阵列基板及显示面板制造技术

本发明专利技术公开了一种阵列基板及显示面板。阵列基板包括：衬底，包括显示区和非显示区，非显示区包括芯片集成区以及扇出区；信号端子阵列，包括多个信号线端子；多条信号线；以及测试组件，测试组件包括：测试数据线；第一开关阵列，位于多个信号端子的背离显示区的一侧，第一开关阵列包括多个第一开关，每个第一开关将对应一个信号线端子与测试数据线连接；第二开关阵列，位于扇出区，第二开关阵列包括多个第二开关，每个第二开关将对应一个信号线端子与测试数据线连接；以及测试控制线，用于提供控制第一开关、第二开关通断的测试控制信号。根据本发明专利技术实施例的阵列基板，对测试组件分区布局，提高显示面板测试组件的布局合理性。

【技术实现步骤摘要】
阵列基板及显示面板
本专利技术涉及显示领域，具体涉及一种阵列基板及显示面板。
技术介绍
平面显示面板因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点，而被广泛的应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品，成为显示面板中的主流。平面显示面板通常包括阵列基板，阵列基板包括显示区和围绕显示区的非显示区，非显示区包括芯片集成区。为满足电子产品窄边框的设计需求，需要尽量缩减芯片集成区及芯片集成区附近的非显示区的面积，而在芯片集成区附近，往往还需要布置用于显示测试的电路。因此，芯片集成区及附近的非显示区的面积有限，期望一种测试组件的合理布局。
技术实现思路
本专利技术提供一种阵列基板及显示面板，对测试组件分区布局，提高显示面板测试组件的布局合理性。一方面，本专利技术实施例提供一种阵列基板，其包括：衬底，包括显示区和围绕显示区的非显示区，非显示区包括芯片集成区以及扇出区，扇出区位于连接于显示区与芯片集成区之间；信号端子阵列，位于芯片集成区，信号端子阵列包括多个信号线端子；多条信号线，延伸于显示区，并经由扇出区与多个信号线端子对应连接；以及测试组件，设置于非显示区，其中测试组件包括：测试数据线，用于提供测试数据信号；第一开关阵列，位于多个信号端子的背离显示区的一侧，第一开关阵列包括多个第一开关，每个第一开关将对应一个信号线端子与测试数据线连接；第二开关阵列，位于扇出区，第二开关阵列包括多个第二开关，每个第二开关将对应一个信号线端子与测试数据线连接；以及测试控制线，与多个第一开关的控制端、多个第二开关的控制端连接，用于提供控制第一开关、第二开关通断的测试控制信号。另一方面，本专利技术实施例提供一种显示面板，其包括前述任一实施方式的阵列基板。根据本专利技术实施例的阵列基板，测试组件包括第一开关阵列和第二开关阵列，其中第一开关阵列位于多个信号端子的背离显示区的一侧，第二开关阵列所述扇出区。即其中一部分测试组件被转移至扇出区，从而减少测试组件对芯片集成区的占用。当阵列基板的芯片集成区面积较小时，可以将芯片集成区无法容纳的一部分测试组件设置于扇出区，保证阵列基板具有完整的测试组件，使得阵列基板具有完整的显示测试功能，能够对扇出的各信号线进行检测，便于及时发现阵列基板的信号线连接不良，以更合理的结构布局实现阵列基板的完整功能。附图说明通过阅读以下参照附图对非限制性实施例所作的详细描述，本专利技术的其它特征、目的和优点将会变得更明显，其中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征，附图并未按照实际的比例绘制。图1是根据本专利技术一种实施例提供的阵列基板的俯视示意图；图2是根据本专利技术一种实施例提供的阵列基板中第二开关阵列处的局部放大示意图；图3是根据本专利技术又一种实施例提供的阵列基板的俯视示意图；图4是根据本专利技术又一种实施例提供的阵列基板中第一开关阵列处的局部放大示意图；图5是根据本专利技术又一种实施例提供的阵列基板的俯视示意图；图6是根据本专利技术又一种实施例提供的阵列基板中第一开关阵列处的局部放大示意图；图7是根据本专利技术又一种实施例提供的阵列基板的俯视示意图；图8是根据本专利技术又一种实施例提供的阵列基板的俯视示意图；图9是根据本专利技术又一种实施例提供的阵列基板的俯视示意图。具体实施方式下面将详细描述本专利技术的各个方面的特征和示例性实施例，为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施例，对本专利技术进行进一步详细描述。