一种荧光粉老化的检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种荧光粉老化的检测装置，包括蓝光灯、金属管、金属盖及光电检测仪；蓝光灯包括灯板及若干个蓝光芯片，若干个蓝光芯片阵列排布封装于灯板的第一表面上，金属管的下端嵌接入圆形凹槽内，金属管的内部安装有玻璃片，玻璃片将金属管的内腔沿轴向分为上下设置的第一内腔和第二内腔，光电检测仪包括检测仪本体、检测线路及检测探头，当进行荧光粉的老化检测时，将荧光粉平铺于玻璃片上，本发明专利技术提供的检测装置可以模拟极端条件下荧光粉的工作情况及老化程度，同时也可以控制蓝光灯的开关模拟实际工作中荧光粉的工作情况和老化程度。

【技术实现步骤摘要】
一种荧光粉老化的检测装置
本专利技术属于光电性能检测
，尤其涉及一种荧光粉老化的检测装置。
技术介绍
随着光电技术不断的高速发展，照明技术不断的进步，最近LED日光灯照明慢慢替代节能灯照明，成为最早进入室内的LED灯具之一。但是LED灯具的光电转换效率约为20％，其余大部分转化为热。影响LED寿命和效率的主要问题来源于LED产生的热聚集于荧光材料而导致的热淬灭和光衰。因此解决这一问题的本质在于提高荧光材料的导热系数和热分布均匀性。研究发现在LED封装中必须根据LED产品的需求，选择不同的荧光粉浓度、形貌和颗粒分布等荧光粉发热是LED光效衰减和可靠性降低的一个重要的原因。不管哪种封装方式，荧光粉的温度均高于LED芯片的温度。然而荧光粉作为典型的光致发光材料，热来源于光而又影响光，微观上看，发光是辐射跃迁，而发热是非辐射跃迁，二者相互竞争又相互影响。而现有的大部分研究均单独研究光与热，忽略了荧光粉光热转化的本质。同时目前荧光光谱仪可以探究不同温度下荧光体的光谱以及荧光的淬灭方面的信息。但是用于探究荧光粉在极端条件下的光学性能的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种荧光粉老化的检测装置，其特征在于，包括蓝光灯、金属管、金属盖及光电检测仪；/n所述蓝光灯包括灯板及若干个蓝光芯片，所述灯板包括相对的第一表面和第二表面，若干个蓝光芯片阵列排布封装于所述第一表面上，所述第一表面沿若干个所述蓝光芯片的外周分别对应开设有若干个圆形凹槽；/n所述金属管的下端嵌接入所述圆形凹槽内，所述金属管的内部安装有玻璃片，所述玻璃片将所述金属管的内腔沿轴向分为上下设置的第一内腔和第二内腔，所述第一内腔沿轴向的长度较所述第二内腔沿轴向的长度小；/n所述金属盖盖设于所述灯板的第一表面上方；/n所述光电检测仪包括检测仪本体、检测线路及检测探头，所述检测仪本体上设置有显示屏及开关，...

【技术特征摘要】
1.一种荧光粉老化的检测装置，其特征在于，包括蓝光灯、金属管、金属盖及光电检测仪；
所述蓝光灯包括灯板及若干个蓝光芯片，所述灯板包括相对的第一表面和第二表面，若干个蓝光芯片阵列排布封装于所述第一表面上，所述第一表面沿若干个所述蓝光芯片的外周分别对应开设有若干个圆形凹槽；
所述金属管的下端嵌接入所述圆形凹槽内，所述金属管的内部安装有玻璃片，所述玻璃片将所述金属管的内腔沿轴向分为上下设置的第一内腔和第二内腔，所述第一内腔沿轴向的长度较所述第二内腔沿轴向的长度小；
所述金属盖盖设于所述灯板的第一表面上方；
所述光电检测仪包括检测仪本体、检测线路及检测探头，所述检测仪本体上设置有显示屏及开关，所述检测线路一端与所述检测仪本体相连，另一端伸出于所述检测仪本体的一侧，所述检测线路远离所述检测仪本体的一端连接所述检测探头，所述检测探头的直径与所述第一内腔的内径相等；
当进行荧光粉的老化检测时，将荧光粉平铺于所述玻璃片上，所述检测探头插入所述第一内腔内进行检测，当所述检测装置处于不检测状态时，所述检测探头从所述第一内腔内取出，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：庞尔跃，陈跃，钱幸璐，邹军，石明明，
申请(专利权)人：上海应用技术大学，
类型：发明
国别省市：上海;31