楼板测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种一种楼板测量装置。该楼板测量装置包括第一测量部、第二测量部以及连接部；所述第一测量部具有刻度；所述第二测量部的一端与所述第一测量部的一端铰接；所述连接部连接所述第一测量部的另一端以及所述第二测量部的靠近所述第一测量部的一端；所述连接部的长度大于所述第一测量部的另一端和所述第二测量部的靠近所述第一测量部的一端之间的距离。上述楼板测量装置，无需另对原有打孔尺寸进行扩充，节省成本，且整个测量过程只需一个人就可以完成。

【技术实现步骤摘要】
楼板测量装置
本技术涉及建筑施工
，特别是涉及一种楼板测量装置。
技术介绍
土建结构施工过程中，需要对楼板的厚度进行测量，以确保楼板的施工质量。一般地，楼板厚度测量方式为：在本层结构楼板上打孔，楼板下部人员通过木棍在将小方木板顶在打孔处下方，楼板的上部人员通过卷尺测量。采用这种测量方式，至少需要两人，且需配合默契，并且楼上楼下沟通不便，测量时费时费力。
技术实现思路
基于此，有必要针对如何便于测量的问题，提供一种楼板测量装置。一种楼板测量装置，包括：第一测量部，所述第一测量部具有刻度；第二测量部，所述第二测量部的一端与所述第一测量部的一端铰接；以及连接部，所述连接部连接所述第一测量部的另一端以及所述第二测量部的靠近所述第一测量部的一端；所述连接部的长度大于所述第一测量部的另一端和所述第二测量部的靠近所述第一测量部的一端之间的距离。上述楼板测量装置，包括第一测量部、第二测量部以及连接部，第二测量部的一端与第一测量部的一端铰接，第一测量部具有刻度，连接部连接第一测量部的另一端以及第二测量本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种楼板测量装置，其特征在于，包括：/n第一测量部，所述第一测量部具有刻度；/n第二测量部，所述第二测量部的一端与所述第一测量部的一端铰接；以及/n连接部，所述连接部连接所述第一测量部的另一端以及所述第二测量部的靠近所述第一测量部的一端；所述连接部的长度大于所述第一测量部的另一端和所述第二测量部的靠近所述第一测量部的一端之间的距离。/n

【技术特征摘要】
1.一种楼板测量装置，其特征在于，包括：
第一测量部，所述第一测量部具有刻度；
第二测量部，所述第二测量部的一端与所述第一测量部的一端铰接；以及
连接部，所述连接部连接所述第一测量部的另一端以及所述第二测量部的靠近所述第一测量部的一端；所述连接部的长度大于所述第一测量部的另一端和所述第二测量部的靠近所述第一测量部的一端之间的距离。


2.根据权利要求1所述的楼板测量装置，其特征在于，还包括套筒，所述套筒套设在所述第一测量部的远离所述第二测量部的一端。


3.根据权利要求2所述的楼板测量装置，其特征在于，所述套筒的高度为3毫米-8毫米。


4.根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员：张藜，苏广利，胡飞彪，马飞燕，芮昊宇，
申请(专利权)人：上海建工五建集团有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31