永磁材料参数测量用保温装置制造方法及图纸

一种永磁材料参数测量用保温装置，主要由辅助极头、隔热体、定位条、测量线圈和测温元件组成，其特征在于两个辅助极头分别嵌套在两个隔热体中，从而形成封闭的测量空腔。该装置具有提高测量效率、无电磁干扰和结构简单的特点，适于工业生产中批量抽测用。（*该技术在2001年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种磁参数测量的附加装置，尤其与永磁材料不同温度下参数测量用保温装置有关。目前，在永磁材料温度参数的测量系统中，其温度控制部分大都是采用一个较大的隔热箱，内中有电磁铁的极头或辅助相头以及定位条，测量线圈、测温元件，并在被测样品的附近置以电发热源和冷却构件来形成温度控制。例如在Dayton磁闭路测试系统中(见《第七届全国磁学会议文集》P865)，其温控部分的结构一如上述。在这种温控方式下，1、被测样品达到温度平衡的时间较长，且只能进行单只样品测量，难于满足工业性生产中批量抽测的要求；2、电发热源对测量仪有电磁干扰，影响测量精度；3、温控装置结构复杂，成本较高，不易推广。本技术的目的就在于克服上述现有技术的不足，而提供一种测量效率高、无电磁干扰、结构简单的永磁材料参数测量保温装置。专利技术人提出如下方案来实现上述目的一种永磁材料参数测量用保温装置，主要由辅助极头、隔热体、定位条、测量线圈和测温元件构成，本用新型的特点就在于两个辅助极头分别嵌套在两个隔热体中而形成上、下两个整体部分，上、下两部分配合时构成一个封闭的空腔；测置线圈和测元件固定在与上、下部分相连的定位条上。此外，还可在隔热体上开一级与辅助极头同心的园形台阶。附图说明图1是本技术实施例截面示意图。图中，1.6－辅助极头，2.5－隔热体，3.4－定位条，7－测量线圈，8－测温元件，9.10－园形台阶。以下结合附图1对本技术作进一步说明。辅助极头(1.6)分别嵌套在隔热体(2.5)中，形成上、下两个部分；上、下两部分配合时则构成一个封闭空腔。这种结构有效地阻止了该空腔与外界的热交换。此外，还可以在隔热体(2.5)上开一级与辅助极头(2.5)同心的园形台阶(9.10)；当其与测量系统的电磁铁极头压接时则形成空气隔热层，可阻止辅助相头(1.6)与外界的热交换。在实际使用本技术装置时，将几个装置和同样数量被测样品一起置于一个或几个不同温度的烘箱或冰箱中，足够时间后分别取出测量，和现有技术相比大大节约了保温时间，可实现批量样品的测量，提高了测量效率。同时，该装置无电加热元件，故无电磁干扰，且结构简单，成本便宜，适于推广。本技术的实施例如下用纯铁制成辅助极头(1.6)，并把它们分别嵌套在聚四氟乙烯隔热体(2.5)中；隔热体(2.5)上开有与辅助极头同心的园形台阶(9.10)；通过定位条(3.4)固定测量线圈(7)和测温元件(8)，如此便构成一种永磁材料参数测量用保温装置。经实验表明，该装置的空腔内在180℃时1分钟内其温度的变化不超过1℃，完全满足了测量对温度控制的要求。权利要求1.一种永磁材料参数测量用保温装置，主要由辅助极头(1.6)、隔热体(2.5)定位条(3.4)、测量线圈(7)和测温元件(8)组成，其特征在于辅助极头(1.6)分别嵌套在隔热体(2.5)中而形成上、下两个整体部分，上、下两部分配合时构成一个封闭空腔；测量线圈(7)和测温元件(8)固定在与上、下部分相连的定位条(3.4)上。2.根据权利要求1所述的永磁材料参数保温装置，其特征在于在隔热体(2.5)上开有一级与辅助极头(1.6)同心的园形台阶(9.10)。专利摘要一种永磁材料参数测量用保温装置，主要由辅助极头、隔热体、定位条、测量线圈和测温元件组成，其特征在于两个辅助极头分别嵌套在两个隔热体中，从而形成封闭的测量空腔。该装置具有提高测量效率、无电磁干扰和结构简单的特点，适于工业生产中批量抽测用。文档编号G01K1/00GK2122384SQ9123123公开日1992年11月18日 申请日期1991年12月20日 优先权日1991年12月20日专利技术者盛祖凯, 曹自力, 彭清贵 申请人:机械电子工业部第九研究所本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种永磁材料参数测量用保温装置，主要由辅助极头（１．６）、隔热体（２．５）定位条（３．４）、测量线圈（７）和测温元件（８）组成，其特征在于：辅助极头（１．６）分别嵌套在隔热体（２．５）中而形成上、下两个整体部分，上、下两部分配合时构成一个封闭空腔；测量线圈（７）和测温元件（８）固定在与上、下部分相连的定位条（３．４）上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：盛祖凯，曹自力，彭清贵，
申请(专利权)人：机械电子工业部第九研究所，
类型：实用新型
国别省市：51[中国|四川]