本发明专利技术公开了一种键盘组件侧面结构检测方法及装置，其中，上述方法包括如下步骤：(1)将键盘组件置于水平的检测工位上，使用光源对所述键盘组件的侧面结构进行光学照明；(2)使用CCD相机获取所述侧面结构的图像；(3)对步骤(2)中获取到的图像进行处理和分析，在所述步骤(1)中，通过至少一组的棱镜将所述光源发射出的光线反射向所述键盘组件的侧面结构；在所述步骤(2)中，使用至少一组的棱镜获取所述侧面结构的图像，所述CCD相机通过获取所述棱镜中的镜像从而获取到所述侧面结构的图像。本发明专利技术结构简单，适用于键盘组件的各种侧面微小结构的检测，且效率高。本发明专利技术属于键盘组件检测技术领域。
【技术实现步骤摘要】
键盘组件侧面结构检测方法及装置
本专利技术涉及键盘组件检测
，尤其涉及一种键盘组件侧面结构检测方法及装置。
技术介绍
随着科技的发展，计算机已经被广泛地应用于办公、学习、娱乐等日常生活中，并且成为不可或缺的电子产品，而键盘作为一种输入设备，是计算机设备中不可或缺的外置设备。常用的键盘通常包括100多个按键，且不同类型的键盘包含不同种类的组件，常见的键盘组件有PCB、定位板、键帽、剪刀脚、宫柱等，上述键盘组件又各自包含有很多微小的结构，如用于连接的卡扣、凸块等，在生产组装过程中，若上述卡扣、凸块等微小机构存在尺寸不符合规定范围、缺漏等不良情况，则会影响后期整个键盘的质量。一个键盘有上百个重要的侧面微小结构需要检验和/或测量，使用传统检测仪器需要8小时～16小时的时间，如此费时的检测使得实际键盘生产过程中没法保证每一个键盘都能得到准确的检测，从而没法保证键盘的良率。公开号为CN210449936U的技术专利公开了一种键盘卡勾检测设备，包括：工作台、用于采集工作台上放置的键盘卡勾的图像的图像采集装置及用于根据图像测量键盘卡勾的实际尺寸判断其是否处于预设尺寸范围内的控制系统，控制系统还用于根据图像判断键盘卡勾上是否存在用于连接键帽的连接端，控制系统与用于显示判断结果的显示装置连接，显示装置设置于工作台上，图像采集装置可活动的设置于工作台上。然后，上述基于自动光学检测技术公开的技术方案并未公开具体的照明设计方案和图像采集方案，由于键盘组件侧面结构的体积小、数量多、且分布广，如何实现对微小侧面结构的照明和图像采集是亟待解决的问题。
技术实现思路
鉴于上述现有技术中存在的缺陷，本专利技术的目的是提出一种结构简单、适用于键盘组件的各种侧面微小结构、检测效率高的键盘组件侧面结构检测方法及装置。为了实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：一种键盘组件侧面结构检测方法，包括如下步骤：(1)将待检测键盘组件置于水平的检测工位上，使用光源对所述键盘组件的侧面结构进行光学照明；(2)使用CCD相机获取所述侧面结构的图像；(3)对步骤(2)中获取到的图像进行处理和分析，在所述步骤(1)中，通过至少一组的棱镜将所述光源发射出的光线反射向所述键盘组件的侧面结构，从而实现对所述侧面结构的光学照明；在所述步骤(2)中，使用至少一组的棱镜获取所述侧面结构的图像，所述CCD相机通过获取所述棱镜中的镜像从而获取到所述侧面结构的图像。进一步的，在所述步骤(1)中，所述棱镜为全反射棱镜，所述光源发出的入射光线从所述全反射棱镜的一个直角面进入，并经过所述全反射棱镜的另一个直角面射出。进一步的，在所述步骤(1)中，所述棱镜为斜面镀有反射膜的直角三棱镜，所述光源发出的入射光线经过所述直角三棱镜的斜面反射后射向所述键盘组件的侧面结构。进一步的，所述直角三棱镜的横截面的锐角的角度范围为30°～60°。进一步的，在所述步骤(2)中，所述棱镜为全反射棱镜，所述全反射棱镜的一个直角面朝向所述侧面结构，所述全反射棱镜的另一个直角面朝向所述CCD相机的摄像头。进一步的，在所述步骤(2)中，所述棱镜为斜面镀有反射膜的直角三棱镜。一种键盘组件侧面结构检测装置，包括光学照明模块、图像采集模块、图像分析模块、主控模块、显示模块以及用于安装上述模块的机架，所述机架上设置有用于放置待检测键盘组件的工作台，所述光学照明模块包括至少一组的光源和至少一组的用于将所述光源发射的光线反射向待测键盘组件的侧面结构的打光棱镜；所述图像采集模块包括至少一组的取像棱镜和至少一个的用于通过所述取像棱镜获取所述侧面结构的图像的CCD相机。进一步的，所述图像采集模块对所述键盘组件侧面结构进行图像采集时，每一个所述侧面结构的一侧均设置有一组的打光棱镜，另一侧对应设置有一组的取像棱镜。进一步的，所述打光棱镜为全反射棱镜，所述光源发出的入射光线从所述全反射棱镜的一个直角面进入，并经过所述全反射棱镜的另一个直角面射出。进一步的，所述打光棱镜为斜面镀有反射膜的直角三棱镜，所述光源发出的入射光线经过所述直角三棱镜的斜面反射后射向所述键盘组件的侧面结构。进一步的，所述直角三棱镜的横截面的锐角的角度范围为30°～60°。进一步的，所述取像棱镜为全反射棱镜，所述全反射棱镜的一个直角面朝向所述侧面结构，所述全反射棱镜的另一个直角面朝向所述CCD相机的摄像头。