应理解，此处所描述的具体实施例仅被配置为解释本专利技术，并不被配置为限定本专利技术。对于本领域技术人员来说，本专利技术可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本专利技术的示例来提供对本专利技术更好的理解。需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。应当理解，在描述部件的结构时，当将一层、一个区域称为位于另一层、另一个区域“上面”或“上方”时，可以指直接位于另一层、另一个区域上面，或者在其与另一层、另一个区域之间还包含其它的层或区域。并且，如果将部件翻转，该一层、一个区域将位于另一层、另一个区域“下面”或“下方”。本专利技术实施例提供一种阵列基板，该阵列基板例如是用于形成显示面板的阵列基板。图1是根据本专利技术一种实施例提供的阵列基板的俯视示意图。阵列基板100包括衬底110、信号端子阵列120、多条信号线130以及测试组件。衬底110包括显示区DA和围绕显示区DA的非显示区NA。非显示区NA包括芯片集成区CA以及扇出区FA，扇出区FA位于连接于显示区DA与芯片集成区CA之间。信号端子阵列120位于芯片集成区CA，信号端子阵列120包括多个信号线端子121。多条信号线130延伸于显示区DA，并经由扇出区FA与多个信号线端子121对应连接。测试组件设置于非显示区NA，其中测试组件包括测试数据线140、测试控制线150、第一开关阵列Z1以及第二开关阵列Z2。测试数据线140用于提供测试数据信号。第一开关阵列Z1位于多个信号线端子121的背离显示区DA的一侧，第一开关阵列Z1包括多个第一开关T1，每个第一开关T1将对应一个信号线端子121与测试数据线140连接。第二开关阵列Z2位于扇出区FA，第二开关阵列Z2包括多个第二开关T2，每个第二开关T2将对应一个信号线端子121与测试数据线140连接。测试控制线150与多个第一开关T1的控制端、多个第二开关T2的控制端连接，用于提供控制第一开关T1、第二开关T2通断的测试控制信号。根据本专利技术实施例的阵列基板100，测试组件包括第一开关阵列Z1和第二开关阵列Z2，其中第一开关阵列Z1位于多个信号端子的背离显示区DA的一侧，第二开关阵列Z2所述扇出区FA。即其中一部分测试组件被转移至扇出区FA，从而减少测试组件对芯片集成区CA的占用。当阵列基板100的芯片集成区CA面积较小时，可以将芯片集成区CA无法容纳的一部分测试组件设置于扇出区FA，保证阵列基板100具有完整的测试组件，使得阵列基板100具有完整的显示测试功能，能够对扇出的各信号线130进行检测，便于及时发现阵列基板100的信号线130连接不良，以更合理的结构布局实现阵列基板100的完整功能。在一些实施例中，显示区DA的中心、信号端子阵列120的中心、第一开关阵列Z1的中心位于同一轴线上，第二开关阵列Z2的数量为两个，两个第二开关阵列Z2关于轴线对称分布，使得测试组件的布置将阵列基板100的扇出区FA充分利用，并且布线结构对称，提高测试组件的测试稳定性。在一些实施例中，第一开关T1为第一薄膜晶体管(ThinFilmTransistor，TFT)，其包括第一有源层和与第一有源层绝缘间隔的第一栅极，第一有源层可以包括第一源区和第一漏区。其中，第一开关T1的第一栅极与测试控制线150连接本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种阵列基板，其特征在于，包括：/n衬底，包括显示区和围绕所述显示区的非显示区，所述非显示区包括芯片集成区以及扇出区，所述扇出区位于连接于所述显示区与所述芯片集成区之间；/n信号端子阵列，位于所述芯片集成区，所述信号端子阵列包括多个信号线端子；/n多条信号线，延伸于所述显示区，并经由所述扇出区与所述多个信号线端子对应连接；以及/n测试组件，设置于所述非显示区，其中所述测试组件包括：/n测试数据线，用于提供测试数据信号；/n第一开关阵列，位于所述多个信号线端子的背离所述显示区的一侧，所述第一开关阵列包括多个第一开关，每个第一开关将对应一个所述信号线端子与所述测试数据线连接；/n第二开关阵列，位于所述扇出区，所述第二开关阵列包括多个第二开关，每个所述第二开关将对应一个所述信号线端子与所述测试数据线连接；以及/n测试控制线，与所述多个第一开关的控制端、所述多个第二开关的控制端连接，用于提供控制所述第一开关、所述第二开关通断的测试控制信号。/n

