准直器及具有其的射线探测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提出一种准直器及具有其的射线探测装置，包括：第一准直组件，包括若干第一准直层，第一准直层开设第一准直孔；被设置为可与第一准直组件发生相对移动的第二准直组件，第二准直组件包括若干第二准直层，第二准直层开设第二准直孔，第一准直层和第二准直层的数量总和大于等于三层，第一准直层和第二准直层交替设置，每相邻的第一准直层和第二准直层中，相对应的第一准直孔和第二准直孔至少部分连通以形成有效准直孔；以及驱动结构，与第一准直组件驱动连接，以仅改变有效准直孔的宽度，并使相邻的第一准直层和第二准直层中相对应的第一准直孔和第二准直孔相互错开。本发明专利技术提供的准直器通过设置交错的准直层以实现降低散射效应。

【技术实现步骤摘要】
准直器及具有其的射线探测装置
本专利技术的实施例涉及核辐射检测
，具体涉及一种准直器及具有其的射线探测装置。
技术介绍
在工业CT系统中，散射干扰是影响工业CT检测系统的重要因素，为提高系统的检测性能，后准直器被用于抑制散射干扰和提高分辨率。现有技术中，采用按一定方式排列的系列固定宽度的准直孔组成的准直器消除多方向散射干扰，为了保证准直效果，准直孔的孔径宽度需要设置得较窄。由于需要考虑到对散射干扰光子的屏蔽效果，工业制造中选用的材料通常为原子序数大的重金属。然而，重金属材料在被加工成上述较窄的准直孔时，加工难度大大增加。因此，不能同时实现屏蔽和准直的最优化。
技术实现思路
本专利技术的实施例的目的是提供一种准直器及具有其的射线探测装置，由此可以解决上述技术问题中的至少一个方面。根据本专利技术的一个方面，提出一种准直器，包括：第一准直组件，包括若干第一准直层，第一准直层开设第一准直孔；被设置为可与第一准直组件发生相对移动的第二准直组件，第二准直组件包括若干第二准直层，第二准直层开设第二准直孔，第一准直层和第二准直本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种准直器，其特征在于，包括：/n第一准直组件，包括若干第一准直层，所述第一准直层开设第一准直孔；/n被设置为可与所述第一准直组件发生相对移动的第二准直组件，所述第二准直组件包括若干第二准直层，所述第二准直层开设第二准直孔，所述第一准直层和所述第二准直层的数量总和大于等于三层，所述第一准直层和所述第二准直层交替设置，每相邻的所述第一准直层和所述第二准直层中，相对应的所述第一准直孔和所述第二准直孔至少部分连通以形成有效准直孔；以及/n驱动结构，与所述第一准直组件和/或所述第二准直组件驱动连接，以仅改变所述有效准直孔的宽度，并使相邻的所述第一准直层和所述第二准直层中相对应的所述第一准直孔和所述...

【技术特征摘要】
1.一种准直器，其特征在于，包括：
第一准直组件，包括若干第一准直层，所述第一准直层开设第一准直孔；
被设置为可与所述第一准直组件发生相对移动的第二准直组件，所述第二准直组件包括若干第二准直层，所述第二准直层开设第二准直孔，所述第一准直层和所述第二准直层的数量总和大于等于三层，所述第一准直层和所述第二准直层交替设置，每相邻的所述第一准直层和所述第二准直层中，相对应的所述第一准直孔和所述第二准直孔至少部分连通以形成有效准直孔；以及
驱动结构，与所述第一准直组件和/或所述第二准直组件驱动连接，以仅改变所述有效准直孔的宽度，并使相邻的所述第一准直层和所述第二准直层中相对应的所述第一准直孔和所述第二准直孔相互错开。


2.根据权利要求1所述的准直器，其特征在于，所述第一准直层在其延伸方向上均匀开设多个所述第一准直孔，所述第二准直层在其延伸方向上均匀开设多个所述第二准直孔，多个所述第一准直孔与多个所述第二准直孔一一对应。


3.根据权利要求1所述的准直器，其特征在于，所述第一准直组件的所述第一准直层为多个，且多个所述第一准直层固定连接。


4.根据权利要求3所述的准直器，其特征在于，所述准直器包括上板，所述上板与多个所述第一准直层的顶部固定连接，所述上板与相邻的两个所述第一准直层之间形成用于插入所述第二准直层的第一容置空间。


5.根据权利要求3或4所述的准直器，其特征在于，所述第二准直组件的所述第二准直层为多个，且多个所述第二准直层固定连接。


6.根据权利要求5所述的准直器，其特征在于，所述准直器包括下板，所述下板与多个所述第二准直层的底端固定连接，所述下板与相邻的两个所述第二准直层之间形成用于插入所述第一准直层的第二容置空间。


7.根据权利要求6所述的准直器，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖丹，王国宝，曾自强，张向阳，向益淮，杨誉，崔爱军，
申请(专利权)人：中国原子能科学研究院，
类型：发明
国别省市：北京;11