红外测温校验仪制造技术

一种红外测温校验仪，包括设置在壳体【１】内的电源【２】、仪表【５】以及与电源【２】相联接的控制电路【３】，控制电路【３】的输出端与黑体辐射源【４】的加热体【８】相联接，黑体辐射源【４】的靶面【９】通过温度传感器【６】与仪表【５】相连接，其特征在于：所说的黑体辐射源【４】包括腔体【７】、加热体【８】、靶面【９】和加热棒【１０】，加热体【８】设置在腔体【７】的后端，靶面【９】设置在加热体【８】的前端面的圆盘上，加热棒【１０】设置在加热体【８】内，加热体【８】采用１２０度三等分的结构，在加热体【８】的前端面的侧壁上开设有温度校准孔【１１】；所说的控制电路【３】包括不平衡测温电桥【１２】、差值比例放大器【１３】、Ｖ－Ｉ转换器【１４】，不平衡测温电桥【１２】的输入端与黑体辐射源【４】的温度传感器【１５】相联接，不平衡测温电桥【１２】的输出端与差值比例放大器【１３】输入端的同相端和反相端相联接，差值比例放大器【１３】的输出端与Ｖ－Ｉ转换器【１４】的反相端相联接，Ｖ－Ｉ转换器【１４】的输出端与加热体【８】相联接。（*该技术在2013年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于计量检测领域，特别涉及一种进行现场校验的红外体温测量仪。二
技术介绍
目前的红外测温校验仪上采用工业黑体炉作为红外测温仪校准辐射源。而适合于发射系数与人体表面发射系数相同的辐射源，目前国内未发现有关资料报导。红外测温仪校准辐射源在温度控制方面据有关资料报导大多采用交流PID控制技术，腔体和靶面属筒状整体金属结构，表面涂一种黑色物质，交流螺旋加热方式。此原理热俯冲较大，温度稳定性差，靶面发射系数大于0.95，使用需换算。三
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种结构简单、使用方便、辐射源无俯冲，能够提高靶面均匀温区的稳定度的红外测温校验仪。为达到上述目的，本技术采用的技术方案是包括设置在壳体内的电源、仪表以及与电源相联接的控制电路，控制电路的输出端与黑体辐射源的加热体相联接，黑体辐射源的靶面通过温度传感器与仪表相连接，其特点是，黑体辐射源包括腔体、加热体、靶面和加热棒，加热体设置在腔体的后端，靶面设置在加热体的前端面的圆盘上，加热棒设置在加热体内，加热体采用120度三等分的结构，在加热体的前端面的侧壁上开设有温度校准孔；控制电路包括不平衡测温电桥、差值比例放大器、V-I转换器，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：石国庆，朱长春，慕忠义，王兴东，王民学，秦宇，李维钧，陈秀云，
申请(专利权)人：陕西省计量测试研究所，
类型：实用新型
国别省市：