【技术实现步骤摘要】
用于检测物体表面缺陷的方法及装置
本公开的实施例涉及人工智能计算机视觉、深度学习以及云计算领域，具体涉及图像识别技术的用于检测物体表面缺陷的方法及装置。
技术介绍
随着社会工业化的发展，各种产品具有了更复杂的结构和更高的性能。产品通常由各种零部件构成，产品的性能与各个零部件的好坏息息相关。零部件通常存在多个面，需要对多个面进行缺陷检测，以确定零部件是否合格。
技术实现思路
本公开的实施例提出了用于检测物体表面缺陷的方法及装置。第一方面，本公开的实施例提供了一种用于检测物体表面缺陷的方法，该方法包括：获取待检测物体的待检测面图像和检测时间信息，上述检测时间信息用于指示检测完物体所需要的时间；根据上述检测时间信息确定上述待检测面图像的检测方式，并按照上述检测方式对上述待检测面图像进行检测，得到缺陷图像，其中，上述检测方式包括并行检测和串行检测；对上述缺陷图像进行缺陷识别，得到识别结果信息；将上述识别结果信息与缺陷标签库内的缺陷标签进行匹配，得到对应上述待检测物体的目标缺陷标签。在一些实施例中，...
【技术保护点】
1.一种用于检测物体表面缺陷的方法，包括：/n获取待检测物体的待检测面图像和检测时间信息，所述检测时间信息用于指示检测完物体所需要的时间；/n根据所述检测时间信息确定所述待检测面图像的检测方式，并按照所述检测方式对所述待检测面图像进行检测，得到缺陷图像，其中，所述检测方式包括并行检测和串行检测；/n对所述缺陷图像进行缺陷识别，得到识别结果信息；/n将所述识别结果信息与缺陷标签库内的缺陷标签进行匹配，得到对应所述待检测物体的目标缺陷标签。/n
【技术特征摘要】
1.一种用于检测物体表面缺陷的方法，包括：
获取待检测物体的待检测面图像和检测时间信息，所述检测时间信息用于指示检测完物体所需要的时间；
根据所述检测时间信息确定所述待检测面图像的检测方式，并按照所述检测方式对所述待检测面图像进行检测，得到缺陷图像，其中，所述检测方式包括并行检测和串行检测；
对所述缺陷图像进行缺陷识别，得到识别结果信息；
将所述识别结果信息与缺陷标签库内的缺陷标签进行匹配，得到对应所述待检测物体的目标缺陷标签。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述根据所述检测时间信息确定所述待检测面图像的检测方式，包括：
响应所述检测时间信息小于设定的时间信息阈值，对所述待检测面图像进行并行检测，否则，对所述待检测面图像进行串行检测。
3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述根据所述检测时间信息确定所述待检测面图像的检测方式，包括：
响应所述待检测面图像的数量大于的第一数量阈值，对所述待检测面图像进行并行检测，否则，对所述待检测面图像进行串行检测。
4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述对所述缺陷图像进行缺陷识别，得到识别结果信息，包括：
响应于所述缺陷图像的面积小于设定面积阈值，采用单目标检测法对所述缺陷图像进行检测，否则，采用多目标检测法对所述缺陷图像进行检测。
5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述对所述缺陷图像进行缺陷识别，得到识别结果信息，包括：
响应于所述缺陷图像的数量小于第二数量阈值，采用多目标检测法对所述缺陷图像进行检测，否则，采用单目标检测法对所述缺陷图像进行检测。
6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述目标缺陷标签包括缺陷类型信息和缺陷数量信息，以及
所述方法还包括：
响应于所述待检测面图像为多个，获取多个所述待检测面图像中的每个待检测面图像的缺陷类型信息和缺陷数量信息；
通过所述缺陷类型信息和缺陷数量信息得到缺陷统计信息；
响应于所述缺陷统计信息中包含指定缺陷类型，标记所述待检测物体为不合格。
7.根据权利要求6所述的方法，其中，所述方法还包括：
响应于所述缺陷统计信息中存在缺陷数量大于第三数量阈值的缺陷类型信息，标记所述待检测物体为不合格。
8.根据权利要求1所述的方法，其中，所述方法还包括：
响应于所述缺陷标签库内没有对应所述识别结果信息的缺陷标签，将所述识别结果信息导入缺陷标记模型，得到对应所述识别结果信息的目标缺陷标签。
9.一种用于检测物体表面缺陷的装置，包括：
第一信息获取单元，被配置成获取待检测物体的待检测面图像和检测时间信息，所述检测时间信息用于指示检测完物体所需要的时间；
缺陷图像获取单元，被配置成根据所述检测时间信息确定所述待检测面图像的检测方式，并按照所述检测方式对所述待检测面图像进行检测，得到缺陷图像...
【专利技术属性】
技术研发人员：苑鹏程，朱剑锋，林书妃，张滨，韩树民，冯原，辛颖，王晓迪，徐英博，刘静伟，文石磊，章宏武，丁二锐，
申请(专利权)人：北京百度网讯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11
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