放大器测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种放大器测试装置，包括测试模块以及均与待测试放大器连接的控制终端和射频开关；测试模块通过射频开关构建用于对待测试放大器进行测试的至少一组测试回路，一组测试回路包括一个触发通道和一个测试通道；控制终端用于：控制射频开关切换以连通被选取的测试回路的触发通道，进而令待测试放大器通过触发通道接收测试模块发送的触发信号，并根据触发信号生成待测试信号；控制射频开关切换以连通被选取的测试回路的测试通道，进而令待测试放大器通过测试通道将待测试信号输出至测试模块；控制测试模块对待测试信号进行测试分析，接收测试模块输出的测试分析结果。本发明专利技术的测试过程更加快捷、安全，测试结果更准确、完整。

【技术实现步骤摘要】
放大器测试装置
本专利技术涉及放大器测试
，尤其涉及一种放大器测试装置。
技术介绍
随着移动通讯技术的发展，对通信系统中的射频功率放大器要求也越来越高，而射频功率放大器的性能优劣决定了整个通信系统的质量，因此，测试和掌握射频功率放大器的性能就变得尤为重要。现有技术中的射频功率放大器的测试系统，主要是通过一个固定的信号产生源和一种信号分析设备对射频功率放大器进行简单的性能分析，该方案生成的测试分析结果往往准确率较低，不能够准确的反映出射频功率放大器的性能信息；并且，现有技术中的测试系统仅能针对测试需求与其匹配的部分射频功率放大器进行测试，适用性低，测试过程不够智能化。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种放大器测试装置，以提高放大器测试装置的适用性，并提升了放大器测试装置的智能化。一种放大器测试装置，包括测试模块以及均与待测试放大器连接的控制终端和射频开关；所述测试模块连接所述射频开关以及所述控制终端；所述射频开关连接所述控制终端；所述测试模块通过所述射频开关构建用于对所述待测试放大器进行测试的至少一组测试回路，一组测试回路包括一个触发通道和一个测试通道；所述控制终端用于：在根据预设选取规则选取一组测试回路之后，控制所述射频开关切换以连通被选取的所述测试回路的触发通道，进而令所述待测试放大器通过所述触发通道接收所述测试模块发送的触发信号，并根据所述触发信号生成待测试信号；控制所述射频开关切换以连通被选取的所述测试回路的测试通道，进而令所述待测试放大器通过所述测试通道将所述待测试信号输出至所述测试模块；控制所述测试模块对所述待测试信号进行测试分析，接收所述测试模块输出的测试分析结果。上述放大器测试装置，包括测试模块以及均与待测试放大器连接的控制终端和射频开关；测试模块通过射频开关构建用于对待测试放大器进行测试的至少一组测试回路，一组测试回路包括一个触发通道和一个测试通道；控制终端用于：控制射频开关切换以连通被选取的测试回路的触发通道，进而令待测试放大器通过触发通道接收测试模块发送的触发信号，并根据触发信号生成待测试信号；控制射频开关切换以连通被选取的测试回路的测试通道，进而令待测试放大器通过测试通道将待测试信号输出至测试模块；控制测试模块对待测试信号进行测试分析，接收测试模块输出的测试分析结果。本专利技术的测试过程更加快捷、安全，测试结果更准确、完整。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对本专利技术实施例的描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术一实施例中放大器测试装置的一原理框图；图2是本专利技术一实施例中放大器测试装置的另一原理框图；图3是本专利技术一实施例中放大器测试装置的另一原理框图；图4是本专利技术一实施例中放大器测试装置的另一原理框图。其中，图中各附图标记：11-控制终端；12-测试模块；13-射频开关；14-待测试放大器；15-耦合器；16-功率监测模块；17-电源模块；18-通信模块；19-转发模块；121-频谱分析模块；122-噪声源模块；123-信号产生模块；124-矢量网络分析模块。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。