一种五轴联动高精密检测平台制造技术

本发明专利技术公开了一种五轴联动高精密检测平台，包括底座、位于所述底座上的第一驱动模组、能够沿所述第一驱动模组长度方向进行运动的第二驱动模组、能够沿所述第二驱动模组长度方向进行运动的第一转动模组、位于所述第一转动模组转动端的第二转动模组、用于检测的检测模组以及驱动所述检测模组进行运动的第三驱动模组；所述第一驱动模组与所述第二驱动模组均为直线电机驱动模组，所述第一转动模组与所述第二转动模组均为力矩电机驱动模组，所述第三驱动模组为伺服电机驱动双轴模组，所述第二转动模组的转动端设置有载台，所述载台上设有气孔。本发明专利技术实现了对产品的高精度检测，能够对产品的弧度与曲面进行检测，能够对产品进行全方位检测。

【技术实现步骤摘要】
一种五轴联动高精密检测平台
本专利技术属于检测平台
，尤其涉及一种五轴联动高精密检测平台。
技术介绍
随着工业的快速发展，对于零件检测精度的要求越来越高，因此，检测平台的使用显得极为广泛，传统的检测平台多为三轴检测平台，这种检测平台存在以下缺陷：(1)检测范围受限，当需要对产品的弧度与曲面进行检测时，三轴检测平台无法完成；(2)检测的精度较低，传统的三轴检测平台往往都是采用伺服电机匹配丝杠的方式进行调节检测，导致精度较低；(3)检测不全面，当产品为不规则形状时，三轴检测平台无法对产品进行全面的检测。
技术实现思路
本专利技术克服了现有技术的不足，提供一种五轴联动高精密检测平台，以解决现有技术中存在的问题。为达到上述目的，本专利技术采用的技术方案为：一种五轴联动高精密检测平台，包括底座、位于所述底座上的第一驱动模组、能够沿所述第一驱动模组长度方向进行运动的第二驱动模组、能够沿所述第二驱动模组长度方向进行运动的第一转动模组、位于所述第一转动模组转动端的第二转动模组、用于检测的检测模组以及驱动所述检测模组进行运动的第三驱动模组；所述第一驱动模组与所述第二驱动模组均为直线电机驱动模组，所述第一转动模组与所述第二转动模组均为力矩电机驱动模组，所述第三驱动模组为伺服电机驱动双轴模组，所述第二转动模组的转动端设置有载台，所述载台上设有气孔。本专利技术一个较佳实施例中，所述第一驱动模组沿所述底座长度方向设置。本专利技术一个较佳实施例中，所述第二驱动模组通过第一滑动座与所述第一驱动模组连接。本专利技术一个较佳实施例中，所述第一转动模组通过第二滑动座与所述第二驱动模组连接。本专利技术一个较佳实施例中，所述第一转动模组包括支撑架、用于驱动的第一力矩电机以及位于所述第一力矩电机转轴端的第一转动轴，所述支撑架位于所述第二滑动座上，所述第一力矩电机与所述第一转动轴均安装于所述支撑架上。本专利技术一个较佳实施例中，所述第二转动模组包括第二力矩电机与位于所述第二力矩电机转轴端的转动块，所述第二力矩电机通过安装块安装于所述第一转动轴上，所述载台位于所述转动块上。本专利技术一个较佳实施例中，所述第三驱动模组通过支座与所述底座连接。本专利技术一个较佳实施例中，所述第三驱动模组包括Y轴驱动模组与能够沿所述Y轴驱动模组长度方向进行运动的X轴驱动模组，所述X轴驱动模组通过连接座与所述Y轴驱动模组连接。本专利技术一个较佳实施例中，所述检测模组包括检测相机与光源，所述检测相机通过安装座与所述X轴驱动模组连接。本专利技术一个较佳实施例中，还包括机架，所述底座位于所述机架上。本专利技术解决了
技术介绍
中存在的缺陷，本专利技术具备以下有益效果：本专利技术在底座、第一驱动模组、第二驱动模组、第一转动模组、第二转动模组、检测模组以及第三驱动模组的配合作用下，实现了对产品的高精度检测，能够对产品的弧度与曲面进行检测，检测精度高，相较于传统的三轴检测平台，能够更为全面的对产品进行检测。附图说明下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明；图1为本专利技术优选实施例的整体结构示意图；图2为本专利技术优选实施例一局部结构示意图；图3为本专利技术优选实施例另一局部结构示意图；图中：1、底座；2、第一驱动模组；3、第二驱动模组；4、第一转动模组；41、支撑架；42、第一力矩电机；43、第一转动轴；5、第二转动模组；51、第二力矩电机；52、转动块；6、检测模组；61、检测相机；62、光源；7、第三驱动模组；71、Y轴驱动模组；72、X轴驱动模组；8、载台；9、支座；10、机架。具体实施方式现在结合附图和实施例对本专利技术作进一步详细的说明，这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本专利技术的基本结构，因此其仅显示与本专利技术有关的构成。如图1至图3所示，一种五轴联动高精密检测平台，包括底座1、位于底座1上的第一驱动模组2、能够沿第一驱动模组2长度方向进行运动的第二驱动模组3、能够沿第二驱动模组3长度方向进行运动的第一转动模组4、位于第一转动模组4转动端的第二转动模组5、用于检测的检测模组6以及驱动检测模组6进行运动的第三驱动模组7；第一驱动模组2与第二驱动模组3均为直线电机驱动模组，第一转动模组4与第二转动模组5均为力矩电机驱动模组，第三驱动模组7为伺服电机驱动双轴模组，第二转动模组5的转动端设置有载台8，载台8上设有气孔。在本实施例中，将产品放置在载台8上，载台8上的气孔与外部抽气机连接，采用抽真空的方式将产品定位在载台8上，安装完成之后，在第一驱动模组2、第二驱动模组3、第一转动模组4、第二转动模组5的配合作用下，使产品移动至既定位置，与此同时，检测模组6在Y轴驱动模组71和X轴驱动模组72的配合作用下，移动至既定位置，此时，产品待检测位置与检测相机61位置对应，由检测模组6实现对产品待检测位置的检测。在本实施例中，第一驱动模组2与第二驱动模组3均为直线电机驱动模组，直线电机驱动模组包括定子与动子，定子为连续的磁体，动子为导电线圈绕组，当动子导电时，动子能够沿定子长度方向进行运动，而第一滑动座与第一驱动模组2的动子相连，第二滑动座与第二驱动模组3的动子相连。具体地，第一驱动模组2沿底座1长度方向设置。在本实施例中，第一转动模组4通过第二滑动座与第二驱动模组3连接。具体地，第一转动模组4包括支撑架41、用于驱动的第一力矩电机42以及位于第一力矩电机42转轴端的第一转动轴43，支撑架41位于第二滑动座上，第一力矩电机42与第一转动轴43均安装于支撑架41上，由第一力矩电机42驱动第一转动轴43进行转动，带动第二转动模组5进行转动。具体而言，第二转动模组5包括第二力矩电机51与位于第二力矩电机51转轴端的转动块52，第二力矩电机51通过安装块安装于第一转动轴43上，载台8位于转动块52上。在本实施例中，第三驱动模组7通过支座9与底座1连接。具体地，第三驱动模组7包括Y轴驱动模组71与能够沿Y轴驱动模组71长度方向进行运动的X轴驱动模组72，X轴驱动模组72通过连接座与Y轴驱动模组71连接，Y轴驱动模组71与X轴驱动模组72均采用伺服电机驱动丝杠转动的方式实现各部位之间的运动。在本实施例中，检测模组6包括检测相机61与光源62，检测相机61通过安装座与X轴驱动模组72连接，由Y轴驱动模组71与X轴驱动模组72对检测相机61的位置进行调节。在本实施例中，还包括机架10，底座1位于机架10上。总而言之，本专利技术在底座1、第一驱动模组2、第二驱动模组3、第一转动模组4、第二转动模组5、检测模组6以及第三驱动模组7的配合作用下，实现了对产品的高精度检测，能够对产品的弧度与曲面进行检测，检测精度高，相较于传统的三轴检测平台，能够更为全面的对产品进行检测。以上依据本专利技术的理想实施例为启示，通过上述的说明内容，相关人员完全可以在不偏离本项专利技术技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项专利技术的技术性范本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种五轴联动高精密检测平台，其特征在于，包括底座、位于所述底座上的第一驱动模组、能够沿所述第一驱动模组长度方向进行运动的第二驱动模组、能够沿所述第二驱动模组长度方向进行运动的第一转动模组、位于所述第一转动模组转动端的第二转动模组、用于检测的检测模组以及驱动所述检测模组进行运动的第三驱动模组；所述第一驱动模组与所述第二驱动模组均为直线电机驱动模组，所述第一转动模组与所述第二转动模组均为力矩电机驱动模组，所述第三驱动模组为伺服电机驱动双轴模组，所述第二转动模组的转动端设置有载台，所述载台上设有气孔。/n

