用于手征性分析的微分光学技术制造技术

一种微分方法，该方法确定对光传输的限定点的偏移（例如偏离零位±４５°，或零位９０°和平行０°），并利用两个信号的耦合特性来用于共模噪声衰减和信号增强。调制（１３０）施加到手征混合物（１４０）的光束（１０４），且然后通过偏振器或棱镜（１４２）将其分成第一束（１４６）和相关的正交束（１４８）。在执行信号的微分比较（１７０）之前将第一束（１４６）和正交束（１４８）转化成电子信号（１５０）（１５２），以检测手征混合物内的希望的手征物质。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及手征检测器，更具体涉及一种用于对手征样品的非接触、快速和准确地筛分的微分旋光色散检测器。
技术介绍
光学异构体，通常称为对映异构体，在几个领域中是重要的，这些领域包括药物、化学、精油、调料和食品工业。绝大多数有用的药物包含一种或几种手性中心。由于已经知道，错误的对映异构体可能引起有害的副作用，因此获得高的治疗对映异构体纯度是必要的。这样，制造对映异构体的纯配方和检验光学异构体是至关重要的。但是，即使使用本领域当前的分析仪器，这两种行为仍具有显著的挑战。对于研究者，目前还没有用于高产量的对映异构体的纯度筛选的通常可用的方法。已经存在对于手征性分析技术的公知的改进，尤其是在减小与对由于手征样品引起的附加旋光进行的测量相关的噪声的领域中。利用电或光学装置来过滤噪声的单光束法是十分普遍的(例如参见WO 01/06918)。其它公知的方法通过与参考单元比较(美国专利4,912,059)、在相位正弦信号中混合(美国专利5,477,327)、在信号与参考光束之间切换(美国专利5,621,528)、或利用具有两个正交线性偏振波的双频激光源(美国专利5,896,198和6,327,0本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测手征样品的旋光角度的方法，包括下述步骤：产生输入光束；使所述输入光束偏振，以获得线性偏振光束；调制所述线性偏振光束，使其至少基本上在光传输的中点附近，以产生调制的光束；将所述调制的光束传输通过样品溶液以获得信号束；将所述信号束分成第一偏振信号束和第二偏振信号束，所述第二偏振信号束与所述第一偏振信号束正交；测量所述第一偏振信号束和第二偏振信号束的光强度；将所述第一偏振信号束和第二偏振信号束的光强度转换成第一信号电压或电流和第二信号电压或电流；以及从所述第一信号电压或电流中减去所述第二信号电压或电流，以获得相应于所述手征样品的旋光角度的两倍的输出信号电压或电流。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：PR吉布斯，
申请(专利权)人：斯埃诺公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]