对于由纺织纤维组成的纵向运动的检验物料中的杂质进行检测和分级的方法，其特征在于，对于至少两种受杂质而影响的性能，检测并存储这些性能与各自一个标准值（４３）的偏差数值（４，５，４３ｂ）；将这些偏差的值（４）消除，除了按照一种规定法则的一种性能的值；由这留下的性能的数值确定一个偏差的合成值（５）和偏差在检验物料上的长度的一个值（４５）并按照这偏差和长度对杂质进行分级。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种对纵向运动的由纺织纤维组成的检验物料中的杂质进行检测和分级的方法。这种杂质尤其可以认为是与属于基本材料的纺织纤维具有不同的性能，例如具有不同颜色的纤维。一般破坏基本材料中纤维的正常布置的、并不是纤维状的或者甚至形成真正异物的杂质都是这样。由WO01/92875已知有一种这样的方法。应该连续地检测检验物料的两种不同的性能，如在一个电场中的电容变化以及光线通过检验物料的反射。检测和存储这些性能的测量值与标准值的偏差并将之画在一个座标系里，其中标出表示两种性能的座标值。通过两种性能的适合的预定阈值或极限就可以使第一种样式的杂质相对于第二种样式的杂质区分开来并接着也适当地进行不同的处理。对两种性能的信号各按自身的评判规定分开进行测量。通过连续的分析处理可以使例如植物性的杂质与非植物性的杂质区分开并有目标和有区别地从检验物料里分离出来。这种已知的方法的缺点尤其在于它虽然很适合于使某些杂质相互区分开，但更多地用来挑出可能的杂质最好可以用来识别一种杂质或者整个一组杂质，而相互并不区分。如在权利要求书中所表明的那样，本专利技术用一种方法来解决此任务，用此方法可以同时检测检验物料的多种性能并同时考虑到所有测量的性能，可以对杂质进行检测并以简单的方式进行分级。这如下来实现对于至少两种受杂质影响的性能，检测并存储这些性能与各自标准值的偏差值；将偏差值去除，除了按照一个预定规则的一种性能的值之外；由剩余下的性能的值来确定一个合成的偏差值和检验物体上偏差长度的一个值，并按照这种偏差和长度对杂质进行分级。由性能的偏差值应该最好首先确定一个组合值并为此组合值规定能够位于其中的部位，其中根据一个组合值所处的部位来确定应该消除哪些性能的值。为了检测这些性能的值例如可以用具有多种颜色的光照射检验物料。对每种颜色的光的反射应该分开进行测量并将所测值与标准值比较并作为偏差存储起来。偏差可以被理解为一个空间里的矢量。由偏差形成一个矢量和作为组合值，并为矢量和在空间里的终点规定了范围。根据终点所位于的范围的情况将至少第一个矢量去除，因而在一个至少有一个其它的矢量位于其中的平面里形成一个矢量和。确定其在这平面里的位置并根据所确定的位置去除一个或许存在的另外的矢量，因而由余下矢量的值求出一个强度，它与检验物料上的长度值一起被用于进行分级。杂质应在一个座标系里进行分级，该座标系的第一个轴表示出偏差的长度值，第二个轴表示出偏差大小值。第二个轴可以分配成多个区段用于各种不同性能的值。通过本专利技术可以实现的优点在于这样可以例如在一个纱线里对由于当前方法的限制而不能识别的杂质进行分级。因此就可以在一个纱线里按材料的类型来识别杂质并适当地分离。以下根据一个实施例并参照附图对本专利技术进行详细说明。附图所示为附图说明图1检验物料上所测得值的简图表示；图2所测得性能的一种表示方法；图3表示对其它测量值进行处理的一种方法；图4，5，6和7表示测量值的范围；图8表示一种典型的信号变化图；图9所测性能的另一种表示方法。如果为了对于由纺织纤维组成的纵向运动的检验物料里，例如一种纱线里的杂质进行检测和分级，用多色的光分开对这检验物料进行照射，那就可以测量在检验物料上反射的光。在专利申请CH20021901/02中已经描述了这种方式的照射。这样就得到了反射的测量值，它们在没有杂质的地方规定了一个平均值或标准值。若存在有杂质，那么根据颜色的不同反射的测量值会与标准值有偏差。