电参数采样方法、采样装置、耳机和可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种电参数采样方法，该方法包括：获取电子设备当前的运行模式；根据所述运行模式确定所述电子设备的电参数的目标采样周期，其中，不同的运行模式对应不同的目标采样周期；按照所述采样周期对所述电子设备的电参数进行采样。本发明专利技术还公开了一种电参数采样装置、耳机和可读存储介质。本发明专利技术旨在实现电参数监控需求与电池续航能力的有效兼顾。

【技术实现步骤摘要】
电参数采样方法、采样装置、耳机和可读存储介质
本专利技术涉及电子设备
，尤其涉及电参数采样方法、电参数采样装置、耳机和可读存储介质。
技术介绍
目前，很多电子设备(例如耳机)均具有对其自身电参数监控的功能，以满足电量显示、安全运行等需求。电子设备在实现电参数监控过程中，一般是通过设置固定的采样周期对其实际运行的电参数进行采样，由于电参数的采样需要耗费电能，采样周期与耳机实际的耗能情况不匹配，采样周期过长则会影响电参数监控需求的实现，采样周期过短则会影响影响耳机电池的续航能力，因此目前电参数的采样周期无法兼顾保证电参数监控需求与电池续航能力。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种电参数采样方法，旨在实现电参数监控需求与电池续航能力的有效兼顾。为实现上述目的，本专利技术提供一种电参数采样方法，所述电参数采样方法包括以下步骤：获取电子设备当前的运行模式；根据所述运行模式确定所述电子设备的电参数的目标采样周期，其中，不同的运行模式对应不同的目标采样周期；按照所述采样周期对所述电子设备的电参数进行采样。可选地，所述根据所述运行模式确定所述电子设备的电参数的目标采样周期的步骤包括：获取所述运行模式关联存储的设定周期；根据所述设定周期确定所述目标采样周期；随所述运行模式对应的能耗增大，所述运行模式关联存储的设定周期而呈增大趋势。可选地，所述根据所述设定周期确定所述目标采样周期的步骤包括：当所述设定周期的数量多于一个时，获取所述电子设备当前的剩余电量；在多于一个所述设定周期中，将所述剩余电量对应的设定周期确定为所述目标采样周期；随所述剩余电量减小，所述剩余电量对应的设定周期呈增大趋势。可选地，所述设定周期包括第一设定周期和第二设定周期，所述在多于一个所述设定周期中，将所述剩余电量对应的设定周期确定为所述目标采样周期的步骤包括：当所述剩余电量小于或等于设定电量阈值时，将所述第一设定周期确定为所述目标采样周期；当所述剩余电量大于设定电量阈值时，将所述第二设定周期确定为所述目标采样周期；所述第一设定周期大于所述第二设定周期。可选地，所述根据所述设定周期确定所述目标采样周期的步骤包括：当所述设定周期的数量为一个时，将所述设定周期作为所述目标采样周期。可选地，所述获取所述运行模式关联存储的设定周期的步骤之前，还包括：获取所述运行模式对应的能耗等级；获取所述能耗等级对应的周期，并将所获取的周期与所述运行模式关联存储，形成所述运行模式关联存储的设定周期；所述运行模式的能耗越大，则对应的能耗等级越大，随所述能耗等级增大，所述能耗等级对应的周期呈增大趋势。可选地，所述获取所述运行模式对应的能耗等级的步骤包括：当所述电子设备处于所述运行模式时，检测所述电子设备的工作电流；确定所述工作电流所在的电流区间；将所述电流区间对应的设定等级，确定为所述运行模式对应的能耗等级；其中，随所述电流区间对应的工作电流增大，所述电流区间对应的设定等级呈增大趋势。此外，为了实现上述目的，本申请还提出一种电参数采样装置，所述电参数采样装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的电参数采样程序，所述电参数采样程序被所述处理器执行时实现如上任一项所述的电参数采样方法的步骤。此外，为了实现上述目的，本申请还提出一种耳机，所述耳机包括如上所述的电参数采样装置。此外，为了实现上述目的，本申请还提出一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有电参数采样程序，所述电参数采样程序被处理器执行时实现如上任一项所述的电参数采样方法的步骤。本专利技术提出的一种电参数采样方法，该方法中电子设备的电参数的目标采样周期并不是固定的，而是基于电子设备当前的运行模式确定的，目标采样周期随运行模式变化而变化，因此按照目标采样周期对电子设备的电参数进行采样时，可使电子设备的采样与当前运行模式所对应的能耗状况精准匹配，避免采样周期过长，保证电参数监控需求的实现，同时可避免采样周期过短，减少采样过程的耗能，有效保证电池续航能力，从而实现电参数监控需求与电池续航能力的有效兼顾。附图说明图1为本专利技术电参数采样装置一实施例运行涉及的硬件结构示意图；图2为本专利技术电参数采样方法一实施例的流程示意图；图3为本专利技术电参数采样方法另一实施例的流程示意图；图4为本专利技术电参数采样方法又一实施例的流程示意图。本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。本专利技术实施例的主要解决方案是：获取电子设备当前的运行模式；根据所述运行模式确定所述电子设备的电参数的目标采样周期，其中，不同的运行模式对应不同的目标采样周期；按照所述采样周期对所述电子设备的电参数进行采样。由于现有技术中，电子设备在实现电参数监控过程中，一般是通过设置固定的采样周期对其实际运行的电参数进行采样，由于电参数的采样需要耗费电能，采样周期与耳机实际的耗能情况不匹配，采样周期过长则会影响电参数监控需求的实现，采样周期过短则会影响影响耳机电池的续航能力。本专利技术提供上述的解决方案，旨在实现电参数监控需求与电池续航能力的有效兼顾。本专利技术实施例提出一种电参数采样装置，可应用于具有制冷调节作用的空调器等热泵系统。在本专利技术实施例中，参照图1，电参数采样装置包括：处理器1001(例如CPU)，存储器1002，电参数采样模块1003，计时器1004等。存储器1002可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器(non-volatilememory)，例如磁盘存储器。存储器1002可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。其中，电参数采样模块1003可用于对电子设备的电参数进行采样。在本实施例中，电参数采样模块1003具体为电压采样模块(如模数转换模块)。在其他实施例中电参数采样模块1003还可根据实际需要设置为测量其他类型电参数的采样模块，如电流采样模块。计时器1004可用于对电子设备的电参数采样过程中相关的时间信息进行计时(如采样周期)。存储器1002、电参数采样模块1003和计时器1004均与处理器1001连接。本领域技术人员可以理解，图1中示出的装置结构并不构成对装置的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。如图1所示，作为一种可读存储介质的存储器1002中可以包括电参数采样程序。在图1所示的装置中，处理器1001可以用于调用存储器1002中存储的电参数采样程序，并执行以下实施例中电参数采样方法的相关步骤操作。本专利技术实施例还提供一种电参数采样方法，主要用于对电子设备的电参数(如电流、电压、电功率等)进行采样。参照图2，提出本本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电参数采样方法，其特征在于，所述电参数采样方法包括以下步骤：/n获取电子设备当前的运行模式；/n根据所述运行模式确定所述电子设备的电参数的目标采样周期，其中，不同的运行模式对应不同的目标采样周期；/n按照所述采样周期对所述电子设备的电参数进行采样。/n

