测试方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种测试方法及装置。其中，测试方法用于对显示面板进行性能测试，显示面板包括至少一个功能单元，每一功能单元对应至少一个性能指标，测试装置中存储有每一性能指标对应的模板数据和测试策略，测试方法包括：确定待测试的功能单元和待测试的性能指标；根据待测试的性能指标，调用对应的模板数据和测试策略；根据待测试的功能单元和测试策略，对模板数据进行测试。本发明专利技术通过预先在测试装置中存储显示面板的每一性能指标对应的模板数据和测试策略，在需要对显示面板进行性能测试时，只需根据待测试的性能指标即可获取到对应的模板数据和测试策略，并根据显示面板的待测试的结构和测试策略对模板数据进行测试，准确率高且效率高。

【技术实现步骤摘要】
测试方法及装置
本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种测试方法及装置。
技术介绍
在生产显示面板之前，需要对显示面板进行设计，并对设计好的显示面板进行性能测试，以确保按照设计好的显示面板生产出来的显示面板具有优越的性能。现阶段通常采用人工测试的方法对设计好的显示面板进行性能测试，即，测试人员对设计好的显示面板进行人工处理分析，从而得到其性能测试结果。但由于人工测试的方法需要测试人员人工处理分析，一旦一个环节出现错误，则会使得测试结果准确率大大降低，并且，人工处理分析还具有效率低的问题。
技术实现思路
因此，有必要提供一种测试方法及装置，用以解决现有的对显示面板进行性能测试的测试方法准确率低和效率低的问题。第一方面，本专利技术实施例提供一种测试方法，应用于测试装置中，用于对显示面板进行性能测试，所述显示面板包括至少一个功能单元，每一所述功能单元对应至少一个性能指标，所述测试装置中预先存储有每一所述性能指标对应的模板数据和测试策略，所述测试方法包括：确定待测试的所述功能单元和待测试的所述性能指标；根据待测试的所述性能指标，调用对应的所述模板数据和所述测试策略；根据待测试的所述功能单元和所述测试策略，对所述模板数据进行测试。在本专利技术的一种可选实施例中，确定待测试的所述功能单元和待测试的所述性能指标，包括：导入所述显示面板的布局图；从所述布局图中选取特定功能单元，并作为待测试的所述功能单元；确定待测试的所述性能指标。在本专利技术的一种可选实施例中，根据待测试的所述功能单元和所述测试策略，对所述模板数据进行测试，包括：提取待测试的所述功能单元中的参数；将所述参数导入至所述模板数据中，以对所述模板数据进行修改；根据所述测试策略对修改后的所述模板数据进行测试。在本专利技术的一种可选实施例中，所述功能单元包括至少一个子功能单元，所述测试方法还包括：输出至少一个所述子功能单元分别针对待测试的所述性能指标的分项测试结果。在本专利技术的一种可选实施例中，所述测试方法还包括：对至少一个所述子功能单元分别针对待测试的所述性能指标的分项测试结果进行汇总，得到待测试的所述功能单元针对待测试的所述性能指标的汇总测试结果。在本专利技术的一种可选实施例中，所述测试方法还包括：根据至少一个所述分项测试结果和/或所述汇总测试结果，对待测试的所述功能单元进行修改。在本专利技术的一种可选实施例中，若所述功能单元为像素，则所述像素对应的所述性能指标为充电率或充电时间；若所述功能单元为薄膜晶体管，则所述薄膜晶体管对应的所述性能指标为电阻值或电容值；若所述功能单元为阵列基板栅极驱动电路，所述阵列基板栅极驱动电路对应的所述性能指标为保持电压、信号的上升时间或信号的下降时间。第二方面，本专利技术实施例提供一种测试装置，用于对显示面板进行性能测试，所述显示面板包括至少一个功能单元，每一所述功能单元对应至少一个性能指标，所述测试装置包括：存储模块，用于存储每一所述性能指标对应的模板数据和测试策略；测试对象确定模块，用于确定待测试的所述功能单元和待测试的所述性能指标；调用模块，用于根据待测试的所述性能指标，调用对应的所述模板数据和所述测试策略；测试模块，用于根据待测试的所述功能单元和所述测试策略，对所述模板数据进行测试。第三方面，本专利技术实施例提供了一种电子设备，包括存储器和处理器；存储器中存储有计算机程序；处理器，用于执行计算机程序以实现第一方面实施例或第一方面任意一种可选实施例中所提供的测试方法。第四方面，本专利技术实施例提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现第一方面实施例或第一方面任意一种可选实施例中所提供的测试方法。本专利技术提供的测试方法及装置，通过预先在测试装置中存储显示面板的每一性能指标对应的模板数据和测试策略，在需要对显示面板进行性能测试时，只需根据待测试的性能指标即可获取到对应的模板数据和测试策略，并根据显示面板的待测试的结构和测试策略对模板数据进行测试即可得到测试结果，由于测试过程均由测试装置自动处理分析完成，因此准确率高且效率高。