放射线检查装置及放射线检查方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种放射线检查装置及放射线检查方法，不管空孔或异物的存在位置如何均可提高空孔或异物的检测精度。放射线检查装置包括：放射线源(2)，照射放射线；载台(4)，位于放射线源(2)的照射范围且能够载置被检体(1)；检测器(3)，隔着载台(4)而位于与放射线源(2)的相反侧并检测透射被检体(1)的放射线；处理装置(6)，将由检测器(3)获得的被检体(1)的二维的透视信息进行图像化；及显示装置(7)，显示利用处理装置(6)而获得的图像。而且，处理装置(6)具有算出被检体(1)的位置不同的两个透射数据的比值并生成二维的比值图像的运算部(62)，显示装置(7)显示运算部(62)所生成的比值图像。

Radiographic Inspection Device and Radiographic Inspection Method

【技术实现步骤摘要】
放射线检查装置及放射线检查方法
本专利技术的实施方式涉及一种对透射被检体的放射线进行检测而形成被检体的图像的放射线检查装置及放射线检查方法。
技术介绍
已知有如下的放射线检查装置：对被检体照射X射线所代表的放射线，检测通过透射被检体而减弱的放射线的二维分布并加以图像化，由此进行被检体的非破坏检查。例如，利用所述放射线检查装置，可发现存在于被检体内部的也被称作空隙的空孔或被检体的表面或内部的异物。但是，空孔或异物一般而言非常小，与其周围的对比度低。因此，仅通过看一眼透视图像便检测出空孔或异物是不容易的。因此，为了提高所述检测精度，已知有使用差分图像的方法。差分图像是通过在稍微错开同一被检体的位置而拍摄的两片透视图像间取得像素值的差分而获得的图像。显示成为空孔或异物的背景的被检体的像素值在两片透视图像间是大致相同的。从而，关于差分图像，成为背景的被检体相抵消，空孔或异物成为显眼的图像。通过参照所述差分图像，空孔或异物的检测精度得到提高。[现有技术文献][专利文献][专利文献1]日本专利第3545073号公报
技术实现思路
[专利技术所要解决的课题]但是，在使用差分图像的方法中可知，即便为相同的空孔或异物，根据存在于被检体的哪个部位而检测精度会改变。其理由是因为：若被检体的厚度、即放射线的透射距离不同，则成为背景的被检体的透射距离会改变，从而厚度薄的部分的放射线透射强度与厚度厚的部分的放射线透射强度会改变，且因为所述影响也反映到差分图像中。特别是若在被检体的厚的部分存在空孔或异物，则所述部分的放射线透射强度较相同的空孔或异物存在于被检体的薄的部分的情况而更低，从而差分图像上所显现的对比度也低，检测精度存在偏差。本实施方式为了解决所述课题，其目的在于提供一种不管空孔或异物的存在位置如何均可提高空孔或异物的检测精度的放射线检查装置及放射线检查方法。[解决课题的技术手段]为了达成所述目的，本实施方式的放射线检查装置包括：放射线源，照射放射线；载台，位于所述放射线源的照射范围，且能够载置被检体；检测器，隔着所述载台而位于与所述放射线源的相反侧，并检测透射所述被检体的放射线；处理装置，将由所述检测器获得的所述被检体的二维的透视信息进行图像化；以及显示装置，显示利用所述处理装置而获得的图像；所述处理装置具有运算部，所述运算部算出所述被检体的位置不同的两个所述透视信息的比值并生成二维的比值图像，所述显示装置显示所述运算部所生成的所述比值图像。本实施方式的放射线检查方法是使用具有放射线源、检测器及显示装置的放射线检查装置的放射线检测方法，所述放射线检查方法包括：第1获取步骤，利用所述检测器检测由所述放射线源照射并透射所述被检体的放射线，从而获取第1透视信息；移动步骤，在所述第1获取步骤后使所述被检体移动；第2获取步骤，在所述移动步骤后，利用所述检测器检测由所述放射线源照射并透射在所述移动步骤中移动后的所述被检体的放射线，从而获取第2透视信息；运算步骤，算出所述第1透视信息与所述第2透视信息的比值，并生成二维的比值图像；以及显示步骤，使所述比值图像显示于所述显示装置。另外，本实施方式的放射线检查方法是使用具有放射线源及平板探测器的放射线检查装置的放射线检测方法，所述平板探测器包括对各像素的感度偏差进行修正的增益修正值设定模式，所述放射线检查方法包括：启动步骤，启动所述增益修正值设定模式；增益修正获取步骤，利用所述平板探测器检测由所述放射线源照射并透射被检体的放射线，从而获取增益修正值；移动步骤，使所述被检体移动；以及透视图像获取步骤，利用所述平板探测器检测透射在所述移动步骤中移动后的所述被检体的放射线，从而获取透视图像。附图说明图1是表示第1实施方式的放射线检查装置的构成的一例的图。图2是表示第1实施方式的放射线检查装置的动作的一例的流程图。图3是表示相对于放射线的透射方向而厚度不同的被检体的图，且表示在内部存在空孔的被检体。图4是表示相对于放射线的透射方向而厚度不同的被检体的图，且表示在表面存在异物的被检体。图5是表示相对于放射线的透射方向而厚度不同的被检体的图，且表示在内部存在异物的被检体。图6是表示第2实施方式的放射线检查装置的构成的一例的图。图7是用以对增益修正进行说明的图。图8是平板探测器的功能框图。图9是用以对将被检体置于载台上的状态下的增益修正进行说明的图。图10是表示第2实施方式的放射线检查装置的动作的一例的流程图。[符号的说明]1：被检体2：放射线源3：检测器3a：X射线检测部4：载台5：移动机构6：处理装置7：显示装置8：平板探测器21：焦点22：放射线束61、82：存储部62、83：运算部63：拍摄控制部81：增益修正获取部F：异物S1～S7、S21～S30：步骤t1：背景部分I的透射距离t2：背景部分II的透射距离tF：异物F的透射距离tV：空孔V的透射距离V：空孔具体实施方式(第1实施方式)以下，参照附图并对第1实施方式的放射线检查装置进行详细说明。(构成)图1是表示本实施方式的放射线检查装置的构成的一例的图。放射线检查装置是对被检体1照射放射线，检测透射被检体1的放射线，并根据检测结果来形成被检体1内的透视图像。所述放射线检查装置具有放射线源2、检测器3、载台4、移动机构5、处理装置6以及显示装置7。放射线源2朝向被检体1照射放射线束22。放射线例如为X射线。放射线束22为以焦点21为顶点呈角锥形状放大的放射线的束，以圆锥形状扩展的放射线是由准直器收缩后的结果。所述放射线源2例如为X射线管。具代表性的X射线管是在真空内使灯丝与钨等靶材对向。灯丝照射电子，所述电子通过灯丝与靶材间的管电压而得到加速，并朝向靶材前进，接触到靶材而照射X射线。所述电子的流动为管电流，管电流与所述电子的流动为相反方向。检测器3是与放射线源2的焦点21对向地配置。所述检测器3例如包括影像增强器(imageintensifier，I.I.)与照相机、或平板探测器(flatpaneldetector，FPD)。I.I.以二维状扩展由放射线激发时发光的由碘化铯等形成的闪烁体面，将入射的放射线的二维分布转换为荧光像，并使荧光像的亮度倍增。照相机是将电荷耦合器件(charge-coupleddevice，CCD)或互补金属氧化物半导体(complementarymetaloxidesemiconductor，CMOS)等摄像元件并排设置，并拍摄荧光像。FPD沿着闪烁体面例如具有光电二极管与薄膜晶体管(thinfilmtransistor，TFT)开关。光电二极管将荧光像转换为电荷并加以蓄积，TFT开关被赋予接通(ON)信号时，输出蓄积于光电二极管的电荷。即，检测器3检测与放射线的透射路径相应地减弱的放射线强度的二维分布，并输出与所述放射线强度成比例的透射数据。而且，透射数据为放射线强度、表示放射线强度的电荷量、或表示放射线强度的亮度值，例如数字化为256阶度等。载台4为被检体1的载置台。载台4介隔存在于放射线源2与检测器3之间，使载置面朝向放射线源2，所述载置面与放射线束的光轴正交而扩展。所述载台4利用移动机构5而位置相对于放射线源2及检测器3可变。移动机构5使载台4进行直线移动及升降。直线移动方向为X轴方向及Y轴方向。X轴方向为沿本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种放射线检查装置，其特征在于，包括：放射线源，照射放射线；载台，位于所述放射线源的照射范围，且能够载置被检体；检测器，隔着所述载台而位于与所述放射线源的相反侧，并检测透射所述被检体的放射线；处理装置，将由所述检测器获得的所述被检体的二维的透视信息进行图像化；以及显示装置，显示利用所述处理装置而获得的图像；所述处理装置具有运算部，所述运算部算出所述被检体的位置不同的两个所述透视信息的比值并生成二维的比值图像，所述显示装置显示所述运算部所生成的所述比值图像。

