一种射频发射机杂散辐射测试系统及测试方法技术方案

本发明专利技术提供一种射频发射机杂散辐射测试系统及测试方法，该系统是一种近场测试系统，测试场为微波暗室；伺服系统为安装在微波暗室内的一轴精密转台,待测射频发射机的天线设置在精密转台上；射频分系统包括矢量网络分析仪，所述的矢量网络分析仪利用测试探头接收待测射频发射机天线的辐射信号完成待测射频发射机天线幅相参数测试。该测试方法采用场测试方法。本发明专利技术是利用一轴转台配合探头阵列实现电磁场的球面近场采样。

【技术实现步骤摘要】
一种射频发射机杂散辐射测试系统及测试方法
本专利技术涉及杂散辐射测试领域，特别是一种射频发射机杂散辐射测试系统及测试方法。
技术介绍
通信发射整机包含功率发射机和天线，目前大规模MIMO、有源相控阵雷达以及新一代移动通信基站的发射机和天线均为一体化设计和生产，无法分离开来单独测试，因而必须采用能够测试整体辐射性能的空口测试方法。现代射频发射整机常工作于较宽的频带，即具有多个测试频点；同时每个频点具有多个波位，即通过相控的方式实现多个辐射方向图。同时由于射频器件和模块的非线性，会衍生出额外的频谱信号，一般称为杂散信号，这些信号同样可以通过天线辐射，进而产生了杂散发射方向图。杂散发射的频率成分主要包含射频谐波、寄生发射、互调产物、高次变频产物、宽带噪声等。通信整机主通道信号辐射性能以及杂散信号的发射性能是衡量移动基站、MIMO通信设备、有源相控阵整机性能的重要指标。随着现代通信技术的飞速发展，各种无线通信设备占用大量的频段资源，各种通信产品也会产生大量的杂散辐射，这些杂散信号污染了射频通信环境，轻则会干扰临近频道的通信，重则会导致其他通信设本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种射频发射机杂散辐射测试系统，是一种近场测试系统，包括测试场及伺服系统和射频分系统，在所述的测试场待测射频发射机的天线在伺服系统带动下运动，射频分系统接收待测射频发射机的射频信号进行处理获得测试结果；其特征在于：/n所述测试场为微波暗室(10)；/n所述的伺服系统为安装在微波暗室(10)内的一轴精密转台(11),待测射频发射机的天线(12)设置在精密转台(11)上；/n所述的射频分系统包括矢量网络分析仪，所述的矢量网络分析仪利用测试探头(14)接收待测射频发射机天线的辐射信号完成待测射频发射机天线幅相参数测试。/n

【技术特征摘要】
1.一种射频发射机杂散辐射测试系统，是一种近场测试系统，包括测试场及伺服系统和射频分系统，在所述的测试场待测射频发射机的天线在伺服系统带动下运动，射频分系统接收待测射频发射机的射频信号进行处理获得测试结果；其特征在于：
所述测试场为微波暗室(10)；
所述的伺服系统为安装在微波暗室(10)内的一轴精密转台(11),待测射频发射机的天线(12)设置在精密转台(11)上；
所述的射频分系统包括矢量网络分析仪，所述的矢量网络分析仪利用测试探头(14)接收待测射频发射机天线的辐射信号完成待测射频发射机天线幅相参数测试。


2.根据权利要求1所述的射频发射机杂散辐射测试系统，其特征在于：在所述的微波暗室(10)内还包括错助矢量网络分析仪一个端口发出射频激励信号给待测射频发射机天线的参考探头(13)。


3.根据权利要求2所述的射频发射机杂散辐射测试系统，其特征在于：所述的待测射频发射机天线采用相控阵天线，所述的测试探头(14)和参考探头(13)分别为双极化采样探头阵列和参考双极化探头。


4.根据权利要求3所述的射频发射机杂散辐射测试系统，其特征在于：所述的双极化采样探头阵列均布在微波暗室内，以待测射频发射机的相控阵天线为圆心的弧形探头架(15)上。


5.根据权利要求4所述的射频发射机杂散辐射测试系统，其特征在于：所述的精密转台(12)为最小步进为的单轴转台；按照下面公式计算：



式中，其中R为弧形探头架的半径，λmin最高频率的射频信号的波长。


6.根据权利要求5所述的射频发射机杂散辐射测试系统，其特征在于：还包括对双极化采样探头阵列的垂直极化分量和水平极化分量分别进行采样的装置，双极化采样探头阵列采集的多路水平极化信号通过单刀多掷开关合并为一路，多路垂直极化信号也通过单刀多掷开关合并为一路。


7.根据权利要求6所述的射频发射机杂散辐射测试系统，其特征在于：还包括90度电桥(17)与跳频滤波器(18)形成耦合滤波通道，耦合滤波通道分为四组，分别处理参考水平极化分量、参...

【专利技术属性】
技术研发人员：卜景鹏，官国阳，严方勇，刘忠程，
申请(专利权)人：广东圣大电子有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44