一种用于测量仪器的被测物体摆正装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于测量仪器的被测物体摆正装置，包括用于放置被测物体的测量板、底座，底座与测量板的一端通过销轴活动连接，测量板的下表面上设有弧形凸起，上表面一角安装有测量手柄，底座上与销轴相对一侧立面上设有底座手柄，底座的上表面设有与测量板的弧形凸起对应配合的圆弧凹槽，测量板沿凹槽绕销子旋转，本实用新型专利技术具有测量效率和准确率高、可实现快速找正的特点。

【技术实现步骤摘要】
一种用于测量仪器的被测物体摆正装置
本专利技术专利属于光学仪器测量
，尤其是涉及一种用于测量仪器的被测物体摆正装置。
技术介绍
目前在油封测量
，应用最多的是无接触的光学仪器，仪器的镜头内置有固定的坐标轴，在产品测量过程中，需要将产品的基准线与坐标轴对正。由于测量设备只能沿横向纵向即沿X轴或者Y轴平行移动，不能做旋转运动，产品放在工作台上，不可能一下子放正。通常我们都是用手不断的移动旋转被测件来达到目的，多次调试，费时费力，特别是一些大件或者微小件，更是难找正。
技术实现思路
本技术的目的在于改进已有技术的不足而提供一种测量效率和准确率高、可实现快速找正的用于测量仪器的被测物体摆正装置。本技术的目的是这样实现的，一种用于测量仪器的被测物体摆正装置，其特点是包括用于放置被测物体的测量板、底座，底座与测量板的一端通过销轴活动连接，测量板的下表面上设有弧形凸起，上表面一角安装有测量手柄，底座上与销轴相对一侧立面上设有底座手柄，底座的上表面设有与测量板的弧形凸起对应配合的圆弧凹槽，测量板沿凹槽绕销子旋转。本技术与已有技术相比具有以下显著特点和积极效果：本技术的测量板上的弧形凸起与底座上的圆弧凹槽精确配合，底座与测量板的销轴连接同时具有连接测量板与底座及精定位作用，测量板可沿着弧形槽绕轴自由精确旋转，达到测量要求。底座上的手柄可方便拿取移动装置；本技术无接触进行测量，具有测量效率高，测量准确，调试方便的特点，适合用于测量过程中对被测件进行快速摆正，特别适用于光学仪器的镜头中有固定坐标轴、测量平台只能横向纵向移动的场合，例如万能工具显微镜、影像仪等。附图说明图1为本技术的一种结构示意图。图2为图1的剖视图。图3为本技术使用状态的一种结构示意图。图4为本技术被测物体摆正状态的一种结构示意图。图中：1、测量手柄，2、测量板，3、底座手柄，4、底座，5、销轴，6、弧形凸起，7、圆弧凹槽，8、被测物体。具体实施方式下面结合附图和实施对本技术作进一步详细说明。一种用于测量仪器的被测物体摆正装置，参照图1、图2，包括用于放置被测物体的测量板2、底座4，底座4与测量板2的一端通过销轴5活动连接，测量板2的下表面上设有弧形凸起6，测量板2的上表面一角处设有测量手柄1，底座4上与销轴5相对一侧的侧面上设有底座手柄3，底座4的上表面设有与测量板2的弧形凸起6对应配合的圆弧凹槽7，测量板2的弧形凸起6放置于底座4的圆弧凹槽7内，测量板2沿圆弧凹槽7绕销轴5旋转。使用本技术时，将本技术放置于测量仪器的测量平台上，参照图3，被测物体8放在测量板2上，图中的EF线为被测物体8的被测尺寸的基准线，希望与X轴平行。搬动测量手柄1带着测量板2绕销轴5旋转，并且不断移动Y向设备平台，使被测物体8的基准线EF与X轴重合，摆正后即可进行X轴与Y轴的数值读取，进行尺寸的测量，图4为摆正后的状态。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于测量仪器的被测物体摆正装置，其特征是包括用于放置被测物体的测量板、底座，底座与测量板的一端通过销轴活动连接，测量板的下表面上设有弧形凸起，上表面一角安装有测量手柄，底座上与销轴相对一侧立面上设有底座手柄，底座的上表面设有与测量板的弧形凸起对应配合的圆弧凹槽，测量板沿凹槽绕销子旋转。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于测量仪器的被测物体摆正装置，其特征是包括用于放置被测物体的测量板、底座，底座与测量板的一端通过销轴活动连接，测量板的下表面上设有弧形凸...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵松娟，
申请(专利权)人：山东莱阳市昌誉密封产品有限公司，
类型：新型
国别省市：山东;37