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用于手征光学外差法的系统和方法技术方案

技术编号:2580793 阅读:244 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种用于改进对样品的手征特性的检测的设备和方法,其首先以第一调制频率ω的探测光束调制,并用第二调制频率φ进一步调制。非线性光电检测器使该第一调制与该第二调制混合以在互调制边频带处分析频率分量,该非线性光电检测器可以包括多个检测器部分以形成平衡接收器,其中该互调制边频带级与该样品的手征光学特性相关。该互调制边频带可以为相加边频带或相减边频带。可以将锁相检测器用于接收从该非线性光电检测器输出的信号并产生不同调制频率的调制信号。另外,该非线性光检测器可以对该互调制边频带级的比值,例如(φ+2ω)/(φ+ω),进行分析,以获得与该样品的该手征特性线性相关的信号。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于光学检测的系统,尤其是,涉及利用非线性检测器使大的光学调制信号与所关注的弱的手征光学信号在能够对接收到的光学互调制边频带进行分析的光电检测器处混合,以实现增强的和更灵敏的检测方案的系统和方法。
技术介绍
通常,“手征”物体是不可与其镜像重叠的物体。换句话说,手征物体与其镜像在构造或组成上类似,但是在取向上不同。手征物体的实例包括人手、机械螺钉、或螺旋桨。尽管其与镜像看上去相似,但是对于其部件,它们具有不同的特征取向(例如,手上的手指、螺钉的螺线取向、以及螺旋桨叶片的斜度取向)。在立体化学中,将两种形式的手征对象(例如分子)称为对映异构体,其为一种立体异构体类型。对映异构体具有相同的化学纯度(例如,相同的质量、吸收率、折射率、维尔德(Verdet)常数等),但是具有不同的对称构造或对称特性。仅含有一种对映异构形式的手征分子的集合通常被称作纯粹对映、对映异构纯的、或光学纯的。然而,与其他立体异构不同,对映异构体通常难以分离和测定数量。在过去二十年,手征分子的检测在制药工业受到日益增加的关注。该关注至少部分地被普遍发生的对映异构体之间的显著不同的药理学作用所推进。与对本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于检测样品的手征特性的方法,包括:产生以第一调制频率ω调制的光束;以第二调制频率φ对该光束进行调制;在非线性光电检测器处接收所述被调制的光束;以及从所述非线性光电检测器的混合输出分析至少一个互调制边频带频率,以确定所述样品的手征特性。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:PR吉布斯JD毕布
申请(专利权)人:斯埃诺公司
类型:发明
国别省市:US[美国]

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