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碳化硅晶体熔体生长装置制造方法及图纸

技术编号:25682972 阅读:37 留言:0更新日期:2020-09-18 20:57
本发明专利技术涉及碳化硅晶体生长装置领域,具体而言,涉及一种碳化硅晶体熔体生长装置。碳化硅晶体熔体生长装置包括锅体和第一碳模块;所述第一碳模块设置在所述锅体的内壁上。本发明专利技术的有益效果是:通过在锅体的内壁上设置第一碳模块,通过第一碳模块的设置,增加了锅体内壁与锅体内部的熔体的接触面积,提高了碳的溶解效率,能够为碳化硅晶体生长提供了稳定的碳供应。

【技术实现步骤摘要】
碳化硅晶体熔体生长装置
本专利技术涉及碳化硅晶体生长装置领域,具体而言,涉及一种碳化硅晶体熔体生长装置。
技术介绍
碳化硅是受到广泛关注的宽带隙半导体材料之一,具有密度低、禁带宽度大、击穿场强高、热稳定性和化学稳定性好、频率响应特性优良等优点,是制作高频、高压、大功率器件和蓝光发光二极管的理想衬底材料。碳化硅目前的主要生长方法是物理气相传输法,虽然该方法较为成熟,目前能为市场供应大量碳化硅单晶衬底,但由于生长环境不稳定性,其晶体中还存在着例如微管,包裹等缺陷,在扩径、P型晶体生长方面难以实现等问题。与之对比,熔体法生长所需生长温度低,生长环境相对平稳,且在P型晶体与扩径等方面具有良好前景。碳化硅熔体生长过程中,需要在顶部籽晶处与坩埚底部形成温差,在坩埚底(温度较高处)进行溶质的溶解,即从石墨坩埚中溶解碳,形成富碳溶液,从而形成稳定的碳的供应。但是,在现有技术中,从石墨坩埚中溶解碳的效率较低,使得在进行碳化硅晶体生长的时候,无法形成稳定的碳供应。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种碳化硅晶体熔体本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种碳化硅晶体熔体生长装置,其特征在于,包括锅体和第一碳模块;/n所述第一碳模块设置在所述锅体的内壁上。/n

【技术特征摘要】
1.一种碳化硅晶体熔体生长装置,其特征在于,包括锅体和第一碳模块;
所述第一碳模块设置在所述锅体的内壁上。


2.根据权利要求1所述的碳化硅晶体熔体生长装置,其特征在于,所述第一碳模块的形状为条形,所述第一碳模块的长度方向沿所述锅体的内壁延伸。


3.根据权利要求1所述的碳化硅晶体熔体生长装置,其特征在于,所述第一碳模块的数量为多个,多个所述第一碳模块相互之间具有间隙。


4.根据权利要求1所述的碳化硅晶体熔体生长装置,其特征在于,所述第一碳模块的横截面形状包括半圆形、三角形、四边形或梯形中的至少一种。


5.根据权利要求1所述的碳化硅晶体熔体生长装置,其特征在于,所述锅体的底部设...

【专利技术属性】
技术研发人员:郑红军
申请(专利权)人:郑红军
类型:发明
国别省市:北京;11

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