热管型辐射温度计制造技术

本发明专利技术涉及一种作为辐射温度测量的热管型辐射温度计。本发明专利技术的特征是綃所有易受环境温度影响的元器件包括辐射探测器、滤光片和前置放大器置于均热性极好的热管中，热管本身温度由置于其中的温度探测器检测，由温控线路控制。本发明专利技术优点是稳定性好，精度高，仪表调试只需要简单的电路控制热管温度，不需要再对仪表进行环境温度修正。采用本发明专利技术技术方案制成的温度计经试用效果良好。（*该技术在2012年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种作为辐射温度测量的热管型辐射温度计。现有的辐射温度计不带有热管装置。辐射探测器、滤光片尤其是干涉滤光片和前置放大器是辐射温度计关键零部件，但它们极易受环境温度影响，造成辐射温度计的性能不稳定，使温度计的精度降低。由日本东京光学机械株式会社研制，经日本国家计量局测试认证可作为传递标准用的单色放射温度计，要求在恒温室里工作，并列出了温度系数。显然，这种仪表应用场合受到限制，只能在环境温度变化非常小的场合使用，并且仪表需要按温度系数进行环境温度修正，故仪表的精度提高也受限制。为了克服探测器受环境温度的影响，英国Land红外温度计公司生产的精密工业用单波段温度计及上海工业自动化仪表研究所的生产的WFH-602型红外温度计采用了温度补偿方案，即在前置放大器中安置了随环境温度变化的热敏电阻，以抵消探测器受环境温度影响所造成前置放大器输出的变化。上述两种方案存在不足之处(a)都不能对干涉滤光片进行环境温度补偿，(b)在用热敏电阻进行环境温度补偿的方案中，由于辐射探测器和前置放大器随环境温度的变化是非线性的，且离散性很大，故用热敏电阻不能完全补偿这些器件的温度影响。意大利计量本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种热管型辐射温度计，其特征在于，将温度计的所有或部分易受环境温度影响的元器件包括辐射探测器、滤光片和前置放大器置于均热性好的热管之中。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：姜世昌，陈出新，沈策，赵志，
申请(专利权)人：机械电子工业部上海工业自动化仪表研究所，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]