红外线气体浓度分析仪制造技术

本发明专利技术涉及一种红外线气体浓度分析仪。现有产品体积较大、不易维护。本发明专利技术包括光发射单元、光接收单元和数据处理单元。中空的光子晶体光纤一端和光发射单元的红外光源均连接在进气连接单元上，且位置对应。待测气体可以通过进气口通入光子晶体光纤。光子晶体光纤另一端和光接收单元的红外探测器连接在出气连接单元上，且位置对应。光子晶体光纤中的待测气体可以通过出气口排出。光发射单元的控制信号输入端和光接收单元的信号输出端均与数据处理单元电连接。本发明专利技术中直接将光子晶体光纤的中空芯层作为气室，体积小、性能好。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种气体浓度检测装置，尤其是一种红外线气体浓度分析仪，主要用来测量气体中某种或几种分子的浓度。
技术介绍
红外气体分析仪是利用光能量被气体分子选择特定频率吸收的吸收光谱原理，来测量气体的浓度。红外气体分析仪由光发射单元、气室、光接收单元、数据处理单元以及其它辅助单元组成。光发射单元包括各种红外光源，其发射的红外光射入气室，被气室中的气体吸收衰减后，照射到接收单元。接收单元一般包括红外探测器，它将红外光的吸收衰减变化量转化为电信号变化量，该电信号被数据处理单元处理后，即可得到被测气体中某些分子的浓度值。具体来说，光源发射出的特定波长的红外光穿过被测气体时，被测气体吸收，导致特定频率光的强度产生衰减，光强度的衰减与被测气体浓度相关。因此，通过测量光强度衰减信息就可以分析获得被测气体的浓度。例如专利号为CN85104270、CN85104309、CN92112896.7、CN94194491.3、CN00803825.2、CN00238371.3、CN95206150.3的专利所公开的
技术实现思路
。通常气室是含有被测气体的较大尺寸的封闭部件或者是一段开放的空间，红外光在其中是本文档来自技高网...

【技术保护点】
红外线气体浓度分析仪，包括光发射单元、光接收单元和数据处理单元，其特征在于中空的光子晶体光纤一端和光发射单元的红外光源均连接在进气连接单元上，并且光子晶体光纤的端口与光发射单元的红外光源位置对应，所述的进气连接单元为中空，设有进气口，待测气体可以通过进气口通入中空的光子晶体光纤；光子晶体光纤另一端和光接收单元的红外探测器连接在出气连接单元上，并且光子晶体光纤的端口与光接收单元的红外探测器位置对应，所述的出气连接单元为中空，设有出气口，光子晶体光纤中的待测气体可以通过出气口排出；光发射单元的控制信号输入端和光接收单元的信号输出端均与数据处理单元电连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：卢山鹰，
申请(专利权)人：杭州电子科技大学，
类型：发明
国别省市：86[中国|杭州]