【技术实现步骤摘要】
一种用于凸轮轴测量仪校准的偏心轴及其校准方法
本专利技术涉及凸轮轴测量
,更具体的说是涉及一种用于凸轮轴测量仪校准的偏心轴及其校准方法。
技术介绍
凸轮轴测量仪是用于测量凸轮轴各项几何参数的综合测量仪器,其测量准确性将直接影响凸轮轴的产品质量,为此需要采用高精度的标准凸轮轴进行各项几何参数示值误差的校准。由于凸轮轴具有复杂的轮廓曲线,要想实现高精度的加工质量是很费时费力的。因此不少生产企业只能长期测量某一质量相对更好的凸轮轴,通过测量结果的示值变动来判断仪器的准确状态。这种做法虽然可以判断仪器的状态,但是不能得到仪器的测量示值误差,无法实现几何参数的量值溯源。因此,研究出一种易于加工,准确性高,可以实现凸轮轴测量仪多参量示值误差校准的偏心轴及其校准方法是本领域技术人员亟需解决的问题。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术提供了一种易于加工,准确性高的用于凸轮轴测量仪校准的偏心轴及其校准方法。为了实现上述目的,本专利技术采用如下技术方案:一种用于凸轮轴测量仪校准的偏心轴,包括:< ...
【技术保护点】
1.一种用于凸轮轴测量仪校准的偏心轴,其特征在于,包括:/n芯轴(1),所述芯轴(1)的两个端面上均设置用于凸轮轴测量仪顶紧的顶尖孔;/n中间轴颈(2),所述中间轴颈(2)用于测定相位角参考零位,且设于所述芯轴(1)的中部,所述中间轴颈(2)的表面沿轴线方向开设有截面为V型的且贯通其两端的通槽(21);/n第一端部轴颈(3),所述第一端部轴颈(3)用于对凸轮轴测量仪的测头(7)示值误差校准,且设于所述芯轴(1)的端部,所述第一端部轴颈(3)靠近所述芯轴(1)端部的一端侧面上开设第一沟槽(31);/n第二端部轴颈(4),所述第二端部轴颈(4)用于对所述测头(7)示值误差校准, ...
【技术特征摘要】
1.一种用于凸轮轴测量仪校准的偏心轴,其特征在于,包括:
芯轴(1),所述芯轴(1)的两个端面上均设置用于凸轮轴测量仪顶紧的顶尖孔;
中间轴颈(2),所述中间轴颈(2)用于测定相位角参考零位,且设于所述芯轴(1)的中部,所述中间轴颈(2)的表面沿轴线方向开设有截面为V型的且贯通其两端的通槽(21);
第一端部轴颈(3),所述第一端部轴颈(3)用于对凸轮轴测量仪的测头(7)示值误差校准,且设于所述芯轴(1)的端部,所述第一端部轴颈(3)靠近所述芯轴(1)端部的一端侧面上开设第一沟槽(31);
第二端部轴颈(4),所述第二端部轴颈(4)用于对所述测头(7)示值误差校准,且设于所述芯轴(1)远离所述第一端部轴颈(3)的一端,所述第二端部轴颈(4)靠近所述芯轴(1)端部的一端侧面上开设第二沟槽(41);
第一偏心部(5),所述第一偏心部(5)用于对直径、圆度、圆柱度、偏心距、相位角、升程多个参量校准,且呈圆柱状一体形成于所述芯轴(1)的外周表面,位于所述第一端部轴颈(3)与所述中间轴颈(2)之间;
第二偏心部(6),所述第二偏心部(6)用于对直径、圆度、圆柱度、偏心距、相位角、升程多个参量校准,且呈圆柱状一体形成于所述芯轴(1)的外周表面,位于第二端部轴颈(4)与所述中间轴颈(2)之间。
2.根据权利要求1所述的一种用于凸轮轴测量仪校准的偏心轴,其特征在于,所述芯轴(1)的直径是40mm,长度为300mm。
3.根据权利要求1或2所述的一种用于凸轮轴测量仪校准的偏心轴,其特征在于,所述中间轴颈(2)、第一端部轴颈(3)及第二端部轴颈(4)的直径均为60mm,长度为30mm。
4.根据权利要求3所述的一种用于凸轮轴测量仪校准的偏心轴,其特征在于,所述第一沟槽(31)宽10mm,深0.1mm;所述第二沟槽(41)宽10mm,深0.05mm。
5.根据权利要求4所述的一种用于凸轮轴测量仪校准的偏心轴,其特征在于,第一偏心部(5)的直径为60mm,长度为30mm,偏心距为10mm。
6.根据权利要求5所述的一种用于凸轮轴测量仪校准的偏心轴,其特征在于,第二偏心部(6)的直径为100mm,长度为30mm,偏心距为20mm。
7.根据权利要求6所述的一种用于凸轮轴测量仪校准的偏心轴,其特征在于,所述第一偏心部(5)和所述第二偏心部(6)的相位差为180°,且所述第一偏心部(5)和所述第二偏心部(6)相对所述V型槽(21)中心线的相位角均为90°。
8.一种如权利要求1-7任一项所述的用于凸轮轴测量仪校准的方法,其特征在于,采用所述偏心轴对所述凸轮轴测量仪进行校准,包括如下校准步骤:
1)将所述凸轮轴测量仪两端的顶尖(8)置于所述芯轴(1)两端的顶尖孔内,并将所述芯轴(1)夹紧带动其回转,在所述凸轮轴测量仪原有的坐标系下,用所述测头(7)依次在所述第一端部轴颈(3)和所述第二端部轴颈(4)的轴向中心点径向所在平面的外圆周上进行多次测量,得到所述第一端部轴颈(3)和所述第二端部轴颈(4)轴向中心点径向所在平面的外圆周的坐标值(Xki,Yki,Zki),k=A,C,i...
【专利技术属性】
技术研发人员:林虎,薛梓,杨武伟,杨国梁,
申请(专利权)人:中国计量科学研究院,
类型:发明
国别省市:北京;11
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