【技术实现步骤摘要】
一种RLC宽带测试方法及电路
本专利技术涉及
,具体涉及一种RLC宽带测试方法及电路。
技术介绍
随着电路集成技术的飞速发展,元件小型化和微型化成为必然趋势,对元件工作频率和性能要求越来越高,如何测试元件本身的性能至关重要。在电子产品中,电阻(R)、电感(L)以及电容(C)是最基本,也是使用最多的元件,其性能直接影响产品质量。目前,传统的元件参数测量仪都是模拟式的,测量原理主要采用电桥法、谐振法和I-V法。测试方法各异,优缺点明显,传统的测量仪大多是台式机,例如RLC电桥,体积较大,携带不便,虽然测量方法简单,但普遍存在测量精度低、无记忆功能、仅能单频点测量性能等问题,无法一次性获取RLC的多频数值,获取元件宽带特性需要人工操作和记录,在电子对抗、预警探测、卫星通信等宽带应用领域科研工作者工作效率极其低下,亟待一种高效的测试方法对RLC的宽带特性进行快速测试和记录,为此提出一种RLC宽带测试方法及电路。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题在于:如何解决现有测量方法中存在的测量精度低、 ...
【技术保护点】
1.一种RLC宽带测试方法,其特征在于,包括以下步骤:/nS1:制作测试电路/n根据待测元器件的尺寸制作测试电路;/nS2:获取测试电路的散射矩阵数据/n将测试电路与矢量网络分析仪的输入、输出端口对应连接,利用矢量网络分析仪得到测试电路的散射矩阵数据;/nS3:获取待测元器件特征参数/n利用计算仿真工具对步骤S2中获取的散射矩阵数据处理,得到待测元器件的特征参数。/n
【技术特征摘要】
1.一种RLC宽带测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:制作测试电路
根据待测元器件的尺寸制作测试电路;
S2:获取测试电路的散射矩阵数据
将测试电路与矢量网络分析仪的输入、输出端口对应连接,利用矢量网络分析仪得到测试电路的散射矩阵数据;
S3:获取待测元器件特征参数
利用计算仿真工具对步骤S2中获取的散射矩阵数据处理,得到待测元器件的特征参数。
2.根据权利要求1所述的一种RLC宽带测试方法,其特征在于:在所述步骤S1中,待测元器件为电阻、电感、电容中任一种。
3.根据权利要求1所述的一种RLC宽带测试方法,其特征在于:在所述步骤S2中,利用射频电缆连接测试电路与矢量网络分析仪的输入、输出端口。
4.根据权利要求1所述的一种RLC宽带测试方法,其特征在于:在所述步骤S2中,在处理散射矩阵数据前,根据测试频率范围校准矢量网络分析仪。
5.根据权利要求1所述的一种RLC宽带测试方法,其特征在于:在所述步骤S3中,当待测元器件为电阻时,利用计算仿真工具处理后得到单频点、宽带范围内电阻值;当待测元器件为电感时,利用计算仿真工具处理后得到单频点、宽带范围内电感值和串联电阻值;当待测元器件为电容时,利用计算仿真工具处理后得到单频点、宽带范围内电容值和并联电导值。
6.根据权利要求1所述的一种RLC宽带测试方法,其特...
【专利技术属性】
技术研发人员:张琪春,余泽,苗菁,王杰,王亚茹,张小林,金谋平,
申请(专利权)人:中国电子科技集团公司第三十八研究所,
类型:发明
国别省市:安徽;34
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