【技术特征摘要】
1.一种五轴联动高精密检测平台，其特征在于，包括底座、位于所述底座上的第一驱动模组、能够沿所述第一驱动模组长度方向进行运动的第二驱动模组、能够沿所述第二驱动模组长度方向进行运动的第一转动模组、位于所述第一转动模组转动端的第二转动模组、用于检测的检测模组以及驱动所述检测模组进行运动的第三驱动模组；所述第一驱动模组与所述第二驱动模组均为直线电机驱动模组，所述第一转动模组与所述第二转动模组均为力矩电机驱动模组，所述第三驱动模组为伺服电机驱动双轴模组，所述第二转动模组的转动端设置有载台，所述载台上设有气孔。


2.根据权利要求1所述的一种五轴联动高精密检测平台，其特征在于，所述第一驱动模组沿所述底座长度方向设置。


3.根据权利要求1所述的一种五轴联动高精密检测平台，其特征在于，所述第二驱动模组通过第一滑动座与所述第一驱动模组连接。


4.根据权利要求1所述的一种五轴联动高精密检测平台，其特征在于，所述第一转动模组通过第二滑动座与所述第二驱动模组连接。


5.根据权利要求4所述的一种五轴联动高精密检测平台，其特征在于，所述第一转动模组包括支撑架、...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙孟祥，罗永红，蔡东，许锦铭，
申请(专利权)人：苏州泰科贝尔直驱电机有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32