粒子计数器制造技术

提供一种能够利用比较简单的结构有效地降低因各种原因所导致的乱真计数的粒子计数器。本发明专利技术的用于测定样品中所含的漂浮粒子的个数、求得样品中的粒子浓度的粒子计数器具备：存储部（２１），存储不存在粒子时的光电变换器（９）所输出的直流电平与乱真计数的发生频率的关系式；减法处理部（２２），参照该存储部（２１）中存储的上述关系式，求得测定开始时刻与光电变换器（９）所输出的直流电平相对应的乱真计数的发生频率，从测定开始后的离散值中减去基于该乱真计数的发生频率的值。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于测定样品中所含漂浮粒子的个数、求得样品中的 粒子浓度的粒子计数器。
技术介绍
即使样品中不存在大小可测定的粒子，粒子计数器中也存在显示为离散值(discrete value)的所谓的乱真计数。作为乱真计数产生的原 因，被认为是激光光源产生的噪声、光电变换器产生的噪声、各电路 中的随机的电压变动所导致的噪声、从外部侵入的宇宙射线等。因此，为了减少激光光源产生的噪声，已知如下技术(例如，参 照专利文献1):利用输出在直流电流中叠加有高频成分的驱动电流的 激光驱动电路来驱动激光二极管，将激光二极管的纵模设定为多模。专利文献1:特开平9-178645号公报但是，在专利文献1中所记载的粒子计数器中，可降低激光二极 管所导致的乱真计数，但是，存在无法应付其他因素所造成的乱真计 数的问题。
技术实现思路
本专利技术是鉴于现有技术中所存在的这样的问题而提出，其目的是 提供一种利用比较简单的结构就能够有效地降低由于各种原因所产生 的乱真计数的粒子计数器。用于解决上述课题的第1方面的专利技术是一种粒子计数器，测定样 品中所含漂浮粒子的个数，求得样品中的粒子浓度，其具有存储部， 存储预先求本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种粒子计数器，测定样品中所含的漂浮粒子的个数，求得样品中的粒子浓度，其特征在于，具有：　　　　存储部，存储预先求得的乱真计数的发生频率；减法处理部，从测定开始后的离散值中减去基于该存储部中存储的上述乱真计数的发生频率的值。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：中岛康贵，松田朋信，
申请(专利权)人：理音株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]