【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学成像领域，具体涉及一种透射光学探测模型和透射光学中心保持跟踪成像方法、装置、存储介质和电子设备。
技术介绍
1、在成像系统的相关研究中，多学科融合已是明确趋势并在不断加深，微波光子雷达就是这种微波成像与光学成像融合的技术变革，当下微波光子成像都是基于电磁波反射的原理，无法对探测目标内部特征进行成像，对探测特征识别能力方面明显不足，而透射式光学能够穿透目标内部，通过对穿透目标后的光学特性进行分析，能得到目标的特异性图像。在基于透射光学成像的设备中，成像过程是一种将三维物体投影到二维平面，会面临细节丢失的问题，因此在透射光学成像中，需要寻找方法来使得探测目标的细节能够被尽可能多的展现。
2、当前主要有两种思路来解决透射成像所述的问题：一种是调整探测目标与接收装置的相对位置，以不同角度来观测；另外一种是将探测目标旋转，将不同角度的成像进行拼接，来获取更多的细节。
3、上述两种方法在一些应用场景中对探测目标内部成像都取得了较好的效果，但是也存在一定的缺陷。通过调整位置的方法难以将目标保持在成像中心，太多...
【技术保护点】
1.一种透射光学探测模型，其特征在于，包括透射光源和接收装置；
2.如权利要求1所述的透射光学探测模型，其特征在于，相应将探测目标的位置(x,y,z)进行三个正交方向的变动，具体是指：
3.一种透射光学中心保持跟踪成像方法，其特征在于，基于如权利要求1所述的透射光学探测模型，包括：
4.如权利要求3所述的透射光学中心保持跟踪成像方法，其特征在于，
5.如权利要求3所述的透射光学中心保持跟踪成像方法，其特征在于，所述S4中探测目标的位置坐标(x2,y2,z2)，具体是指：
6.一种透射光学中心保持跟踪成像装置，...
【技术特征摘要】
1.一种透射光学探测模型，其特征在于，包括透射光源和接收装置；
2.如权利要求1所述的透射光学探测模型，其特征在于，相应将探测目标的位置(x,y,z)进行三个正交方向的变动，具体是指：
3.一种透射光学中心保持跟踪成像方法，其特征在于，基于如权利要求1所述的透射光学探测模型，包括：
4.如权利要求3所述的透射光学中心保持跟踪成像方法，其特征在于，
5.如权利要求3所述的透射光学中心保持跟踪成像方法，其特征在于，所述s4中探测目标的位置坐标(x2,y2,z2)，具体是指：
6.一种透...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐松，汪洋，宁书铭，张勇，李维龙，胡贤斌，张勇波，方永选，李江源，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第三十八研究所，
类型：发明
国别省市：
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