多功能微阵列和方法技术

本发明专利技术描述了在固相基材１１上进行多分析物检测的检测装置，制备该装置的方法及其在分析和诊断过程中的应用。检测装置包括用检测点的阵列制作的固相基材１１，所述检测点具有通过通用结合配体１３与基材１１结合的分析物传感器１５。通用结合配体２２能够结合多分析物传感器２５Ａ，２５Ｂ和２５Ｃ，从而创建多功能分析。本发明专利技术还描述了制造检测装置的方法以及采用微印刷技术的分析方法。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
一种分析物检测装置，包括：ａ）基材；以及ｂ）基材上的检测点的阵列，各个检测点包括分析物传感器和第一结合配体；其中ｉ．分析物传感器通过结合配体与基材结合；ｉｉ．对不同分析物有多个分析物传感器；以及ｉｉｉ ．同样第一结合配体用于两种或两种以上不同的分析物传感器。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗伯特S马特森，雷蒙德C米尔顿，罗伯特J奥布雷姆斯基，约翰W西尔泽尔，
申请(专利权)人：贝克曼考尔特公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]