提供一台可以对偏光应力仪的标准样品进行检定，且操作简单的偏光应力仪检定标准装置；本专利技术的另一个目的是提供一种采用最小二乘法进行数据拟合的高精度光强极小值定位方法。为实现上述目的，在综合比较国内外有关光学材料应力双折射光程差测试方法的基础上，吸收这些方法之优点，本专利技术采用单1/4波片法的原理，同时采取光电探测器代替人眼。光强极小值点的定位方法吸收了半影法的优点在最小点的两边近似对称地取很多点，然后用最小二乘法进行拟合。就好像采用了多个半影器，然后取综合效果。其定位精度较半影法高得多。根据上述原理，结合便于装调、维护、保证精度等方面的综合考虑，本专利技术主要由以下积木式组件构成，即线偏振光组件、样品转动组件、补偿器组件、检测组件、计算机控制与数据采集系统。线偏振光组件主要包括光源组件、起偏器；样品转动组件主要包括第一步进电机、放置光学样品的转台，第一步进电机根据计算机指令驱动转台由此带动光学样品转动；补偿器组件包括1/4波片、第二转台、第二步进电机，1/4波片放置在第二转台上，第二步进电机根据计算机指令驱动第二转台从而带动1/4波片转动；检测组件主要包括检偏器、聚光透镜、光电探测器、第三步进电机，第三步进电机根据计算机指令通过其主轴直接带动检偏器、聚光透镜和光电探测器一起转动；计算机控制与信号采集系统主要包括信号采集与处理电路、步进电机细分驱动电路、计算机、打印机，其主要功能是将光电探测器输出的模拟检测信号放大并转换成数字信号送入计算机处理，根据调试或测试步骤所对应的处理结果，将分别控制三个步进电机启动及步距细分，从而使相应的光学件能够准确地定位在相应的角度位置，也可以将最终测试结果通过计算机显示或通过打印机打印。本专利技术光学系统的工作过程为光源组件发出的单色准直光经过起偏器成为线偏振光并入射到光学样品，线偏振光经过光学样品成为椭圆偏振光并射入1/4波片，1/4波片的出射光又成为线偏振光，该束线偏振光经检偏器后由聚光透镜聚焦到光电探测器，光电探测器将光强信号变成电信号并输入到信号采集与处理电路。由于光强最小值附近光强变化很小，因此通过光电探测器直接准确定位很困难。本专利技术采用最小二乘法及马吕斯定律的数据处理方法，找出光强最小值位置并予准确定位。本方法以光强为最小值时的角度θ0为对称点，根据角度θ0+θ和角度θ0+θ所对应的光强值相等的原理，建立了光学件如检偏器、1/4波片或光学样品转动时光强和角度关系的数学模型I1=A+I0sin2(θ1-θ0)式中I1-透过光学系统后到达探测器的光强；A-常数项(包括各种噪声)；I0-光源组件出射光强；θ1-相应光学件转动之后所在的位置角度；θ0-在光强极小值时相应光学件所对应的位置角度。建立该数学模型以后，并根据模拟多个半影法将测得的多组数据按上式进行最小二乘法拟合，由此就可以获得相应光学件在光强极小值点的精确位置角度。本专利技术提供的偏光应力仪检定标准装置的调试与测试过程如下(1)首先通过计算机控制第三步进电机带动检偏器转动360°，并且是每转动一个步距对光强信号进行一次采样，再由计算机按本专利技术的光强极小值定位法找出光强最小值位置P1，然后根据计算机指令第三步进电机驱动检偏器转动并定位于位置P1(使检偏器和起编器的偏振轴处于正交位置)；(2)放入1/4波片，同样用计算机控制第二步进电机通过第二转台带动1/4波片转动90°，同样按本专利技术的光强极小值定位法找出最小值位置P2，然后由计机控制步第二进电机带动1/4波片定位于P2；(3)将光学样品放置在第一转台上，根据计算机指令，第一步进电机驱动第一转台由此使光学样品转动360°，且每转动一个步距对光强信号进行一次采样，按本专利技术的光强极小值定位法找到光强最小值位置P3，并根据计算机指令第一步进电机通过第一转台将样品定位于P3，再使之转动45°；(4)根据计算机指令，第二步进电机再次驱动检偏器转动360°，还是每转动一个步距对光强信号进行一次采样，再按本专利技术的光强极小值定位法找出光强最小值位置P4，并算出最小值对应的位置角θ0，然后根据单1/4波片法Δ=(λθ)/π算出双折射光程差。上述第(1)和第(2)步为本专利技术的调试步骤，一旦调试完成之后，在以后的各种光学样品的测试中，只需进行第(3)和第(4)的测试步骤，也就是说1/4波片定位之后就将固定不动了。本专利技术在优化1/4波片法及半影法的基础上，提出了光电模拟多个半影法；并采用最小二乘法和马吕斯定律数据处理方法，顺次求出检偏器、1/4波片、光学样品的光强最小值角度位置，并由计算机通过细分驱动电路控制步进电机的驱动步距使相应光学件准确定位在光强极小值位置，再通过对检偏器的转动、采样过程，最终求出检偏器在光强极小值时的角位置值。由此看出，本专利技术提供的这种测试方法与1/4波片法相比，很好地解决了准确确定检偏器的偏振方向与起偏器的偏振方向垂直定位问题，因此从测试原理本身讲，本专利技术具备很高的测试精度。此外，本专利技术采用计算机控制步进电机的步距细分，与传统的机械细分法相比，不仅结构简单，操作方便，而且也很好地保证了每次转动都具有高的定位精度。附图说明图1是本专利技术组成及测试原理示意图。图2是本专利技术光学系统图。图3是本专利技术计算机控制流程图。下面结合附图及最佳实施例对本专利技术作进一步说明。正如图1所示，本专利技术最佳实施例包括的积木式组件为线偏振光组件1、样品转动组件2、补偿器3、检测组件4以及由信号采集与处理电路5、计算机6、打印机7构成的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种偏光应力仪检定标准装置，主要包括由光源组件（１ａ～１ｅ）、起偏器（１ｆ）构成的线偏振光组件（１）、光学样品转动组件（２）、１／４波片（３）、由检偏器（４ａ）、聚光透镜（４ｂ）和光电探测器（４ｃ）等构成的检测组件（４），其特征在于：还包括一套由计算机、信号采集与处理电路、步进电机驱动电路、采集卡、打印机等组成的计算机控制与数据采集系统（５）；第一、第二步进电机根据计算机指令分别通过各自的驱动电路驱动第一、第二转台由此带动光学样品组件（２）、１／４波片（３）转动；第三步进电机与检偏器（４ａ）同轴安装，并根据计算机指令直接带动检偏器（４ａ）、聚光透镜（４ｂ）和光电探测器（４ｃ）一起转动；线偏振光组件（１）发出的单色准直光经光学样品（２）、１／４波片（３）、检偏器（４ａ）后通过聚光透镜（４ｂ）聚焦到光电探测器（４ｃ），光电探测器（４ｃ）输出的模拟电信号送入信号采集与处理电路，其输出的数字信号由计算机读取和运算。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：黎高平，刘训章，宗亚康，孔军，杨照金，
申请(专利权)人：中国兵器工业第二O五研究所，
类型：发明
国别省市：87[中国|西安]