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板，其特征在于，包括：
衬底，包括显示区和围绕所述显示区的非显示区，所述非显示区包括芯片集成区以及扇出区，所述扇出区位于连接于所述显示区与所述芯片集成区之间；
信号端子阵列，位于所述芯片集成区，所述信号端子阵列包括多个信号线端子；
多条信号线，延伸于所述显示区，并经由所述扇出区与所述多个信号线端子对应连接；以及
测试组件，设置于所述非显示区，其中所述测试组件包括：
测试数据线，用于提供测试数据信号；
第一开关阵列，位于所述多个信号线端子的背离所述显示区的一侧，所述第一开关阵列包括多个第一开关，每个第一开关将对应一个所述信号线端子与所述测试数据线连接；
第二开关阵列，位于所述扇出区，所述第二开关阵列包括多个第二开关，每个所述第二开关将对应一个所述信号线端子与所述测试数据线连接；以及
测试控制线，与所述多个第一开关的控制端、所述多个第二开关的控制端连接，用于提供控制所述第一开关、所述第二开关通断的测试控制信号。


2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述第二开关为第二薄膜晶体管，所述第二薄膜晶体管包括第二有源层，
其中，所述信号线端子所连的所述信号线在所述衬底上的正投影穿过所述信号线端子所连的所述第二薄膜晶体管的第二有源层在所述衬底上的正投影。


3.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，还包括：
像素阵列，包括阵列排布于所述显示区的多个子像素，所述多个子像素包括颜色不同的多种子像素，
所述多条信号线包括多条数据线，所述多条数据线包括与所述多种子像素对应连接的多类数据线，
所述测试数据线的数量为多条，其中，不同类所述数据线所连的所述信号线端子经由所述第一开关或所述第二开关与不同的所述测试数据线连接。


4.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，所述多种子像素包括第一颜色子像素、第二颜色子像素以及第三颜色子像素，
所述多条数据线包括与所述第一颜色子像素连接的第一类数据线、与所述第二颜色子像素连接的第二类数据线、与所述第三颜色子像素连接的第三类数据线，
所述测试数据线包括第一测试数据线、第二测试数据线以及第三测试数据线，其中，所述第一类数据线所连的所述信号线端子经由所述第一开关或所述第二开关与所述第一测试数据线连接，所述第二类数据线所连的所述信号线端子经由所述第一开关或所述第二开关与所述第二测试数据线连接，所述第三类数据线所连的所述信号线端子经由所述第一开关或所述第二开关与所述第三测试数据线连接。


5.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，还包括：
触控电极阵列，包括阵列排布于所述显示区的多个触控电极块，
所述多条信号线包括多条触控信号线，每条所述触控信号线与对应一个所述触控电极块连接。


6.根据权利要求5所述的阵列基板，其特征在于，所述多个触控电极块包括至少两种类型的触控电极块，其中，彼此相邻的所述触控电极块的类型不同，
所述多条触控信号线包括与所述至少两种类型的触控电极块对应连接的至少两类触控信号线，
所述测...

【专利技术属性】
技术研发人员：金慧俊，姜炜，张劼，
申请(专利权)人：上海中航光电子有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31