近场通讯天线检测治具及近场通讯天线检测系统技术方案

本实用新型专利技术提供了一种近场通讯天线检测治具及检测系统，近场通讯天线检测治具包括基板、设于基板上的谐振天线，谐振天线呈环形，且具有用于放置待测天线的区域以及射频接入口，谐振天线包括主天线段、连接于主天线段两端的多个调节线以及用于导通调节线的零欧电阻，各个调节线平行设置且均为断路，零欧电阻设于其中一个调节线的断路处，以导通该调节线。本实用新型专利技术提供的近场通讯天线检测治具及检测系统，零欧电阻设置在不同的调节线上时，能够导通对应的调节线，从而调节谐振天线的大小，与不同大小的待测天线相匹配发生谐振。在谐振天线和待测天线发生谐振时，检测谐振天线发出的频率即可检测出待测天线的谐振频率。

【技术实现步骤摘要】
近场通讯天线检测治具及近场通讯天线检测系统
本技术属于天线
，更具体地说，是涉及一种近场通讯天线检测治具及近场通讯天线检测系统。
技术介绍
随着近场支付标准的确定，许多高端智能产品开始配置近场（NFC）支付功能。具有NFC支付功能的产品需要NFC芯片和NFC天线。NFC天线是一种近场耦合天线，其实现近场通讯的原理是采用磁耦合的形式，即采用线圈耦合的方式。随着NFC产品越来越普及，NFC天线的检测方式也越来越重要。目前，生产过程中对NFC天线的检测方法一般是通过顶针/弹片直馈的方式，采用LCR测试仪或者网络分析仪（NetworkAnalyzer）进行分析天线的频率等参数。通过顶针/弹片直馈的方式，天线上可能会有留痕迹，甚至损坏天线；通过网络分析仪的方式，因天线形状不一样，测试治具或者工具也可能不一样，需要根据具体天线制度特定的治具。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种近场通讯天线检测治具，以解决现有技术中存在的NFC天线检测需要不同形状的治具的技术问题。为实现上述目的，本技术采用的技术方案是：提供一种近场通讯天线检测治具，包括基板、设于所述基板上的谐振天线，所述谐振天线呈环形，且具有用于放置待测天线的区域以及用于连接网络分析仪的射频接入口，所述谐振天线包括主天线段、连接于所述主天线段两端的多个调节线以及用于导通所述调节线的零欧电阻，各个所述调节线平行设置且均为断路，所述零欧电阻设于其中一个所述调节线的断路处，以导通该调节线。进一步地，所述主天线段呈U形，各个所述调节线设于所述主天线段的开口处。进一步地，所述射频接入口至少具有一个正极接入点和一个负极接入点。进一步地，所述负极接入点的数量为四个且相互连接，且各个所述负极接入点围绕所述正极接入点设置。进一步地，所述基板上开设有用于定位的定位孔。进一步地，所述定位孔的数量为四个，且分别设于所述基板的四个角落处。本技术还提供一种近场通讯天线检测系统，包括上述的近场通讯天线检测治具，还包括网络分析仪以及射频连接线，所述射频连接线的两端分别连接于所述网络分析仪和所述近场通讯天线检测治具的射频接入口。本技术提供的近场通讯天线检测治具及近场通讯天线检测系统的有益效果在于：与现有技术相比，本技术近场通讯天线检测治具包括基板和谐振天线，谐振天线包括主天线段、多个调节线和零欧电阻。调节线与主天线段连接以使谐振天线成环形，调节线均为断路，零欧电阻设置在调节线的断路处使调节线导通。因此，零欧电阻设置在不同的调节线上时，能够导通对应的调节线，从而调节谐振天线的大小，与不同大小的待测天线相匹配发生谐振。在谐振天线和待测天线发生谐振时，检测谐振天线发出的频率即可检测出待测天线的谐振频率。该近场通讯天线检测治具通过调节零欧电阻的位置来匹配不同大小的待测天线，不用根据待测天线设计多种检测治具，提高适用性。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术实施例提供的近场通讯天线检测治具的结构示意图；图2为本技术实施例提供的近场通讯天线检测治具的工作原理图；图3为本技术实施例提供的近场通讯天线检测系统的结构示意图。