在一实施例中，如图1所示，提供一种放大器测试装置，包括测试模块12以及均与待测试放大器14连接的控制终端11和射频开关13；所述测试模块12连接所述射频开关13以及所述控制终端11；所述射频开关13连接所述控制终端11；所述测试模块12通过所述射频开关13构建用于对所述待测试放大器14进行测试的至少一组测试回路，一组测试回路包括一个触发通道和一个测试通道；其中，测试模块12通过触发通道向待测试放大器14发送触发信号，待测试放大器14通过测试通道向测试模块12发送待测试信号。待测试放大器14可以为低噪声放大器（LNA，LowNoiseAmplifier）或者功率放大器（PA，PowerAmplifier）等需要进行测试的芯片或者通信单元。射频开关13可以为单刀多掷开关，该射频开关13用于切换不同的测试回路，也即通过切换不同的触发通道和测试通道，以实现切换不同的测试回路，使得测试模块12对待测试放大器14发送的待测试信号进行多样性测试分析，优选地，本专利技术中的射频开关13是通过两个射频子开关组成的，一个射频子开关用于切换至测试模块，以令触发通道连通；一个射频子开关用于切换至测试模块，以令测试通道连通。控制终端11用于实现控制测试模块对待测试放大器14进行自动化测试（也即用户可以在控制终端11中根据测试需求输入相应的测试逻辑代码，在输入测试逻辑代码之后，该控制终端11能够自动识别输入的测试逻辑代码，并通过被识别的测试逻辑代码控制放大器测试装置中的测试模块对待测试放大器14进行测试，实现自动化测试），该控制终端11可以但不限于各种个人计算机、笔记本电脑、智能手机、平板电脑和便携式可穿戴设备。可选地，控制终端11可以直接与待测试放大器14直接连接（此时控制终端与待测试放大器的连接方式应满足：控制终端应在给待测试放大器供电的基础上，与待测试放大器建立通信连接）；控制终端11也可以通过通信模块、电源模块等中间模块连接待测试放大器14。所述控制终端11用于：在根据预设选取规则选取一组测试回路之后，控制所述射频开关13切换以连通被选取的所述测试回路的触发通道，进而令所述待测试放大器14通过所述触发通道接收所述测试模块12发送的触发信号，并根据所述触发信号生成待测试信号。其中，预设选取规则可以是指随机选择任一测试回路，或者根据测试需求进行选择。触发信号为用于触发待测试放大器14生成待测试信号发送至测试模块12进行测试的信号。该触发信号可以为噪声信号、射频信号或者包含噪声信号或者射频信号的触发指令中的至少一项。待测试信号为待测试放大器14对接收到的信号进行放大处理之后得到的信号。具体地，在根据预设选取规则选取一组测试回路之后，控制终端11控制射频开关13切换至测试模块12，以连通被选取的测试回路中的触发通道，进而令待测试放大器14通过触发通道接收测试模块12发送的触发信号（可以理解地，在射频开关13没有切换连通被选取的测试回路的触发通道时，待测试放大器14无法通过触发通道接收测试模块12发送的触发信号），并根据触发信号生成待测试信号，以供测试模块12对待测试信号进行测试分析。进一步地，该射频开关13由两个射频子开关（第一射频子开关和第二射频子开关）组成的，也即在根据预设选取规则选取一组测试回路之后，控制终端11控制第一射频子本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种放大器测试装置，其特征在于，包括测试模块以及均与待测试放大器连接的控制终端和射频开关；所述测试模块连接所述射频开关以及所述控制终端；所述射频开关连接所述控制终端；所述测试模块通过所述射频开关构建用于对所述待测试放大器进行测试的至少一组测试回路，一组测试回路包括一个触发通道和一个测试通道；/n所述控制终端用于：/n在根据预设选取规则选取一组测试回路之后，控制所述射频开关切换以连通被选取的所述测试回路的触发通道，进而令所述待测试放大器通过所述触发通道接收所述测试模块发送的触发信号，并根据所述触发信号生成待测试信号；/n控制所述射频开关切换以连通被选取的所述测试回路的测试通道，进而令所述待测试放大器通过所述测试通道将所述待测试信号输出至所述测试模块；/n控制所述测试模块对所述待测试信号进行测试分析，接收所述测试模块输出的测试分析结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种放大器测试装置，其特征在于，包括测试模块以及均与待测试放大器连接的控制终端和射频开关；所述测试模块连接所述射频开关以及所述控制终端；所述射频开关连接所述控制终端；所述测试模块通过所述射频开关构建用于对所述待测试放大器进行测试的至少一组测试回路，一组测试回路包括一个触发通道和一个测试通道；
