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本发明提供了一种芯片测试系统及方法，测试系统包含第一电路板、第一芯片载台、参考机台、第一芯片测试机台以及标准芯片。第一芯片载台电连接第一电路板，参考机台以及第一芯片测试机台皆有对芯片写入参数以进行测试的功能，其中参考机台或第一芯片测试机台对...
该专利属于新唐科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过新唐科技股份有限公司授权不得商用。

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