恒星辐射照度相对测量方法和装置制造方法及图纸

技术编号:25711077 阅读:46 留言:0更新日期:2020-09-23 02:57
本发明专利技术涉及一种恒星辐射照度相对测量方法、装置、设备、系统和计算机可存储介质,其中方法包括以下步骤:获取标准恒星的图像,计算图像中恒星区域去除背景后的像素点灰度总和作为当前标准恒星的灰度,根据当前标准恒星距离天顶的角度计算大气透过率,并根据当前标准恒星的灰度及大气透过率计算当前标准恒星在大气层外的灰度;获得多颗标准恒星在大气层外的灰度,并根据恒星星表数据获取对应标准恒星在大气层外的辐射照度,得到辐射照度与灰度的拟合公式;采集待测恒星的图像,并计算待测恒星在大气层外的灰度,根据所述拟合公式得到辐射照度。本发明专利技术无需增加额外的定标设备,根据标准恒星即可实现地基望远镜的恒星辐射定量测量。

【技术实现步骤摘要】
恒星辐射照度相对测量方法和装置
本专利技术涉及恒星能量测量
,尤其涉及一种恒星辐射照度相对测量方法、装置、设备、系统和计算机可读存储介质。
技术介绍
地基大口径望远镜进行恒星辐射照度定量测量时,首先要对望远镜进行辐射定标。现有技术中一种通常的定标方法为,利用黑体和准直系统对望远镜进行全光路辐射定标。另一种定标方法是利用黑体对探测器进行半光路辐射定标。这两种定标方法都需要定标装置,且需要定期进行辐射定标,用以提高望远镜的测量精度,因此这两种定标方法都需要耗费大量人力和财力。因此,亟待提供一种简单实用的恒星辐射照度测量方法。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于,针对现有技术中存在的上述一个或多个缺陷,提供一种恒星辐射照度相对测量方法、装置、设备、系统和计算机可读存储介质,利用标准恒星实现地基望远镜的恒星辐射定量测量。为了解决上述技术问题,本专利技术第一方面提供了一种恒星辐射照度相对测量方法,该方法包括以下步骤:S1、获取标准恒星的图像,计算图像中恒星区域去除背景后的像素点灰度总和作为当前标本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种恒星辐射照度相对测量方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:/nS1、获取标准恒星的图像,计算图像中恒星区域去除背景后的像素点灰度总和作为当前标准恒星的灰度,根据当前标准恒星距离天顶的角度计算大气透过率,并根据当前标准恒星的灰度及大气透过率计算当前标准恒星在大气层外的灰度;/nS2、通过步骤S1获得多颗标准恒星在大气层外的灰度,并根据恒星星表数据获取对应标准恒星在大气层外的辐射照度,得到辐射照度与灰度的拟合公式;/nS3、采集待测恒星的图像,并计算待测恒星在大气层外的灰度,根据所述拟合公式得到辐射照度。/n

【技术特征摘要】
1.一种恒星辐射照度相对测量方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:
S1、获取标准恒星的图像,计算图像中恒星区域去除背景后的像素点灰度总和作为当前标准恒星的灰度,根据当前标准恒星距离天顶的角度计算大气透过率,并根据当前标准恒星的灰度及大气透过率计算当前标准恒星在大气层外的灰度;
S2、通过步骤S1获得多颗标准恒星在大气层外的灰度,并根据恒星星表数据获取对应标准恒星在大气层外的辐射照度,得到辐射照度与灰度的拟合公式;
S3、采集待测恒星的图像,并计算待测恒星在大气层外的灰度,根据所述拟合公式得到辐射照度。


2.根据权利要求1所述的恒星辐射照度相对测量方法,其特征在于,所述步骤S1中获取多帧标准恒星的图像,再计算多帧图像的去除背景后的像素点灰度总和的平均值作为当前标准恒星的灰度。


3.根据权利要求2所述的恒星辐射照度相对测量方法,其特征在于,所述步骤S1中通过以下公式计算当前标准恒星的灰度:



其中,N为第k颗标准恒星的图像帧数,DNk_i为第i帧图像中恒星区域去除背景后的像素点灰度总和,且M为选取的恒星区域的像素点数量,DNk_ij为第i帧图像中恒星区域第j个像素点的灰度值,为第i帧图像中背景区域的平均灰度值。


4.根据权利要求3所述的恒星辐射照度相对测量方法,其特征在于,所述根据当前标准恒星的灰度及大气透过率计算当前标准恒星在大气层外的灰度,具体为:



其中,DNkk为第k颗标准恒星在大气层外的灰度,τ为大气透过率,并且τ0为望远镜天顶的整层大气透过率,θ为第k颗标准恒星距离天顶的角度。

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【专利技术属性】
技术研发人员:李霞刘兴润王俊周越
申请(专利权)人:北京环境特性研究所
类型:发明
国别省市:北京;11

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