【技术特征摘要】
2018.01.31 JP 2018-0156311.一种放射线检查装置，其特征在于，包括：放射线源，照射放射线；载台，位于所述放射线源的照射范围，且能够载置被检体；检测器，隔着所述载台而位于与所述放射线源的相反侧，并检测透射所述被检体的放射线；处理装置，将由所述检测器获得的所述被检体的二维的透视信息进行图像化；以及显示装置，显示利用所述处理装置而获得的图像；所述处理装置具有运算部，所述运算部算出所述被检体的位置不同的两个所述透视信息的比值并生成二维的比值图像，所述显示装置显示所述运算部所生成的所述比值图像。2.根据权利要求1所述的放射线检查装置，其特征在于，所述载台以错开所述被检体的位置的方式移动，所述放射线源在所述载台的移动前后照射放射线，所述检测器在所述载台的移动前后分别检测透射所述被检体的放射线，所述运算部算出所述载台的移动前后的所述两个透视信息的比值。3.根据权利要求1或2所述的放射线检查装置，其特征在于，所述运算部具有：对数转换电路，对所述透视信息进行对数转换；差分电路，对两个经对数转换的所述透视信息的差进行运算；以及指数转换电路，对由所述差分电路而获得的值进行指数转换。4.根据权利要求1或2所述的放射线检查装置，其特征在于，具有包含所述检测器及所述处理装置的平板探测器，所述平板探测器还具有：增益修正获取部，在将所述被检体载置于所述载台上的状态下获取使各像素值为同一值的增益修正值；以及存储部，存储所述增益修正值；所述运算部通过将使所述被检体移动至与获取所述增益修正值时不同的位置而获得的所述透视信息与所述增益修正值相乘，而生成所述比值图像。5.根据权利要求1或2所述的放射线检查装置，...

【专利技术属性】
技术研发人员：富泽雅美，渡邉洋贵，
申请(专利权)人：东芝IT·控制系统株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP