快速检测滴丸剂外观质量的近红外漫反射光谱法制造技术

本发明专利技术提供了一种新型的滴丸剂外观质量快速检测方法。首先，使用傅立叶变换近红外光谱仪采集已知外观次品率的滴丸样品的近红外（ＮＩＲ）漫反射光谱，光谱扫描范围１００００－４０００ｃｍ↑［－１］，并对原始光谱进行预处理。然后，运用回归方法建立滴丸ＮＩＲ光谱与外观次品率之间的校正模型，并用此模型检测待测滴丸样品的外观次品率。本方法应用于复方丹参滴丸、柴胡滴丸和芪参益气滴丸外观质量的快速检测，结果表明，ＮＩＲ漫反射光谱法可直接检测滴丸剂外观次品率。该方法适用于滴丸剂外观质量的快速检测，是一种方便、快速、无损的绿色分析技术。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种新型的滴丸剂外观质量快速检测方法，具体涉及采用近红外(NIR)漫反射光谱法检测滴丸外观次品率，属于医药检测领域。背景知识近红外(Near Infrared，NIR)光指可见光(VIS)谱区到中红外光(MIR)谱区之间的电磁波，ASTM将近红外谱区的范围定义为780～2526nm(12820～3959cm-1)，其光谱信息来源于分子内部振动的倍频与合频，并且主要反映分子中C-H，N-H，O-H基团的倍频和合频振动吸收。漫反射光是光源出来的光进入样品内部经过多次反射、折射、衍射及吸收后返回样品表面的光，负载了样品的结构和组成信息。滴丸的颗粒大小、圆整度和表面粗糙度等是滴丸剂外观质量的主要考核指标，这些指标均会影响滴丸崩解速度，进而影响药物疗效，因此对滴丸剂的外观质量实施严格的控制是十分必要的。当前对滴丸剂的外观质量控制主要采用人工筛选方法，缺乏快速有效的检测手段，难以实现在线监控。本专利技术采用NIR漫反射光谱法，实现对滴丸剂外观质量的快速检测。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种滴丸剂外观质量的快速检测方法，主要包括下述步骤1.采集已知次品率的滴丸样品的近红外本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种滴丸剂外观质量快速检测方法，包括下列步骤：（１）采集已知次品率的滴丸样品的近红外漫反射光谱；（２）对原始光谱进行预处理，消除各种干扰因素引起的光谱偏差；（３）建立滴丸近红外漫反射光谱与其外观次品率之间的校正模型；（４）采集待测样品的近红外漫反射光谱；（５）应用所建模型对待测样品光谱进行预处理，预测待测样品的外观次品率。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：瞿海滨，刘雪松，程翼宇，李文，刘金平，章顺楠，刘占强，董海鸥，陈永，杨海雷，张继仲，曾凯，
申请(专利权)人：天津天士力制药股份有限公司，
类型：发明
国别省市：12[中国|天津]