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的测试方法的流程图。图2为本专利技术实施例提供的测试装置的结构示意图。图3为本专利技术实施例提供的电子设备的结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术实施例提供一种用于对显示面板进行性能测试的测试方法，该测试方法应用于测试装置中，即，该测试方法的执行主体为测试装置，此处的测试装置可以为电子设计自动化软件，本专利技术实施例对此不作具体限定。显示面板可以为液晶显示面板或有机发光二极管显示面板等，本专利技术实施例对此不作具体限定。显示面板包括至少一个功能单元。例如，功能单元可以为像素、薄膜晶体管或阵列基板栅极驱动电路等，本专利技术实施例对此不作具体限定。每一功能单元对应至少一个性能指标。例如，若功能单元为像素，则像素对应的性能指标可以为充电率或充电时间等，本专利技术实施例对此不作具体限定。若功能单元为薄膜晶体管，则薄膜晶体管对应的性能指标可以为电阻值或电容值等，本专利技术实施例对此不作具体限定。若功能单元为阵列基板栅极驱动电路，则阵列基板栅极驱动电路对应的性能指标可以为保持电压、信号的上升时间或信号的下降时间等，本专利技术实施例对此不作具体限定。测试装置中预先存储有每一性能指标对应的模板数据和测试策略。模板数据为用于进行性能测试的数据，不同的显示面板针对同一性能指标对应的模板数据相同。例如，若性能指标为像素的充电率，则充电率对应的模板数据为像素相关文件。若性能指标为薄膜晶体管的电阻值，则电阻值对应的模板数据为薄膜晶体管相关文件。若性能指标为阵列基板栅极驱动电路的保持电压，则保持电压对应的模板数据为阵列基板栅极驱动电路相关文件，例如阵列基板栅极驱动电路的仿真电路图。测试策略为对模板数据进行性能测试的方法，不同的显示面板针对同一性能指标对应的测试策略相同。图1为本专利技术实施例提供的测试方法的流程图，如图1所示，该测试方法包括：步骤S1，确定待测试的功能单元和待测试的性能指标。具体的，待测试的性能指标为待测试的功能单元对应的性能指标。例如，若待测试的功能单元为像素，则待测试的性能指标为充电时间或充电率等，本专利技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试方法，应用于测试装置中，用于对显示面板进行性能测试，所述显示面板包括至少一个功能单元，每一所述功能单元对应至少一个性能指标，其特征在于，所述测试装置中预先存储有每一所述性能指标对应的模板数据和测试策略，所述测试方法包括：/n确定待测试的所述功能单元和待测试的所述性能指标；/n根据待测试的所述性能指标，调用对应的所述模板数据和所述测试策略；/n根据待测试的所述功能单元和所述测试策略，对所述模板数据进行测试。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试方法，应用于测试装置中，用于对显示面板进行性能测试，所述显示面板包括至少一个功能单元，每一所述功能单元对应至少一个性能指标，其特征在于，所述测试装置中预先存储有每一所述性能指标对应的模板数据和测试策略，所述测试方法包括：
确定待测试的所述功能单元和待测试的所述性能指标；
根据待测试的所述性能指标，调用对应的所述模板数据和所述测试策略；
根据待测试的所述功能单元和所述测试策略，对所述模板数据进行测试。


2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，确定待测试的所述功能单元和待测试的所述性能指标，包括：
导入所述显示面板的布局图；
从所述布局图中选取特定功能单元，并作为待测试的所述功能单元；
确定待测试的所述性能指标。


3.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，根据待测试的所述功能单元和所述测试策略，对所述模板数据进行测试，包括：
提取待测试的所述功能单元中的参数；
将所述参数导入至所述模板数据中，以对所述模板数据进行修改；
根据所述测试策略对修改后的所述模板数据进行测试。


4.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述功能单元包括至少一个子功能单元，所述测试方法还包括：
输出至少一个所述子功能单元分别针对待测试的所述性能指标的分项测试结果。


5.如权利要求4所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：
对至少一个所述子功能单元分别针对待测试的所述性能指标的分项测试结果进行汇总，得到待测试的所述功能单元针对待测试的所述性...

【专利技术属性】
技术研发人员：王醉，吕波，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44