一种用于轴瓦测量的调节式假轴制造技术

技术编号:25874665 阅读:23 留言:0更新日期:2020-10-09 21:49
本实用新型专利技术公开了一种用于轴瓦测量的调节式假轴,包括轴体,轴体包括公轴以及由多个轴块拼合成的轴套,公轴和轴套共同设置成公轴在内、轴套在外的同轴结构,公轴的外壁呈圆锥面设置,轴套内壁与公轴外壁配合相连,轴套外壁呈圆柱面设置,公轴轴向截面小的一端设有螺杆,螺杆设有调节螺母。本实用新型专利技术具有工艺简单、规格少、成本低、后期保养简单的特点,可以广泛应用于离心机检修领域。

【技术实现步骤摘要】
一种用于轴瓦测量的调节式假轴
本技术涉及离心机检修领域,特别是涉及一种用于轴瓦测量的调节式假轴。
技术介绍
离心机的检修流程中轴瓦的间隙测量是关键步骤,随着技术的发展,新型机组使用的轴瓦多为可倾瓦,目前测量最常用的方法是假轴法,然而目前的测量方法精确性不高。存在问题:1、假轴法测量,需要重新加工假轴,目前离心机组较多,轴直径规格较多,需要准备的假轴规格较多;2、假轴的加工成本偏高,后期保管和保养较为麻烦。3、使用阶梯轴假轴,还存在加工工艺较复杂,测量精确度不太高,测量范围偏小的问题,如果需要提高精度,一个区间的阶梯数会较多,需要加工的假轴长度会很长。
技术实现思路
本技术的目的是为了克服上述
技术介绍
的不足,提供一种用于轴瓦测量的调节式假轴,使其具有工艺简单、规格少、成本低、后期保养简单的特点。本技术提供的一种用于轴瓦测量的调节式假轴,包括轴体,所述轴体包括公轴以及由多个轴块拼合成的轴套,所述公轴和轴套共同设置成公轴在内、轴套在外的同轴结构,所述公轴的外壁呈圆锥面设置,所述轴套内壁与公轴外壁配合相连,所述轴套外壁呈圆柱面设置,所述公轴轴向截面小的一端设有螺杆,所述螺杆上设有调节螺母;所述公轴轴向截面小的一端直径为T,所述公轴轴向截面大的另一端直径为D,当各个轴块紧密拼合成轴套时轴套内径大的一端的内径尺寸为d,且D>d>T;所述调节螺母外径为H,所述当各个轴块紧密拼合成轴套时轴套内径小的一端的内径尺寸为h,且H>h。在上述技术方案中,所述公轴外壁与轴线之间的夹角α≤1°。在上述技术方案中,所述公轴轴向截面大的一端设有多棱体握把。在上述技术方案中,所述轴套由四块大小、形状相同的轴块组成。本技术用于轴瓦测量时,具有如下步骤:步骤一、将多个轴块围住公轴拼合成同轴设置的公轴和轴套,将调节螺母与螺杆螺纹连接;步骤二、将轴块、公轴、螺杆与调节螺母形成的假轴插入轴瓦形成的轴瓦环内;步骤三、向公轴一侧旋转调节螺母,使轴块与公轴发生相对位移,轴套外径尺寸不断增大,直至轴套外壁与轴瓦环内壁相抵靠,量取此时轴套外径即可得知轴瓦环内径尺寸。在上述技术方案中,所述步骤一之前,将尺寸在一定范围内的多个轴瓦环的内径A作为一个测量区间,制作符合规格的假轴,所述规格需要考虑到假轴的径向尺寸、轴向尺寸以及公轴外壁与轴线之间的夹角α,所述假轴的规格符合以下关系:h+2L·tgα+2B≤A≤D+2B,其中,A-轴瓦环的内径,D-公轴轴向截面大的一端直径,B-轴块径向尺寸小的一端的径向尺寸,h-各个轴块紧密拼合成轴套时轴套内径小的一端的内径尺寸,L-轴块的轴向长度,α-公轴外壁与轴线之间的夹角。在上述技术方案中,所述一个测量区间内轴瓦环的最大内径与最小内径的差值为5mm。在上述技术方案中,所述公轴外壁与轴线之间的夹角α≤1°。在上述技术方案中,所述公轴轴向截面大的一端设有多棱体握把。在上述技术方案中,所述轴套由四块大小、形状相同的轴块组成。本技术一种用于轴瓦测量的调节式假轴,具有以下有益效果:由于公轴与轴块的配合面为锥面,在调节螺母与螺杆的推动下,轴块可以与公轴发生相对滑动,滑动中实现轴套外径的增减,以此达到外径调整的目的,从而实现了轴径可调性能,可以精确地测量出轴瓦间隙。附图说明图1为本技术用于轴瓦测量的调节式假轴的结构示意图;图2为本技术用于轴瓦测量的调节式假轴中各部件尺寸关系示意图;图3为本技术用于轴瓦测量时的流程示意图。具体实施方式下面结合附图及实施例对本技术作进一步的详细描述,但该实施例不应理解为对本技术的限制。