所述控制终端用于：
在根据预设选取规则选取一组测试回路之后，控制所述射频开关切换以连通被选取的所述测试回路的触发通道，进而令所述待测试放大器通过所述触发通道接收所述测试模块发送的触发信号，并根据所述触发信号生成待测试信号；
控制所述射频开关切换以连通被选取的所述测试回路的测试通道，进而令所述待测试放大器通过所述测试通道将所述待测试信号输出至所述测试模块；
控制所述测试模块对所述待测试信号进行测试分析，接收所述测试模块输出的测试分析结果。


2.如权利要求1所述的放大器测试装置，其特征在于，所述测试模块包括频谱分析模块以及噪声源模块；所述频谱分析模块与所述射频开关以及所述控制终端连接；所述噪声源模块连接在所述频谱分析模块以及所述射频开关模块之间；所述测试回路包括第一回路；所述第一回路包括由顺次连接的所述频谱分析模块、所述噪声源模块和所述射频开关构建的第一触发通道，以及由顺次连接的所述射频开关和所述频谱分析模块构建的第一测试通道；
所述在根据预设选取规则选取一组测试回路之后，控制所述射频开关切换以连通被选取的所述测试回路的触发通道，进而令所述待测试放大器通过所述触发通道接收所述测试模块发送的触发信号，并根据所述触发信号生成待测试信号，包括：
在根据预设选取规则选取第一测试回路之后，控制所述频谱分析模块驱动所述噪声源模块生成噪声信号；
控制所述射频开关切换至所述噪声源模块，以令所述第一触发通道连通；
令所述待测试放大器通过所述第一触发通道接收所述噪声源模块发送的所述噪声信号，并对所述噪声信号进行放大；
所述控制所述射频开关切换以连通被选取的所述测试回路的测试通道，进而令所述待测试放大器通过所述测试通道将所述待测试信号输出至所述测试模块，包括：
控制所述射频开关切换至所述频谱分析模块，以令所述第一测试通道连通；
令所述待测试放大器通过所述第一测试通道将放大后的噪声信号输出至所述频谱分析模块；
所述控制所述测试模块对所述待测试信号进行测试分析，接收所述测试模块输出的测试分析结果，包括：
控制所述频谱分析模块对放大后的噪声信号进行测试分析，接收所述频谱分析模块输出的第一测试分析结果。


3.如权利要求2所述的放大器测试装置，其特征在于，所述测试模块还包括信号产生模块；所述控制终端和所述射频开关均连接所述信号产生模块；所述测试回路包括第二回路；所述第二回路包括由顺次连接的所述信号产生模块以及所述射频开关构建的第二触发通道，以及由顺次连接的所述射频开关和所述频谱分析模块构建的第二测试通道；
所述在根据预设选取规则选取一组测试回路之后，控制所述射频开关切换并连通被选取的所述测试回路的触发通道，以令所述待测试放大器通过所述触发通道接收所述测试模块发送的触发信号，并根据所述触发信号生成待测试信号，包括：
在根据预设选取规则选取第二测试回路之后，控制所述射频开关切换至所述信号产生模块，以令所述第二触发通道连通；
令所述待测试放大器通过所述第二触发通道接收所述信号产生模块发送的射频信号，并根据所述射频信号生成第一待测试信号；
所述控制所述射频开关切换并连通被选取的所述测试回路的测试通道，以令所述测试放大器通过所述测试通道将所述待测试信号输出至所述测试模块，包括：
控制所述射频开关切换至所述频谱分析模块，以令所述第二测试通道连通；
令所述待测试放大器通过所述第二测试通道将所述第一待测试信号输出至处于准备测试状态的所述频谱分析模块；
所述控制所述测试模块对所述待测试信号进行测试分析，...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴田，林楷辉，倪建兴，
申请(专利权)人：锐石创芯深圳科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44