一种辐射计制造技术

技术编号:2552437 阅读:188 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种用于测量太阳和日照总辐射量的辐射计,包括机体,其特征在于,机体上端设置余弦修正片,余弦修正片能够修正测量中的余弦误差,机体中心支撑一个硅光探测器,硅光探测器设置在余弦修正片下面,硅光探测器具有光电转换的传感功能,对被测光起到光电转换作用,在机体侧面设置有信号输出导线孔,当有入射光照射时,硅光探测器将光信号转换为电信号,再经过余弦修正片的修正,使得余弦误差大大减小。本实用新型专利技术的辐射计设计科学,工艺精密,测量方便,余弦误差小,结果精确。(*该技术在2017年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测量日照辐射总量的辐射计,属于气象学测量技 术领域。
技术介绍
现有技术中,测量日照辐射总量的辐射计,由于设计简单、制造工艺 精度低,使得其受环境影响大,测量的数据误差较大,对植物生长、热量 转换、土壤水分蒸发蒸腾损失总量的研究不利。
技术实现思路
本技术提供了一种用于测量太阳短波辐射的辐射计,包括机体, 其特征在于,所述机体上端设置余弦修正片,所述余弦修正片能够减小测 量中的余弦误差,所述机体中心支撑一个硅光探测器,所述硅光探测器设 置在所述余弦修正片下面,所述硅光探测器具有光电转换的传感功能,对 被测光起到光电转换作用,当有入射光照射时产生一个电压输出信号,该 输出信号与太阳辐射强度成正比,在所述机体侧面设置有信号输出导线孔。 本技术的辐射计通过余弦修正,使得余弦误差大大减小,测量数据更 精确,对植物生长、热量转换和土壤水分蒸发蒸腾损失总量的研究极为有 利。本技术的辐射计相对于现有技术有如下优点-1、 由于本技术的辐射计在机体的上面设有余弦修正片,使得其在太阳高度角为10()时余弦误差从<10%减小到<7%,明显提高了精确度。2、 由于本技术的辐射计结构设计巧本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种辐射计,包括机体(2),其特征在于,所述机体(2)上端设置余弦修正片(3),所述机体(2)中心支撑一个硅光探测器(4),所述硅光探测器(4)设置在余弦修正片(3)下面,所述机体(2)侧面设置有信号输出导线孔(1)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:白素莲李成才马剑
申请(专利权)人:北京华创维想科技开发有限责任公司
类型:实用新型
国别省市:11[中国|北京]

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