【技术特征摘要】
1.一种电参数采样方法，其特征在于，所述电参数采样方法包括以下步骤：
获取电子设备当前的运行模式；
根据所述运行模式确定所述电子设备的电参数的目标采样周期，其中，不同的运行模式对应不同的目标采样周期；
按照所述采样周期对所述电子设备的电参数进行采样。


2.如权利要求1所述的电参数采样方法，其特征在于，所述根据所述运行模式确定所述电子设备的电参数的目标采样周期的步骤包括：
获取所述运行模式关联存储的设定周期；
根据所述设定周期确定所述目标采样周期；
随所述运行模式对应的能耗增大，所述运行模式关联存储的设定周期而呈增大趋势。


3.如权利要求2所述的电参数采样方法，其特征在于，所述根据所述设定周期确定所述目标采样周期的步骤包括：
当所述设定周期的数量多于一个时，获取所述电子设备当前的剩余电量；
在多于一个所述设定周期中，将所述剩余电量对应的设定周期确定为所述目标采样周期；
随所述剩余电量减小，所述剩余电量对应的设定周期呈增大趋势。


4.如权利要求3所述的电参数采样方法，其特征在于，所述设定周期包括第一设定周期和第二设定周期，所述在多于一个所述设定周期中，将所述剩余电量对应的设定周期确定为所述目标采样周期的步骤包括：
当所述剩余电量小于或等于设定电量阈值时，将所述第一设定周期确定为所述目标采样周期；
当所述剩余电量大于设定电量阈值时，将所述第二设定周期确定为所述目标采样周期；
所述第一设定周期大于所述第二设定周期。


5.如权利要求2所述的电参数采样方法，其特征在于，所述根...

【专利技术属性】
技术研发人员：毕爱波，
申请(专利权)人：歌尔科技有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37