【技术实现步骤摘要】
放射线检查装置
本专利技术的实施方式涉及一种检测透过了被检测物的放射线并形成被检测物的图像的放射线检查装置。
技术介绍
已知有一种放射线检查装置,其对被检测物照射以X射线为代表的放射线,检测因透过被检测物而衰减的放射线的二维分布并进行图像化,由此进行被检测物的非破坏检查。例如,在被检测物为锂离子电池等卷绕结构体的情况下,放射线检查装置对卷绕结构体的内部的尺寸、异物进行在线检查。由此,可发现卷绕结构的卷绕偏移、电极等的标签偏移、卷绕结构体内部的异物。[现有技术文献][专利文献][专利文献1]日本专利第4829949号公报
技术实现思路
[专利技术所要解决的问题]以前的放射线检查装置包括:放射线源,对被检测物照射放射线;检测器,与放射线源相向设置,检测透过了被检测物的放射线;遮蔽箱,收容放射线源及检测器,遮蔽朝外部泄漏的放射线;以及搬送机构,将被检测物搬入遮蔽箱内,并搬送至放射线源与检测器之间的检查位置为止,且将已结束检查的被检测物朝遮蔽箱的外部搬出。以前,所述搬送机构变成如下 ...
【技术保护点】
1.一种放射线检查装置,其特征在于,包括:/n放射线源;/n检测器,与所述放射线源相向设置;/n搬送机构,具有穿过所述放射线源与所述检测器之间的被检测物的检查位置的直线状的搬送路径,搬送所述被检测物;/n遮蔽箱,包围所述放射线源及所述检测器;/n搬入口,设置在所述遮蔽箱,且将所述被检测物搬入所述遮蔽箱的内部;以及/n搬出口,设置在所述遮蔽箱,且将所述被检测物朝所述遮蔽箱的外部搬出;/n所述搬送机构具有穿过所述搬入口的直线状的搬入路径、及穿过所述搬出口的直线状的搬出路径,且/n所述搬入口、所述搬出口、所述搬入路径及所述搬出路径从所述搬送路径的延长线上偏移来设置。/n
【技术特征摘要】
20190313 JP 2019-0455141.一种放射线检查装置,其特征在于,包括:
放射线源;
检测器,与所述放射线源相向设置;
搬送机构,具有穿过所述放射线源与所述检测器之间的被检测物的检查位置的直线状的搬送路径,搬送所述被检测物;
遮蔽箱,包围所述放射线源及所述检测器;
搬入口,设置在所述遮蔽箱,且将所述被检测物搬入所述遮蔽箱的内部;以及
搬出口,设置在所述遮蔽箱,且将所述被检测物朝所述遮蔽箱的外部搬出;
所述搬送机构具有穿过所述搬入口的直线状的搬入路径、及穿过所述搬出口的直线状的搬出路径,且
所述搬入口、所述搬出口、所述搬入路径及所述搬出路径从所述搬送路径的延长线上偏移来设置。
2.根据权利要求1所述的放射线检查装置,其中,
所述搬入口、所述搬出口、所述搬入路径及所述搬出路径的偏移方向为水平方向或高度方向。
3.根据权利要求1或2所述的放射线检查装置,其中,
包括遮蔽构件,所述遮蔽构件遮蔽从所述放射线源对所述被检测物照射放射线后从所述被检测物中散射的散射线。
4.根据权利要求3所述的放射线检查装置,其中,
所述遮蔽构件设置在将所述检查位置与所述搬入口或所述搬出口的边缘连结的线上。
5.根据权利要求3所述的放射线检查装置,其中,
所述遮蔽构件是具有切口的遮蔽板,且以所述被检测物穿过所述切口的方式设置在所述搬送机构。
6.根据权利要求3所述的放射线检查装置,其中,
所述遮蔽构件是将所述搬入口作为一端,朝所述遮蔽箱的外部延...
【专利技术属性】
技术研发人员:吉田伦大,半杭秀一,篠原正治,佐藤宪治,内田敏徳,吉田绿,冨樫法仁,
申请(专利权)人:东芝IT·控制系统株式会社,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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