芯片测试系统及方法技术方案

本发明专利技术提供了一种芯片测试系统及方法，测试系统包含第一电路板、第一芯片载台、参考机台、第一芯片测试机台以及标准芯片。第一芯片载台电连接第一电路板，参考机台以及第一芯片测试机台皆有对芯片写入参数以进行测试的功能，其中参考机台或第一芯片测试机台对芯片进行测试时，芯片设置于第一芯片载台上，第一电路板电连接参考机台或第一芯片测试机台。参考机台测试标准芯片，以得到该标准芯片的最佳化参数，并且基于最佳化参数，于第一芯片测试机台上对标准芯片进行测试以得到第一测试结果，若第一测试结果超出预设规格，则对第一芯片测试机台进行调机；若第一测试结果未超出预设规格，则代表第一芯片测试机台完成测试机台校正。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试系统及方法
本专利技术是关于一种芯片测试系统及方法，尤其是关于一种用于大量生产芯片的芯片测试系统及方法，特别是关于降低各测试机台间的差异性。
技术介绍
在芯片出货前，必须通过测试机台对每一个芯片进行测试，例如对芯片上元件的电阻值做修整以得到最佳频率，或是用以加强芯片稳定度等。一般来说，测试机台会先经过机台厂商的校正以符合当初所保证的规格，然而，即使每一个测试机台都符合规格，不同测试机台之间仍存在差异。除此之外，测试环境的差异亦造成了芯片测试的变异，例如，当测试芯片时，以芯片载台来设置芯片并以电路板来电连接测试机台及芯片载台，在已知的测试技术中，不同的测试机台电连接不同的芯片载台及电路板以同步进行大量的芯片测试，在这样的情况下，测试环境的不同(芯片载台及电路板)造成了芯片测试的变异。并且，在已知的芯片测试方法中，会通过标准芯片(goldenchip)对不同测试机台进行校正以缩小上述机台差异，其中，标准芯片的各种特性皆符合出货标准，测试人员在测试待测芯片前会以不同测试机台对同一个标准芯片做测试，用以校正各个机台，然而，标准芯片在不同本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片测试系统，其特征在于，包含：/n一第一电路板；/n一第一芯片载台，电连接该第一电路板；/n一参考机台以及一第一芯片测试机台，皆有对一芯片写入参数以进行测试的功能，其中该参考机台或该第一芯片测试机台对该芯片进行测试时，该芯片设置于该第一芯片载台上，该第一电路板电连接该参考机台或该第一芯片测试机台；以及/n一标准芯片，该参考机台测试该标准芯片，以得到该标准芯片的一最佳化参数，并且基于该最佳化参数，于该第一芯片测试机台上对该标准芯片进行测试以得到一第一测试结果，若该第一测试结果超出一预设规格，则对该第一芯片测试机台进行调机；若该第一测试结果未超出该预设规格，则代表该第一芯片测试机台完成一...

【技术特征摘要】
20190312 TW 1081082521.一种芯片测试系统，其特征在于，包含：
一第一电路板；
一第一芯片载台，电连接该第一电路板；
一参考机台以及一第一芯片测试机台，皆有对一芯片写入参数以进行测试的功能，其中该参考机台或该第一芯片测试机台对该芯片进行测试时，该芯片设置于该第一芯片载台上，该第一电路板电连接该参考机台或该第一芯片测试机台；以及
一标准芯片，该参考机台测试该标准芯片，以得到该标准芯片的一最佳化参数，并且基于该最佳化参数，于该第一芯片测试机台上对该标准芯片进行测试以得到一第一测试结果，若该第一测试结果超出一预设规格，则对该第一芯片测试机台进行调机；若该第一测试结果未超出该预设规格，则代表该第一芯片测试机台完成一测试机台校正。


2.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，该最佳化参数是通过该参考机台写入该标准芯片的一编码区，并且该编码区对于该第一芯片测试机台而言是只读的。


3.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，该最佳化参数是通过该参考机台储存于一远端服务器、一可携式存取装置或一电脑，并通过该远端服务器、该可携式存取装置或该电脑输入该第一芯片测试机台，以在该第一芯片测试机台上对该标准芯片进行测试。


4.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，该最佳化参数是通过一电脑输入该第一芯片测试机台，以在该第一芯片测试机台上对该标准芯片进行测试。


5.如权利要求2至4中任一所述的芯片测试系统，其特征在于，该最佳化参数是关于该标准芯片上的一元件的电阻值或用以加强该标准芯片的稳定度的编码。


6.一种芯片测试方法，其特征在于，包含：
一测试机台校正阶段，该测试机台校正阶段是对具有对一芯片写入参数以进行测试的功能的一第一芯片测试机台进行校正，使该第一芯片...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱国壔，谢雅瑄，洪孟群，
申请(专利权)人：新唐科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71