进一步的，所述取像棱镜为斜面镀有反射膜的直角三棱镜。本专利技术的突出效果为：(1)采用自动光学检测技术对键盘组件侧面结构进行检测，显著缩短了检测的时间，且提高了检测精度；(2)通过至少一组的棱镜改变光路，从而实现了对键盘组件侧面微小结构的照明，结构简单，成本较低，且照明效果好，能够很好的适用于体积小、数量多、且分布广的侧面结构照明；(3)采用全反射棱镜改变光路，反射率高，入射光的损失较少，且能够较为精准的调整光路的反射角度；(4)采用的直角三棱镜可承受的机械应力较高，不易损坏；(5)通过棱镜进行键盘组件侧面结构的图像采集，结构简单、成本较低，能够适用于各种微小立体结构侧面图像的采集。附图说明图1为本专利技术实施例2所提供的键盘组件侧面结构检测装置的结构示意图。图2为本专利技术实施例2所提供的键盘组件侧面结构检测装置中光学照明模块和图像采集模块的结构示意图。其中，1-工作台，2-键盘组件，21-侧面结构，3-光源，4-CCD相机，5-打光棱镜，6-取像棱镜。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。实施例1本实施例的一种键盘组件侧面结构检测方法包括如下步骤：(1)将待检测键盘组件置于水平的检测工位上，通过使用至少一组的棱镜将位于检测工位上方的光源所发出的入射光线反射向所述键盘组件的侧面结构，使得所述侧面结构得到充分的光学照明。所述棱镜的尺寸、和所述侧面结构之间的位置关系、以及每组棱镜的数量根据具体的所述侧面结构的数量、尺寸、形状等因素进行设置，本实施例中，每个所述的侧面结构的一侧均设置有一个的棱镜。本实施例中，上述用于改变光路的棱镜为全反射棱镜，所述光源发出的入射光线从所述全反射棱镜的一个直角面进入，并经过所述全反射棱镜的另一个直角面射出，采用全反射棱镜改变光路，反射率高，入射光的损失较少，且能够较为精准的调整光路的反射角度，能够更加灵活的应用于各种形状的侧面结构。作为可替代的技术方案，用于改变光路的所述棱镜也可以使用斜面镀有反射膜的直角三棱镜，所述光源发出的入射光线经过所述直角三棱镜的斜面反射后射向所述键盘组件的侧面结构，优选的，所述直角三棱镜的横截面的锐角的角度范围为30°～60°，进一步优选的，所述直角三棱镜的横截面的锐角的角度范围为45°，采用的直角三棱镜可承受的机械应力较高，不易损坏，且更加容易安装。(2)使用CCD相机获取待检测的键盘组件的侧面结构的图像，本实施例本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种键盘组件侧面结构检测方法，包括如下步骤：(1)将待检测键盘组件置于水平的检测工位上，使用光源对所述键盘组件的侧面结构进行光学照明；(2)使用CCD相机获取所述侧面结构的图像；(3)对步骤(2)中获取到的图像进行处理和分析，其特征在于：/n在所述步骤(1)中，通过至少一组的棱镜将所述光源发射出的光线反射向所述键盘组件的侧面结构，从而实现对所述侧面结构的光学照明；在所述步骤(2)中，使用至少一组的棱镜获取所述侧面结构的图像，所述CCD相机通过获取所述棱镜中的镜像从而获取到所述侧面结构的图像。/n
【技术特征摘要】
1.一种键盘组件侧面结构检测方法，包括如下步骤：(1)将待检测键盘组件置于水平的检测工位上，使用光源对所述键盘组件的侧面结构进行光学照明；(2)使用CCD相机获取所述侧面结构的图像；(3)对步骤(2)中获取到的图像进行处理和分析，其特征在于：
在所述步骤(1)中，通过至少一组的棱镜将所述光源发射出的光线反射向所述键盘组件的侧面结构，从而实现对所述侧面结构的光学照明；在所述步骤(2)中，使用至少一组的棱镜获取所述侧面结构的图像，所述CCD相机通过获取所述棱镜中的镜像从而获取到所述侧面结构的图像。
2.根据权利要求1所述的键盘组件侧面结构检测方法，其特征在于：在所述步骤(1)中，所述棱镜为全反射棱镜，所述光源发出的入射光线从所述全反射棱镜的一个直角面进入，并经过所述全反射棱镜的另一个直角面射出。
3.根据权利要求1所述的键盘组件侧面结构检测方法，其特征在于：在所述步骤(1)中，所述棱镜为斜面镀有反射膜的直角三棱镜，所述光源发出的入射光线经过所述直角三棱镜的斜面反射后射向所述键盘组件的侧面结构。
4.根据权利要求3所述的键盘组件侧面结构检测方法，其特征在于：所述直角三棱镜的横截面的锐角的角度范围为30°～60°。
5.根据权利要求1所述的键盘组件侧面结构检测方法，其特征在于：在所述步骤(2)中，所述棱镜为全反射棱镜，所述全反射棱镜的一个直角面朝向所述侧面结构，所述全反射棱镜的另一个直角面朝向所述CCD相机的摄像头。
6.根据权利要求1所述的键盘组件侧面结构检测方法，其特征在于：在所述步骤(2)中，所述棱镜为斜面镀有反射膜的直角三棱镜。
7.一种键盘组件侧面结构...
【专利技术属性】
技术研发人员：谢钰峰，
申请(专利权)人：苏州日和科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。