CCD像元光谱响应均匀性定标装置制造方法及图纸

一种ＣＣＤ像元光谱响应均匀性定标装置，包括激光器（１）和计算机（６），其特征在于：它还包括积分球（９），所述的激光器（１）设置于积分球（９）的入口（３）处，所述的激光器１与积分球（９）之间设置有激光功率稳定器（２）；所述积分球（９）的测量口（４）处设置有与计算机（６）相连的光谱辐射计（５），所述积分球（９）的测量口（８）处设置有与计算机（６）相连的待测ＣＣＤ（７）。（*该技术在2013年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种CCD像元光谱响应均匀性定标装置。
技术介绍
目前，在静态干涉光谱成像仪中采用的是面阵CCD探测器。从该探测器的每一帧输出数据中，得到的是一维空间图像数据和一维光谱图像数据。为了保证探测器输出数据的精度，必须对探测器各像元之间光谱响应的均匀性进行定标。测量CCD光谱响应均匀性的方法称作小光点注入法。该方法是将CCD置于X、Y移动台上，接通电源；用透镜将光源聚焦成小于被测量CCD像元尺寸的小光点；将小光点调在位于X、Y移动台的CCD的某一像元上；通过数据采集系统采集该像元的响应数据；移动X、Y移动台，使小光点聚焦在CCD的另一像元上，并采集、测量该像元的响应数据。用小光点注入法可测量CCD各光敏元响应的非均匀性和最大偏差。但是，由于光源光谱的限制，采用小光点注入法只能测量CCD各光敏元白光响应的非均匀性，而无法测量不同波长光谱的响应。
技术实现思路
本技术解决了
技术介绍
中无法测量不同波长光谱响应的技术问题。本技术的技术解决方案是一种CCD像元光谱响应均匀性定标装置，包括激光器1和计算机6，其特殊之处在于它还包括积分球9，所述的激光器1设置于积分球9的入口3处，所述的激光器1与积分球9之间设置有激光功率稳定器2；所述积分球9的测量口4处设置有与计算机6相连的光谱辐射计5，所述积分球9的测量口8处设置有与计算机6相连的待测CCD7。上述激光器1可以是干涉光谱成像仪光谱范围内不同波长的激光器。上述待测CCD7以与积分球9的测量口8平行为宜。本技术具有以下优点1.可测量面阵CCD各像元光谱响应的均匀性与最大偏差；2.光源光谱不受限制。在干涉光谱成像仪光谱范围内，可选择不同波长激光器做单色光源，从而可测量不同波长光谱的响应；3.选择美国产LPC-VIS型激光功率控制器，其稳定精度可至0.05％max；4.使用积分球可在其出口B处得到均匀的面光源，其面均匀性应优于2％。附图说明附图为本技术的结构示意图。具体实施方式本技术的激光器1设于积分球9的入口3处，激光器1与积分球9之间设置有激光功率稳定器2，积分球9的测量口4处设置有与计算机6相连的光谱辐射计5，积分球9的测量口8处设置有与计算机6相连的待测CCD7。在干涉光谱成像仪光谱范围内，本技术可选择不同波长的激光器做单色光源。待测CCD7以与积分球9的测量口8平行为宜。由激光器1射出的激光束通过激光功率稳定器2后，成为功率稳定的光束。该光束由积分球9的入口3处进入积分球9，在其测量口8处形成均匀度优于2％的均匀面源。通过计算机6、待测CCD7构成的CCD数据采集系统采集各像元的响应值DXY(λi)；同时，通过光谱辐射计5测量积分球9测量口4处的光谱辐亮度值B(λi)，该值与测量口8处的光谱辐亮度值相等。更换另一种波长的激光器，重复上述操作。比较各像元的DXY(λi)值，即可得到不同波长时各像元的响应均匀性和最大偏差。将DXY(λi)进行归一化处理得到DXY(λi)/B(λi)，从而得到各项元的光谱响应。权利要求1.一种CCD像元光谱响应均匀性定标装置，包括激光器(1)和计算机(6)，其特征在于它还包括积分球(9)，所述的激光器(1)设置于积分球(9)的入口(3)处，所述的激光器1与积分球(9)之间设置有激光功率稳定器(2)；所述积分球(9)的测量口(4)处设置有与计算机(6)相连的光谱辐射计(5)，所述积分球(9)的测量口(8)处设置有与计算机(6)相连的待测CCD(7)。2.如权利要求1所述的CCD像元光谱响应均匀性定标装置，其特征在于所述的激光器(1)是干涉光谱成像仪光谱范围内不同波长的激光器。3.如权利要求1或2所述的CCD像元光谱响应均匀性定标装置，其特征在于所述的待测CCD(7)与积分球(9)的测量口(8)平行。专利摘要一种CCD像元光谱响应均匀性定标装置，其激光器设置于积分球的入口处，激光器与积分球之间设置有激光功率稳定器；积分球的一测量口处设置有与计算机相连的光谱辐射计，其另一测量口处设置有与计算机相连的待测CCD。本技术解决了
技术介绍
中无法测量不同波长光谱响应的技术问题，其可测量面阵CCD各像元光谱响应的均匀性与最大偏差，光源光谱不受限制，在干涉光谱成像仪光谱范围内，可选择不同波长激光器做单色光源，从而可测量不同波长光谱的响应。文档编号G01M11/00GK2718553SQ200320109869公开日2005年8月17日 申请日期2003年12月25日 优先权日2003年12月25日专利技术者相里斌, 王忠厚, 李立英, 黄旻 申请人:中国科学院西安光学精密机械研究所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：相里斌，王忠厚，李立英，黄旻，
申请(专利权)人：中国科学院西安光学精密机械研究所，
类型：实用新型
国别省市：