紫外辐射照度计制造技术

一种紫外辐射照度计，属于光学测试仪器。其特征是由两个单向截止光学滤光片和两个相同的光电接收器构成双光路探测器，电路部分采用双路放大，从而能够准确地测出所需测试波段的辐射量值，杂散光截止性很强：对Ｃ波段紫外辐射照度计而言，其杂散辐射截止能力优于１０＋［－７］。另外，通过改变两块截止滤光片的截止波长，可制成从紫外到可见、红外各种波段和各种通带宽度的辐射照度计。（*该技术在2008年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种紫外辐射照度计，包括光电探测器、放大电路和显示装置，其特征在于所说的光电探测器是由两个单向截止光学滤光片（１）、（２）和两个相同的光电接收器（５）、（１０）组成的双光路探测器，放大电路是由电路（１３）、（１８）构成的双放大电路。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：华树明，朱喜平，吴初瑜，王晓英，杨征，胡宁，
申请(专利权)人：北京电光源研究所，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]