层叠杂交荧光放大磁分离检测ＤＮＡ的方法技术

本发明专利技术公开了一种层叠杂交荧光放大磁分离检测ＤＮＡ的方法。它的技术要点在于包括下列步骤：在ＳｉＯ↓［２］纳米颗粒上同时标记ａ，ｂ两种序列不同的ＤＮＡ；在磁性纳米颗粒表面标记ｅ序列的ＤＮＡ；第一次三明治杂交：靶ＤＮＡ的一端与ＳｉＯ↓［２］纳米颗粒上ｂ序列的ＤＮＡ杂交，靶ＤＮＡ的另一端与磁性纳米颗粒上ｅ序列的ＤＮＡ杂交；另一种ＳｉＯ↓［２］纳米颗粒上同时标记ｃ，ｄ两种序列不同的ＤＮＡ；另一种ＳｉＯ↓［２］纳米颗粒上ｃ序列的ＤＮＡ与荧光ＤＮＡ杂交；第二次三明治杂交：第一次三明治杂交后的ＳｉＯ↓［２］纳米颗粒上ａ序列的ＤＮＡ与连接ＤＮＡ的一端杂交，连接ＤＮＡ的另一端与荧光杂交后的纳米颗粒上ｄ序列的ＤＮＡ杂交；第二次三明治杂交后产物经磁分离清洗后，去除多余的荧光分子和非特异性吸附；再将第二次三明治杂交后产物ＤＮＡ变性，解链后的荧光ＤＮＡ即可进行荧光检测。本发明专利技术克服了现有技术的不足，提供了一种操作简单、超灵敏的ＤＮＡ检测方法。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种层叠杂交荧光放大磁分离检测ＤＮＡ的方法，其特征在于包括下列步骤：（Ａ）、在ＳｉＯ↓［２］纳米颗粒上同时标记ａ，ｂ两种序列不同的ＤＮＡ；（Ｂ）、在磁性纳米颗粒表面标记ｅ序列的ＤＮＡ；（Ｃ）、第一次三明治杂交：靶ＤＮＡ的一端与ＳｉＯ↓［２］纳米颗粒上ｂ序列的ＤＮＡ杂交，靶ＤＮＡ的另一端与磁性纳米颗粒上ｅ序列的ＤＮＡ杂交；（Ｄ）、另一种ＳｉＯ↓［２］纳米颗粒上同时标记ｃ，ｄ两种序列不同的ＤＮＡ；（Ｅ）、另一种ＳｉＯ↓［２］纳米颗粒上ｃ序列的ＤＮＡ与荧光ＤＮＡ杂交；（Ｆ）、第二次三明治杂交：第一次三明治杂交后的ＳｉＯ↓［２］纳米颗粒上ａ序列的ＤＮＡ与连接ＤＮＡ的一端杂交，连接ＤＮＡ的另一端与荧光杂交后的纳米颗粒上ｄ序列的ＤＮＡ杂交；（Ｇ）、第二次三明治杂交后产物经磁分离清洗后，去除多余的荧光分子和非特异性吸附；再将第二次三明治杂交后产物ＤＮＡ变性，解链后的荧光ＤＮＡ即可进行荧光检测。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：聂立波，贺全国，陈洪，何农跃，
申请(专利权)人：中山耐乐生物科技有限公司，
类型：发明
国别省市：44[中国|广东]