图1表示了这些在由纺织纤维，例如象一种纱线，预制纱线或带组成的一种纵向运动的检验物料上所检测到的并与一个标准值有偏差的测量值相互如何变化以及如何能表示出来。这些各表示出检验物料一种性能的值，此处例如分别是某一种颜色的光的反射都可以作为矢量在一个直角座标系中表示出来。该座标系由两个轴2，3组成，其中每个轴线规定用于一种颜色的光的反射值。那么对于第一种颜色的反射的偏差沿着轴线2用一个矢量4表示，对于第二种颜色的反射的偏差则沿轴线3用一个矢量5表示。由矢量4和5可以按已知的方式求出一个组合值或者一个矢量和6。对于这矢量和6的终点7例如可以规定出部位8和9，它们除了用轴线2，3之外也用线10和11限定。这些线10，11相当于最大值，例如矢量4，5长度或用此所表示值的100％。对角线12分成两个部位8和9。图2表示一个座标系13，其中可以将检验物料的一种性能与一个标准值相比较的偏差与存在偏差的检验物料的长度一起表示出来。例如沿着水平轴线14表示出偏差的长度值，而沿着垂直轴线15则表示出与标准值的偏差大小值。轴线14此处例如可以理解为检验物料的一种性能的标准值。用一个在轴线14之上的点16此处表示了一种性能的值和在这检验物料上这种性能的长度值。图3对应于图2但表示了检验物料的三种不同的性能。那么相应地得出一种在一个此处表示为立方体30的空间内表示出三种性能的三维图。此处又规定了具有三种不同颜色的光在检验物料上的反射作为性能。根据检验物料的基本色的不同，在大多数情况下从一种黑色或者白色检验物料出发，因而光在黑色或白色检验物料上的反射可以认为是标准值。在这图3中，例如在黑色检验物料上的反射的一个标准值应该位于转角17处，或者在白色物料上则位于转角18处。相应地可以给另外的转角同样也配置以各种颜色，那么转角19为红色，转角20为蓝色，角21为绿色，转角22为黄色，转角23为品红，转角24为青绿色或绿松石色。矢量25，26和27此处各表示了在检验物料上红色的、蓝色的和绿色光的反射与一个标准值的偏差的测量值。由这些矢量25，26，27可以求出一个合成矢量28，它有一个终点29。为了评估合成矢量28应该将如图3中用立方体30所表示的空间分成几个部位，如这例如由图4可见到的那样。此处表示的立方体30是按图3所示按比例缩小。立方体30这里分成三个部位31，32和33，它们都共同地在立方体30的角18和17之间有一个对角线40。为了更加清楚起见，这三个部位31，32，33在图5中再次单个表示出来，若将它们移到一起，那就又形成了立方体30。当然也可以将这空间或立方体30分成与图4和5中所示的不同。例如象在图6中所示那样。此处立方体30分成六个部位34，35，36，37，38和39。在图7中再分别表示这些部位34-39。移近到一起它们又形成立方体30。立方体30的对角线40在每个部位34-39上都是分界线。图8表示一个信号变化图，如在对一种纵向运动的检验物料中的杂质进行检测时所出现的那样。若沿轴线41表示检验物料的长度值，而沿轴线42表示一个例如电信号43的值，那么传感器输出一个信号43。在图9中汇总了多个如图2所表示的用于多种性能的图。若规定将颜色作为性能，那么这些部位53，54，55例如用于蓝色、绿色和红色。这个图相当于按图2所示的三个图，它们上下迭置并在共同的轴14上。因此轴线15，15a和15b也就三次上下迭置。一种这样的图当然可以任意地伸展用于任意数量的性能。本专利技术的作用原理如下。用一个传感器，例如光学原理工作的并且已经由专利申请CH2002 1901/02所获知的传感器对一种检验物料进行检验，其方法是用光照射检验物料并检测在物料上反射的光，那样就得到一个信号43(图8)，该信号如下来产生将反射的光转换成本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
【专利技术属性】
技术研发人员：P·奥特，
申请(专利权)人：乌斯特技术股份公司，
类型：发明
国别省市：
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