其中，图中各附图标记：010-待测天线；1-近场通讯天线检测治具；11-基板；110-定位孔；12-谐振天线；121-主天线段；122-调节线；123-零欧电阻；13-射频接入口；131-正极接入点；132-负极接入点；2-射频连接线；3-网络分析仪。具体实施方式为了使本技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。请参阅图1及图2，现对本技术提供的近场通讯天线检测治具1进行说明，近场通讯天线检测治具1用于检测近场通讯天线的谐振频率等参数。在其中一个实施例中，近场通讯天线检测治具1包括基板11和谐振天线12，谐振天线12设置于基板11上，基板11的设置便于谐振天线12的走线，为谐振天线12的载体。谐振天线12呈环形，在谐振天线12馈电后，形成环形电流以及垂直于谐振天线12的磁场，与外界设备进行通讯。谐振天线12包括主天线段121、多个调节线122和零欧电阻123，调节线122本身为断路，且各个调节线122平行设置，均连接于主天线段121的两端，主天线段121与不同的调节线122形成回路时，形成的谐振天线12的大小各不相同。因此，调节零欧电阻123，使零欧电阻123导通不同的调节线122，即可调节谐振天线12的大小，与不同的待测天线010相匹配。谐振天线12与待测天线010的电容电感相匹配时，才容易发生谐振，从而检测谐振频率。谐振天线12具有用于放置待测天线010的区域，使待测天线010放置在基板11上检测。谐振天线12还具有射频接入口13，用于接入网络分析仪3，以检测谐振天线12的谐振频率，从而得出待测天线010的谐振频率。其中，该近场通讯天线检测治具1的检测原理是利用了谐振感应耦合原理。当待测天线010靠近谐振天线12时，如图2所示，两者将发生近场谐振感应耦合，待测天线010和谐振天线12发生频率共振，谐振天线12为初级线圈，待测天线010为次级线圈。从初级线圈去观察次级线圈时，次级线圈可以等效为一个由短路电感L和谐振电容C组成的谐振电路，其谐振频率f＝1/（2π√（CL))。对于每一个天线的短路电感L和谐振电容C都是固定的，所以每一个天线的谐振频率f也就是固定的，如待测天线010的面积变大（长度变长），则L加大或者说谐振电容C加大，频率f会减小。然后因待测天线010和谐振天线12发生场本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.近场通讯天线检测治具，其特征在于：包括基板、设于所述基板上的谐振天线，所述谐振天线呈环形，且具有用于放置待测天线的区域以及用于连接网络分析仪的射频接入口，所述谐振天线包括主天线段、连接于所述主天线段两端的多个调节线以及用于导通所述调节线的零欧电阻，各个所述调节线平行设置且均为断路，所述零欧电阻设于其中一个所述调节线的断路处，以导通该调节线。/n

【技术特征摘要】
1.近场通讯天线检测治具，其特征在于：包括基板、设于所述基板上的谐振天线，所述谐振天线呈环形，且具有用于放置待测天线的区域以及用于连接网络分析仪的射频接入口，所述谐振天线包括主天线段、连接于所述主天线段两端的多个调节线以及用于导通所述调节线的零欧电阻，各个所述调节线平行设置且均为断路，所述零欧电阻设于其中一个所述调节线的断路处，以导通该调节线。


2.如权利要求1所述的近场通讯天线检测治具，其特征在于：所述主天线段呈U形，各个所述调节线设于所述主天线段的开口处。


3.如权利要求1所述的近场通讯天线检测治具，其特征在于：所述射频接入口至少具有一个正极接入点和一个负极接入点。
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【专利技术属性】
技术研发人员：潘英鹤，苏志祥，苏瑞超，马超，
申请(专利权)人：昆山源博讯通信技术有限公司，昆山亿趣信息技术研究院有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32