参见图1至图2,本技术用于轴瓦测量的调节式假轴,包括轴体,所述轴体包括公轴1以及由多个轴块2.1拼合成的轴套2,所述公轴1和轴套2共同设置成公轴1在内、轴套2在外的同轴结构,所述公轴1的外壁呈圆锥面设置,所述轴套2内壁与公轴1外壁配合相连,所述轴套2外壁呈圆柱面设置,所述公轴1轴向截面小的一端设有螺杆3,所述螺杆3上设有调节螺母4;所述公轴1轴向截面小的一端直径为T,所述公轴1轴向截面大的另一端直径为D,当各个轴块2.1紧密拼合成轴套2时轴套2内径大的一端的内径尺寸为d,且D>d>T;所述调节螺母4外径为H,所述当各个轴块2.1紧密拼合成轴套2时轴套2内径小的一端的内径尺寸为h,且H>h。所述公轴1外壁与轴线之间的夹角α≤1°。所述公轴1轴向截面大的一端设有多棱体握把5。所述轴套2由四块大小、形状相同的轴块2.1组成。参见图2,本技术用于轴瓦测量时,具有如下步骤:步骤一、将尺寸在一定范围内的多个轴瓦环的内径A作为一个测量区间,制作符合规格的假轴,所述规格需要考虑到假轴的径向尺寸、轴向尺寸以及公轴1外壁与轴线之间的夹角α,所述假轴的规格符合以下关系:h+2L·tgα+2B≤A≤D+2B,其中,A-轴瓦环的内径,D-公轴1轴向截面大的一端直径,B-轴块2.1径向尺寸小的一端的径向尺寸,h-各个轴块2.1紧密拼合成轴套2时轴套2内径小的一端的内径尺寸,L-轴块2.1的轴向长度,α-公轴1外壁与轴线之间的夹角;步骤二、将多个轴块2.1围住公轴1拼合成同轴设置的公轴1和轴套2,将调节螺母4与螺杆3螺纹连接;步骤三、将轴块2.1、公轴1、螺杆3与调节螺母4形成的假轴插入轴瓦6形成的轴瓦环内;步骤四、向公轴1一侧旋转调节螺母4,使轴块2.1与公轴1发生相对位移,轴套2外径尺寸不断增大,直至轴套2外壁与轴瓦环内壁相抵靠,量取此时轴套2外径即可得知轴瓦环内径尺寸。所述一个测量区间内轴瓦环的最大内径与最小内径的差值为5mm。参见图1至图2,由于公轴1与轴块2.1的配合面为锥面,在调节螺母4与螺杆3的推动下,轴块2.1可以与公轴1发生相对滑动,在由如图1或图2中X处向Y处运动的过程中,滑动中实现轴套2外径的增减,以此达到外径调整的目的,从而实现了轴径可调性能,可以精确地测量出轴瓦间隙。显然,本领域的技术人员可以对本技术进行各种改动和变型而不脱离本技术的精神和范围。这样,倘若本技术的这些修改和变型属于本技术权利要求及其等同技术的范围之内,则本技术也意图包含这些改动和变型在内。本说明书中未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于轴瓦测量的调节式假轴,包括轴体,其特征在于:所述轴体包括公轴(1)以及由多个轴块(2.1)拼合成的轴套(2),所述公轴(1)和轴套(2)共同设置成公轴(1)在内、轴套(2)在外的同轴结构,所述公轴(1)的外壁呈圆锥面设置,所述轴套(2)内壁与公轴(1)外壁配合相连,所述轴套(2)外壁呈圆柱面设置,所述公轴(1)轴向截面小的一端设有螺杆(3),所述螺杆(3)上设有调节螺母(4);所述公轴(1)轴向截面小的一端直径为T,所述公轴(1)轴向截面大的另一端直径为D,当各个轴块(2.1)紧密拼合成轴套(2)时轴套(2)内径大的一端的内径尺寸为d,且D>d>T;所述调节螺母(4)外径为H,所述当各个轴块(2.1)紧密拼合成轴套(2)时轴套(2)内径小的一端的内径尺寸为h,且H>h。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于轴瓦测量的调节式假轴,包括轴体,其特征在于:所述轴体包括公轴(1)以及由多个轴块(2.1)拼合成的轴套(2),所述公轴(1)和轴套(2)共同设置成公轴(1)在内、轴套(2)在外的同轴结构,所述公轴(1)的外壁呈圆锥面设置,所述轴套(2)内壁与公轴(1)外壁配合相连,所述轴套(2)外壁呈圆柱面设置,所述公轴(1)轴向截面小的一端设有螺杆(3),所述螺杆(3)上设有调节螺母(4);所述公轴(1)轴向截面小的一端直径为T,所述公轴(1)轴向截面大的另一端直径为D,当各个轴块(2.1)紧密拼合成轴套(2)时轴套(2)内径大的一端的内径尺寸为d...

【专利技术属性】
技术研发人员:沈拥军许国亮张艳龚凯
申请(专利权)人:武汉检安石化工程有限公司
类型:新型
国别省市:湖北;42

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