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本发明公开了一种电参数采样方法，该方法包括：获取电子设备当前的运行模式；根据所述运行模式确定所述电子设备的电参数的目标采样周期，其中，不同的运行模式对应不同的目标采样周期；按照所述采样周期对所述电子设备的电参数进行采样。本发明还公开了一种电...
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